[發明專利]容器的印跡或涂層的固化程度的測量

在審

• 申請號: 201410710509.5
• 申請日: 2014-11-28
• 公開（公告）號: CN104697927A
• 公開（公告）日: 2015-06-10
• 發明（設計）人: 安德烈亞斯·松瑙爾;弗洛里安·勞特巴赫
• 申請（專利權）人: 克朗斯股份公司
• 主分類號: G01N21/00
• 分類號: G01N21/00
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 楊靖;車文

1.用于測量容器(4)的具有輻射固化顏料或輻射固化漆的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其特征在于，光學地在容器(4)上進行所述測量。

2.根據權利要求1所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，非接觸式地進行所述測量。

3.根據權利要求1或2所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，無破壞地進行所述測量。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，結果能離散地配屬于所述容器的印刷過程或涂覆過程。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，分揀出所述印跡或涂層(10)的固化程度不足的容器(4)。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，測量的結果用于控制在針對接下來的容器(4)的印刷或涂覆和/或固化輻射固化顏料或輻射固化漆時的參數。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，重復測量固化程度的頻率大于0.02Hz。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，所述測量捕獲所述印跡或涂層(10)的點、行、更大的行區域或者面式的區域。

9.根據權利要求1至8中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，自動地進行評估。

10.根據權利要求1至9中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，所述測量允許得出關于固化程度的定量的結論。

11.根據權利要求1至10中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，所述方法包括訓練步驟，在所述訓練步驟中，將測量值根據待測量的容器種類和/或一種或多種輻射固化顏料和/或一種或多種輻射固化漆和/或所述印跡或涂層(10)的厚度來校準。

12.根據權利要求1至11中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，在所述測量時，應用一種或多種下列技術或器件：

NIR和/或MIR分光術；

NIR相機；

UV-Vis分光術；

熒光分光術；

拉曼分光術。

13.根據權利要求1至12中任一項所述的用于測量容器(4)的印跡或涂層(10)的固化程度的方法，其中，所述容器(4)在測量過程期間做運動并且/或者來自輻射源(2)的用于測量的輻射(3)的入射位置(11)在測量期間在豎直和/或水平方向上變化。

14.包括用于執行根據權利要求1至13中任一項所述的方法的器件的裝置，所述裝置具有針對用于測量的輻射(3a)的輻射源(2)以及針對輻射(3b)的探測器(5)。

15.計算機介質，其包括計算機可讀指令，所述指令當由計算機實施時能夠控制根據權利要求1至13中任一項所述的方法的執行和/或控制根據權利要求14所述的裝置。