[發(fā)明專利]基于數(shù)字光纖傳感器的ABS齒圈質(zhì)量檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410713002.5
• 申請日: 2014-11-28
• 公開（公告）號: CN104458762A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡佳成;王嬋媛;李東升;邵楊鋒
• 申請（專利權(quán)）人: 中國計(jì)量學(xué)院
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01B11/30
• 代理公司: 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200
• 代理人: 杜軍

1.基于數(shù)字光纖傳感器的ABS齒圈質(zhì)量檢測方法，該方法所涉及的裝置包括臺式電動旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、定位輪、數(shù)字光纖傳感器、傳感器支架、步進(jìn)電機(jī)，臺式電動旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)帶動定位輪旋轉(zhuǎn)，ABS齒圈套置在定位輪上，數(shù)字光纖傳感器架設(shè)在傳感器支架上并正對ABS齒圈設(shè)置，傳感器支架的高度由步進(jìn)電機(jī)調(diào)節(jié)；其特征在于：由數(shù)字光纖傳感器實(shí)現(xiàn)圓周節(jié)距誤差檢測，利用零點(diǎn)定位，每旋轉(zhuǎn)到零點(diǎn)位置，步進(jìn)電機(jī)帶動數(shù)字光纖傳感器在豎直方向上步進(jìn)一個單位長度，實(shí)現(xiàn)對ABS齒圈齒面缺陷的完整掃描檢測。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于數(shù)字光纖傳感器的ABS齒圈質(zhì)量檢測方法，其特征在于：圓周節(jié)距誤差檢測具體是：

數(shù)字光纖傳感器，發(fā)射紅光照射在齒輪上，根據(jù)反射回來的光強(qiáng)度大小來輸出高電平或低電平，由單片機(jī)的定時器模塊的捕獲/比較寄存器捕獲高低電平脈寬，高電平脈寬和低電平脈寬分別對應(yīng)齒頂寬度和齒槽寬度，并通過數(shù)據(jù)處理來實(shí)現(xiàn)節(jié)距誤差的檢測。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于數(shù)字光纖傳感器的ABS齒圈質(zhì)量檢測方法，其特征在于：所述的零點(diǎn)定位具體是：

根據(jù)設(shè)定的臺式電動旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)旋轉(zhuǎn)角速度，計(jì)算旋轉(zhuǎn)一圈所需要的時間T，當(dāng)臺式電動旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)開始旋轉(zhuǎn)時，單片機(jī)開始計(jì)時，經(jīng)過時間T，電機(jī)回到零點(diǎn)，即通過單片機(jī)軟件算法實(shí)現(xiàn)下一圈零點(diǎn)的定位。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于數(shù)字光纖傳感器的ABS齒圈質(zhì)量檢測方法，其特征在于：所述的齒面缺陷的完整掃描檢測具體是：

臺式電動旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)每旋轉(zhuǎn)一圈，步進(jìn)電機(jī)帶動數(shù)字光纖傳感器迅速沿豎直方向上移動一個單位步進(jìn)長度，再開始新的一圈掃描檢測，直至完成對整個ABS齒圈齒面的掃描，從而實(shí)現(xiàn)對ABS齒圈齒面的缺陷檢測。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于數(shù)字光纖傳感器的ABS齒圈質(zhì)量檢測方法，其特征在于：數(shù)據(jù)處理來實(shí)現(xiàn)節(jié)距誤差的檢測具體是：

利用單片機(jī)通過定時器模塊的捕獲/比較寄存器捕獲脈沖信號的上升沿發(fā)生的時間和下降沿發(fā)生的時間，通過計(jì)算獲得高電平脈寬和低電平脈寬；分別保存為兩數(shù)組，高電平脈寬為a_i，低電平脈寬為b_j，并求得高電平脈寬平均值A(chǔ)，低電平脈寬平均值B，各高電平脈寬誤差為?(a_i-A)/A*100%,各低電平脈寬誤差為(b_j-B)/B*100%，最后求得最大偏差，判斷其是否合格。