[發明專利]測試治具

有效

• 申請號: 201410723816.7
• 申請日: 2014-12-03
• 公開（公告）號: CN104714057B
• 公開（公告）日: 2018-08-10
• 發明（設計）人: 顧偉正;魏豪;周嘉南;何志浩
• 申請（專利權）人: 旺矽科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 宋焰琴

一種測試治具，包含有一基板與復數導電彈片，該基板具有一凹槽及復數個線路，該凹槽自該基板的頂面凹陷形成，該些線路設于基板的頂面。該些導電彈片設置于該基板且分別電性連接該些線路，各該導電彈片具有一接觸部位于該凹槽的正投影范圍內，各該接觸部供接觸一待測電子對象的一接點。以此利用導電彈片傳輸測試訊號，可有效地減少傳輸高頻測試訊號時產生的衰減。

技術領域

本發明與電性測試器具有關；特別是指一種以導電彈片接觸待測電子對象的測試治具。

背景技術

按，目前用以檢測電子產品的各精密電子組件間的電性連接是否確實的方法，是以使用探針卡作為一檢測機與待測電子對象之間的測試訊號與電源訊號的傳輸接口。探針卡主要是由相互電性連接的探針與剛性的多層印刷電路板所構成，利用探針點觸待測電子對象的待測部位，再以檢測機傳送測試訊號至待測電子對象，以進行待測電子對象的電性檢測。

隨著電子科技的進步，待測電子對象的指令周期與每秒的訊號傳輸量日益增大，檢測機所輸出的測試訊號的頻率將隨之提升。然而，作為訊號傳輸接口的探針為細長的結構，具有較高的微量電感，在傳送高頻的測試訊號時將使得電路的阻抗值大幅提升，造成高頻的測試訊號大幅衰減，而容易有誤判測試訊號的情形產生。

發明內容

本發明的目的是提供一種測試治具，可有效地傳輸高頻測試訊號。

為實現上述目的，本發明提供的測試治具，用以接觸一待測電子對象，該待測電子對象具有復數個接點，該測試治具包括一基板與復數導電彈片，其中，該基板具有一頂面，該基板另具有一凹槽自該頂面凹陷形成，以及復數個線路設于該頂面；該些導電彈片設置于該基板上且分別電性連接于該些線路，各該導電彈片具有一接觸部位于該凹槽的正投影范圍內，且該接觸部供接觸該待測電子對象的一該接點。

本發明的效果在于，利用導電彈片傳輸測試訊號，可有效地減少傳輸高頻測試訊號時產生的衰減。

附圖說明

圖1為本發明一較佳實施例的測試治具立體圖。

圖2為本發明一較佳實施例的測試治具分解立體圖。

圖3為本發明一較佳實施例的測試治具局部俯視圖。

圖4為本發明一較佳實施例的局部放大俯視圖。

圖5為圖1中沿5-5線的剖視圖。

圖6為不同頻率的測試訊號通過一較佳實施例測試治具后的衰減關系圖。

附圖中符號說明：

1測試治具，10基板，10a頂面，10b底面，102凹槽，104訊號線路，106接地線路，108貫孔，12接頭，122訊號電極，124殼體，14導電彈片，142端部，144凸點，16緩沖墊，18基座，182螺孔，184穿孔，20彈性件，202螺紋管，202a開放端，204頂抵塊，206彈簧，22定位座，222容槽，224穿孔，24外殼，242錐孔，2待測電子對象，2a接點，S11反射損耗。

具體實施方式

為能更清楚地說明本發明，舉較佳實施例并配合附圖詳細說明如后。

請參閱圖1至圖5所示，為本發明一較佳實施例的測試治具1，該測試治具1是供電性連接一待測電子對象2，該待測電子對象2包含有一復數個接點2a，該測試治具1包含有一基板10、二接頭12、復數導電彈片14、一緩沖墊16、一基座18、一彈性件20、一定位座22與一外殼24。