[發明專利]基于FLEX的平衡調制解調器測試電路

在審

• 申請號: 201410724486.3
• 申請日: 2014-12-04
• 公開（公告）號: CN105652180A
• 公開（公告）日: 2016-06-08
• 發明（設計）人: 許偉達;徐導進
• 申請（專利權）人: 上海精密計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海航天局專利中心 31107
• 代理人: 金家山

技術領域

本發明涉及集成電路測試技術，尤其涉及使用大規模集成電路測試系統MicroFLEX進行航天用平衡調制/解調器AD630測試的方法。

背景技術

AD630是平衡調制/解調器，每通道帶寬2Mhz，能從100dB噪聲中恢復信號，1khz互調干擾小于-120dB，可編程閉環增益±1，±2，閉環增益精度和匹配度0.05%，在航天型號中有廣泛的應用。然而，現有技術無法測試精度如此高又有動態參數測試要求的器件，無法實現動態參數、高精度的測試方法，并有較好的穩定性。

大規模集成電路測試系統MicroFLEX具有高速，高精度測試的功能，且有比較完善的窗口編輯界面，適合用于此類高速、高精度器件的測試，在FLEX上開發AD630的測試程序并設計相關測試線路，可較好地滿足測試要求。

因此，為了進行電性能測試，業界需要有高速，高精度的測試設備和測試線路。

發明內容

本發明旨在使用大規模集成電路測試系統MicroFLEX來進行平衡調制/解調器AD630的測試，解決了傳統無法測試既有調制器又有解調器測試要求的器件，實現了調制器、解調器的測試方法，并有較好的穩定性。

為了達成上述目的，提供了一種基于FLEX的平衡調制解調器測試電路，包括第一運算放大器，其包括放大器、比較器、集成輸出放大器；第二運算放大器，其包括放大器、比較器、集成輸出放大器；及其中，所述第一放大器和第二放大器具有兩路不同輸入通道，一個時間只有一路工作。

一些實施例中，還包括比較器電路。

一些實施例中，所述測試電路的繼電器連接USERPOWER5V和UDBxx。

一些實施例中，用DC30儀表提供器件電源。

一些實施例中，用三路運放測試儀表連接所述兩個運算放大器以及所述比較器電路。

本發明采用的電路與現有技術相比，其優點是：解決了傳統無法測試既有調制器又有解調器測試要求的器件，實現了調制器、解調器的測試方法，保證了測試的速度和精度，實現了穩定的小電流測試功能。

以下結合附圖，通過示例說明本發明主旨的描述，以清楚本發明的其他方面和優點。

附圖說明

結合附圖，通過下文的詳細說明，可更清楚地理解本發明的上述及其他特征和優點，其中：

圖1為根據本發明實施例的測試電路的方塊圖；及

圖2為根據本發明實施例的測試電路的電路圖。

具體實施方式

參見本發明具體實施例的附圖，下文將更詳細地描述本發明。然而，本發明可以以許多不同形式實現，并且不應解釋為受在此提出之實施例的限制。相反，提出這些實施例是為了達成充分及完整公開，并且使本技術領域的技術人員完全了解本發明的范圍。

現參考附圖詳細說明根據本發明實施例的一種基于FLEX的平衡調制解調器測試電路。

如圖1所示，根據本發明實施例的測試電路包括第一運算放大器，其包括放大器、比較器、集成輸出放大器；第二運算放大器，其包括放大器、比較器、集成輸出放大器；及其中，所述第一放大器和第二放大器具有兩路不同輸入通道，一個時間只有一路工作。

本發明設計了一種基于FLEX系統的測試線路。用不同角度理解AD630調制/解調器件的內部功能連接，把放大器、比較器、集成輸出放大器結合成一個運放電路。這個放大器由兩路不同輸入通道，一個時間只有一路工作。復雜電路簡單化，把AD630調制/解調器件看作兩個運算放大器、一個比較器分解測試。考慮到滿足高性能測試的要求，用DC30儀表提供器件電源，用三路運放測試資源提供兩個運放、一個比較器電路的測試，繼電器連接USERPOWER5V和UDBxx。

現參考圖2，詳細描述使用FLEX進行平衡調制/解調器AD630的測試電路。

電源電流（Is）：器件上電工作，用DC30通道加電壓測電流。

電源電壓抑制比（PSRR）：器件給±13.5V上電工作，選擇A路放大器，兩個輸入端同時接地，輸出設定1.4V，儀表內部運放環增益Gain設定10K，用PLMeter測量儀表內部OAL點電壓V1，改變器件工作電壓±16.5V，用PLMeter測量儀表內部OAL點電壓V2，計算PSRR=20*log(deltaV/(2*deltaVps)*Gain)。選擇B路放大器，用相同辦法測量PSRR。