[發明專利]眼科測量裝置和眼科測量程序

在審

• 申請號: 201410717827.4
• 申請日: 2014-12-01
• 公開（公告）號: CN104665762A
• 公開（公告）日: 2015-06-03
• 發明（設計）人: 瀧井通浩;河合規二
• 申請（專利權）人: 尼德克株式會社
• 主分類號: A61B3/107
• 分類號: A61B3/107;A61B3/10
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 魯山;孫志湧

相關申請的交叉引用

本申請要求2013年11月29日提交的日本專利申請No.2013-248476的優先權，其全部內容通過引用合并于此。

技術領域

本公開涉及測量被檢眼睛的眼科測量裝置、眼科測量方法和眼科測量程序。

背景技術

角膜后表面，例如，角膜后表面的曲率和形狀可以測量為被檢眼睛的眼科特性。例如，角膜后表面的曲率用于計算角膜屈光力，并且計算結果用于計算人工晶體度數。通常，通過分析使用諸如Scheimpflug攝像機和前房OCT裝置的裝置捕捉的角膜的截面圖像，獲取角膜后表面的特性。

在JP-A-2012-055337中公開了這種裝置的例子。

在相關技術的上述例子中，要求角膜的截面圖像。因此，要求用戶裝備捕捉角膜的截面圖像的裝置。

當使用Scheimpflug攝像機，在多個子午線方向中測量角膜時，應當旋轉光學系統以便獲得不同角度的截面圖像，由此這種裝置導致具有相當復雜的結構。由于前房OCT要求干涉光學系統和光學掃描儀，因此，前房OCT裝置相當昂貴。

發明內容

鑒于上述環境，做出了本公開，以及本公開的一個目的是提供用于測量被檢眼睛的角膜的眼科測量裝置和方法，其能使用具有簡單結構的裝置，獲取被檢眼睛的角膜后表面的信息。

根據本公開的說明性實施例，提供了一種眼科測量裝置，包括：投影光學系統，所述投影光學系統被配置成將圖案視標投影到被檢眼睛的角膜；設置有成像設備的成像光學系統，所述成像設備被配置成捕捉被檢眼睛的圖像，圖像包括第二浦肯雅圖像，第二浦肯雅圖像是由于從被檢眼睛的角膜后表面反射的圖案視標形成的視標圖像；連接到成像設備的處理器；以及存儲計算機可讀指令的存儲器，當由處理器執行時，使處理器充當：檢測單元，檢測單元被配置成從由成像設備捕捉的圖像檢測第二浦肯雅圖像；以及獲取單元，獲取單元被配置成基于由檢測單元檢測的第二浦肯雅圖像，獲取與被檢眼睛的角膜后表面有關的角膜后表面信息。

根據本公開的另一說明性實施例，提供了一種用于測量被檢眼睛的角膜的方法，該方法包括：將圖案視標投影到被檢眼睛的角膜；捕捉被檢眼睛的圖像，圖像包括第二浦肯雅圖像，第二浦肯雅圖像是由于從被檢眼睛的角膜后表面反射的圖案視標形成的視標圖像；從被檢眼睛的圖像檢測第二浦肯雅圖像；以及從被檢眼睛的圖像，基于從圖像檢測的第二浦肯雅圖像，獲取與被檢眼睛的角膜后表面有關的角膜后表面信息。

根據本公開，具有簡單結構的眼科測量裝置能獲取被檢眼睛的角膜后表面的信息。

附圖說明

在附圖中：

圖1是圖示根據實施例的眼科測量裝置的結構的示意圖；

圖2是由眼科測量裝置捕捉的前房圖像的示意圖；

圖3是圖示相對于眼科測量裝置的測量操作，CPU的處理的流程圖；

圖4是圖示前房信息獲取處理的流程圖；

圖5是描述計算角膜后表面的曲率半徑的方法的示意圖；以及

圖6是根據修改例子的前房圖像的示意圖。

具體實施方式

在下文中，將參考附圖，描述本公開的實施例。首先，將參考圖1，描述根據實施例的眼科測量裝置1的示意結構。

圖1所示的眼科測量裝置1測量被檢眼睛E的角膜后表面。如圖1所示，眼科測量裝置1設置有角質投影光學系統10、成像光學系統(光接收光學系統)20和控制器100。該實施例的眼科測量裝置1具有對準投影光學系統30、第二測量光學系統40和固定視標投影光學系統50。這些光學系統內置在附圖中未示出的殼體中。非常公知的對準移動機構使得殼體相對于被檢眼睛三維移動。例如，根據通過具有諸如操縱桿的用戶接口的操作臺，從檢查者(用戶)輸入的指令，可以移動殼體。

角質投影光學系統10將圖案視標(測量視標)投影(的光投影)在被檢眼睛E的角膜上。在實施例中，來自角質投影光學系統10的視標被用來測量角膜的后表面(背面)。例如，可以測量角膜后表面的形狀、曲率半徑和屈光力等等。例如，還可以測量角膜厚度和角膜后表面的散光軸角。如稍后將描述的，圖案視標可以用來測量角膜的前表面(正面)(例如，用來測量角膜前表面的形狀、曲率半徑、屈光力，以及角膜厚度和散光軸角)。