[發明專利]一種無損燈具散熱性能的測試裝置及方法

有效

• 申請號: 201410713336.2
• 申請日: 2014-11-27
• 公開（公告）號: CN104391004B
• 公開（公告）日: 2016-11-16
• 發明（設計）人: 張麥麗;張方輝;孫立蓉;牟強
• 申請（專利權）人: 陜西科技大學
• 主分類號: G01N25/20
• 分類號: G01N25/20;G01N25/18
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 蔡和平

技術領域

本發明屬于照明領域，具體涉及一種無損燈具散熱性能的測試裝置及方法。

背景技術

LED工作過程中15～25％的電能轉換成光能，其余的電能幾乎都轉換成熱能，使LED的溫度升高，當結溫上升超過最大溫度(150℃)，LED器件就會因過熱而損壞。大功率LED散熱性能的測量技術有很多，如紅外微相儀法、端電壓參數法、光譜法、管腳溫度法等。紅外微相儀法優點是測量比較方便，缺點是很容易受到LED封裝結構的影響，測量誤差比較大，響應速度比較慢，并且要求器件測量時應處于未封裝或開封的狀態，因此采用此方法測量LED散熱性能會對LED產生破壞性。光譜法是利用LED結溫升高時，LED的主波長就會向長波長漂移的現象來測量LED散熱性能，但其實用性和準確性有待評估。管腳溫度法是利用LED器件的熱輸運性質，通過測量管腳溫度和芯片耗散的熱功率，以及熱阻系數來確定LED散熱性能好壞。管腳溫度可以采用紅外熱像儀來準確獲得，只要知道LED的封裝結構就可以計算出被測LED的結溫。管腳溫度法的優點是可以通過其他的方法準確獲得管腳的溫度分布和芯片的耗散功率，結溫測試的精度也比較高，同樣具有非破壞性，但計算過程比較復雜。端電壓參數法是目前最常用的LED散熱性能測量方法。其原理是根據結溫與LED兩端正向電壓成正比關系的特性，通過測量正向電壓值而測出LED結溫。首先要確定大功率LED在較小電流下(一般取10mA)端電壓與溫度的對應關系，然后使LED處于正常工作狀態，每隔一定的時間，斷開電源，給LED一個測試電流脈沖，測出此時結溫下的LED兩端正向工作電壓，再根據電壓與溫度的對應關系，測出被測LED的結溫。端電壓參數法的特點是測試設備簡單、具有非破壞性、測試精度高和瞬態響應好。然而由于結溫是在小電流狀態下測量的，在實際工程中不能及時了解系統中正在運行的LED的實際結溫。

發明內容

本發明的目的在于提供一種無損燈具散熱性能的測試裝置及方法。

為達到上述目的，本發明采用了以下技術方案：

一種無損燈具散熱性能的測試裝置，包括絕熱箱體以及設置于絕熱箱體內的可以拆卸的絕熱擋板，所述絕熱擋板將絕熱箱體分隔為兩部分，絕熱擋板一側的絕熱箱體內設置有測溫裝置，且該側絕熱箱體的內壁上設置有光反射層，絕熱擋板另一側的絕熱箱體內設置有用于固定燈具的燈具支架，且該側絕熱箱體的內壁上設置有光吸收層。

所述光反射層采用白色全反射涂料涂層，所述光吸收層采用黑色涂層。

所述絕熱箱體內還設置有空氣循環系統。

一種無損燈具散熱性能的測試方法，包括以下步驟：

1)制作一個絕熱箱體，然后在絕熱箱體的一側內壁上設置光反射層，在絕熱箱體的另一側內壁上設置光吸收層；

2)經過步驟1)后，將設置于絕熱箱體內光吸收層一側的燈具點亮，點亮時間≤10min；

3)經過步驟2)后，關閉燈具，并利用絕熱擋板將絕熱箱體自光反射層與光吸收層的交界處分隔為兩部分，然后利用測溫裝置測量絕熱箱體內光反射層一側的溫度。

所述光反射層采用白色全反射涂料涂層，所述光吸收層采用黑色涂層。

所述步驟2)前，利用空氣循環系統使絕熱箱體內溫度達到均勻，然后點亮所述燈具。

本發明的有益效果體現在：

本發明在絕熱箱體提供的密閉環境中，將燈具點亮較短時間，并利用光反射層和光吸收層消除光輻射的影響，然后測量空間內空氣溫度，溫度高說明燈具散熱性能較好，采用本發明可以在不破換燈具的情況下迅速測量其散熱性能的好壞，所需設備簡單，操作容易，可以準確地測出燈具散熱性能的好壞。

附圖說明

圖1為燈具點亮時裝置示意圖；

圖2為測量時裝置示意圖；

圖中：1為絕熱箱體，2為燈具支架，3為絕熱擋板，4為測溫裝置，5為光反射層，6為光吸收層。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發明做詳細說明。

參見圖1以及圖2，本發明所述無損燈具散熱性能的測試裝置包括絕熱箱體1以及設置于絕熱箱體內的可以拆卸的絕熱擋板3，所述絕熱擋板將絕熱箱體1分隔為兩部分，絕熱擋板一側的絕熱箱體內設置有測溫裝置4，且該側絕熱箱體的內壁上設置有光反射層5，絕熱擋板另一側的絕熱箱體內設置有用于固定燈具的燈具支架2，且該側絕熱箱體的內壁上設置有光吸收層6，所述光反射層采用白色全反射涂料涂層，所述光吸收層采用黑色涂層，所述絕熱箱體1內還設置有空氣循環系統。