[發(fā)明專利]一種便攜式吸波涂層反射率自校準(zhǔn)測(cè)試探頭

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410712618.0
• 申請(qǐng)日: 2014-12-01
• 公開（公告）號(hào): CN105717138A
• 公開（公告）日: 2016-06-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 魏平;鄧樂武;孟瑩;吳杰;李華軍;張雷;鄧素芬;陳敬;鄧勇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 成都飛機(jī)工業(yè)（集團(tuán)）有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01N22/00
• 分類號(hào): G01N22/00
• 代理公司: 成飛(集團(tuán))公司專利中心 51121
• 代理人: 梁義東

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及雷達(dá)波的測(cè)量領(lǐng)域，具體涉及吸波涂層反射率測(cè)試技術(shù)。

背景技術(shù)

除外形隱身技術(shù)外，材料隱身是當(dāng)前實(shí)現(xiàn)飛機(jī)隱身、減小雷達(dá)散射截面 (RCS)的一種最重要、最有效的技術(shù)手段。曾經(jīng)有專家評(píng)估說材料隱身技術(shù)可 以占飛機(jī)整體隱身技術(shù)作用的30％，由此可見材料隱身技術(shù)的重要性。材料隱 身技術(shù)中其中很重要的一項(xiàng)就是雷達(dá)吸波涂層應(yīng)用，雷達(dá)吸波涂層在需要頻段 內(nèi)吸波性能的好壞是其中的關(guān)鍵，吸波性能的好壞的判定指標(biāo)就是對(duì)涂層材料 反射率的測(cè)試，因此對(duì)雷達(dá)吸波涂層反射率準(zhǔn)確的測(cè)量和判定評(píng)估是飛機(jī)實(shí)現(xiàn) 隱身效果的一個(gè)很重要的保證。

目前，按照國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)對(duì)雷達(dá)吸波涂層反射率測(cè)試的要求，可以在室內(nèi) 應(yīng)用例如RCS法、弓形法等幾種典型的方法對(duì)雷達(dá)吸波涂層材料平板進(jìn)行性能 測(cè)試。但是國(guó)軍標(biāo)中的方法都只適用于實(shí)驗(yàn)室內(nèi)材料樣品，不能應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)裝 機(jī)后的材料反射率性能測(cè)量。吸波涂層均有一定壽命，而且會(huì)受到日常使用中 的各種腐蝕和磕碰等影響，其性能經(jīng)常變化，因此利用現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試手段測(cè)量其在 線反射率非常必要。另一方面，生產(chǎn)過程中吸波涂層的涂敷工藝，特別是涂敷 厚度是否均勻，對(duì)吸波性能影響很大，需要對(duì)已經(jīng)涂敷在裝備表面的涂層進(jìn)行 測(cè)量以確保其性能可靠。

目前條件下，在試驗(yàn)室條件進(jìn)行的吸波涂層反射率測(cè)量對(duì)于研發(fā)階段和裝 機(jī)前的材料性能檢查是夠用的，但是要想在生產(chǎn)過程中和日常使用中對(duì)涂層進(jìn) 行測(cè)量，目前還沒有相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定的試驗(yàn)方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，采用對(duì)比測(cè)試方法制作一種便 攜式吸波涂層反射率自校準(zhǔn)測(cè)試儀探頭，適用于現(xiàn)場(chǎng)的快速測(cè)量。

為了達(dá)到上述的技術(shù)效果，本發(fā)明采取以下技術(shù)方案：一種便攜式吸波涂 層反射率自校準(zhǔn)測(cè)試探頭，它包括盒蓋、盒體、電路板和喇叭。所述盒體由底 板和四個(gè)側(cè)板組成，任一所述側(cè)板上設(shè)有若干端口，盒體的上端開口。所述盒 蓋蓋于盒體開口之上，與盒體形成密封空腔，所述電路板置于密封空腔內(nèi)，電 路板上集成有射頻電路；所述射頻電路和盒體的側(cè)板上的端口電連接。所述喇 叭采用波導(dǎo)結(jié)構(gòu)，連接于盒體的底板上。

進(jìn)一步的技術(shù)方案是：所述射頻電路和盒體一體化封裝。

進(jìn)一步的技術(shù)方案是：它還包括與自校準(zhǔn)測(cè)試探頭配合的校準(zhǔn)配件。

進(jìn)一步的技術(shù)方案是：所述校準(zhǔn)配件是三種已知阻抗值的負(fù)載。

進(jìn)一步的技術(shù)方案是：所述負(fù)載為開路負(fù)載，短路負(fù)載和完全匹配負(fù)載。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下的有益效果：便攜式吸波涂層反射率自 校準(zhǔn)測(cè)試儀探頭在現(xiàn)場(chǎng)使用時(shí)無須校準(zhǔn)。由于使用了射頻集成電路，以及射頻 電路和探頭一體化封裝的結(jié)構(gòu)形式，使得微波系統(tǒng)電路的溫度的一致性，長(zhǎng)期 使用的一致性得到了極大的保證。所以，采用出廠前一次性校準(zhǔn)和定期校準(zhǔn)檢 查的方式，一勞永逸的解決日常使用中的校準(zhǔn)問題，為現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行的快速測(cè)量帶 來很大方便。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的拼裝分解圖；

圖2是本發(fā)明整體結(jié)構(gòu)圖；

圖3是本發(fā)明校準(zhǔn)誤差模型示意圖；

圖4是本發(fā)明校準(zhǔn)前探頭校準(zhǔn)界面圖；

圖5是本發(fā)明校準(zhǔn)完成后探頭校準(zhǔn)界面圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合本發(fā)明的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的闡述和說明。

實(shí)施例：

如圖1、圖2所示，一種便攜式吸波涂層反射率自校準(zhǔn)測(cè)試探頭，它包括盒 蓋1、盒體2、電路板3和喇叭4。盒體2由底板和四個(gè)側(cè)板組成，任一所述側(cè) 板上設(shè)有若干端口，盒體2的上端開口。盒蓋1蓋于盒體2開口之上，與盒體2 形成密封空腔，電路板3置于密封空腔內(nèi)，電路板3上集成有射頻電路；射頻 電路和盒體2的側(cè)板上的端口電連接，可優(yōu)選為射頻電路和盒體2一體化封裝。 喇叭4采用波導(dǎo)結(jié)構(gòu)，連接于盒體2的底板上。

便攜式吸波涂層反射率自校準(zhǔn)測(cè)試儀探頭在現(xiàn)場(chǎng)使用時(shí)無須校準(zhǔn)。由于使 用了射頻集成電路，以及射頻電路和探頭一體化封裝的結(jié)構(gòu)形式，使得微波系 統(tǒng)電路的溫度的一致性，長(zhǎng)期使用的一致性得到了極大的保證。所以，采用出 廠前一次性校準(zhǔn)和定期校準(zhǔn)檢查的方式，一勞永逸的解決日常使用中的校準(zhǔn)問 題，為現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行的快速測(cè)量帶來很大方便。