[發(fā)明專利]一種光子帶隙光纖陀螺中光纖環(huán)熔接點(diǎn)反射的測(cè)量裝置及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410713110.2
• 申請(qǐng)日: 2014-11-28
• 公開（公告）號(hào): CN104374410B
• 公開（公告）日: 2017-08-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 金靖;張智昊;宋凝芳;徐小斌;宋鏡明;張春熹
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京航空航天大學(xué)
• 主分類號(hào): G01C25/00
• 分類號(hào): G01C25/00
• 代理公司: 北京永創(chuàng)新實(shí)專利事務(wù)所11121
• 代理人: 趙文穎

1.一種光子帶隙光纖陀螺中光纖環(huán)熔接點(diǎn)反射的測(cè)量裝置，包括激光光源、耦合器、Y波導(dǎo)、光子帶隙光纖環(huán)、探測(cè)器、信號(hào)發(fā)生器、示波器；

激光光源的輸出尾纖與耦合器的O₁尾纖采用法蘭盤對(duì)接，耦合器的O₂端與探測(cè)器尾纖熔接，耦合器的O₃端與Y波導(dǎo)輸入尾纖熔接，Y波導(dǎo)輸出尾纖設(shè)有端面A和端面B，根據(jù)測(cè)量需要，選擇端面A或者端面B與光子帶隙光纖環(huán)尾纖熔接，熔點(diǎn)分別為A或者B，信號(hào)發(fā)生器為Y波導(dǎo)提供調(diào)制信號(hào)，利用示波器檢測(cè)探測(cè)器信號(hào)；

基于所述裝置的一種光子帶隙光纖陀螺中光纖環(huán)熔接點(diǎn)反射的測(cè)量方法，其特征在于，當(dāng)對(duì)光纖環(huán)熔接進(jìn)行在線測(cè)量時(shí)，具體為：

激光光源輸出的光經(jīng)過(guò)耦合器輸入到Y(jié)波導(dǎo)，信號(hào)發(fā)生器通過(guò)Y波導(dǎo)對(duì)光進(jìn)行鋸齒波調(diào)制，在熔接熔點(diǎn)A之前，測(cè)量反射光強(qiáng)I_C；在熔接熔點(diǎn)A點(diǎn)時(shí)，熔點(diǎn)產(chǎn)生的反射光強(qiáng)I_A對(duì)應(yīng)的反射光再次經(jīng)過(guò)Y波導(dǎo)調(diào)制后與耦合器C端反射光強(qiáng)I_C對(duì)應(yīng)的反射光發(fā)生干涉，通過(guò)示波器觀測(cè)探測(cè)器輸出，此時(shí)信號(hào)峰-峰值為V₁；熔點(diǎn)A反射光強(qiáng)I_A計(jì)算公式如下：

I_A＝(V₁/4)²/I_C

在熔接熔點(diǎn)B時(shí)，掐斷耦合器C端反射，反射光強(qiáng)I_A、I_B對(duì)應(yīng)的兩束反射光再次經(jīng)過(guò)Y波導(dǎo)調(diào)制后發(fā)生干涉，通過(guò)示波器觀測(cè)兩束光波的干涉信號(hào)，此時(shí)的最大峰-峰值為V₂；熔點(diǎn)B反射光強(qiáng)I_B計(jì)算公式如下：

I_B＝(V₂/4)²/I_A

當(dāng)測(cè)量已裝配完成的光子帶隙光纖陀螺中熔點(diǎn)反射強(qiáng)度，具體為：

激光光源輸出的光經(jīng)過(guò)耦合器輸入到Y(jié)波導(dǎo)，信號(hào)發(fā)生器通過(guò)Y波導(dǎo)對(duì)光進(jìn)行鋸齒波調(diào)制，在熔點(diǎn)A、熔點(diǎn)B產(chǎn)生的反射光強(qiáng)I_A、I_B對(duì)應(yīng)的兩束反射光再次經(jīng)過(guò)Y波導(dǎo)調(diào)制后與耦合器C端反射光強(qiáng)I_C對(duì)應(yīng)的反射光發(fā)生干涉，通過(guò)示波器觀測(cè)三束光波的干涉信號(hào)，此時(shí)的最大峰-峰值為V₃；將耦合器C端反射點(diǎn)掐斷，抑制耦合器C端點(diǎn)反射光，測(cè)量此時(shí)信號(hào)峰-峰值為V₄；熔點(diǎn)A、熔點(diǎn)B反射光滿足如下方程：

根據(jù)以上方程，得到熔點(diǎn)A、熔點(diǎn)B的反射光強(qiáng)如下：