[發明專利]一種基于模糊聚類的多錯誤定位方法

在審

• 申請號: 201410710127.2
• 申請日: 2014-11-28
• 公開（公告）號: CN104536879A
• 公開（公告）日: 2015-04-22
• 發明（設計）人: 陳振宇;馮洋;王晨;楊浩宇;張智軼
• 申請（專利權）人: 南京慕測信息科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 南京天翼專利代理有限責任公司 32112
• 代理人: 奚銘

1.一種基于模糊聚類的多錯誤定位方法，其特征是程序當中存在至少一個錯誤，使用模糊聚類技術對程序特征信息進行聚類，然后結合缺陷定位技術，依據聚類結果對程序錯誤進行定位，包括以下步驟：

1)對程序運行所有測試用例，收集執行剖面，執行剖面中的每一個屬性都代表程序當中的一個函數，將執行剖面用向量來表示，向量中的數值代表屬性對應的函數是否被調用；

2)模糊聚類，采用FCM聚類方法，輸入為由執行剖面得到的向量集合X、設定的類簇數量c和距離函數，距離函數采用歐式距離；聚類算法最終返回一個關系矩陣，所述關系矩陣的行表示某個執行剖面分別屬于c個類簇的可能性，如果可能性大于設定的閾值，就認為執行剖面屬于這個類簇，一個執行剖面可以屬于多個類簇；

3)錯誤定位，使用Spectrum-Based錯誤定位技術來測試各個類簇，根據和測試用例相關的函數的四個覆蓋參數來進行計算，四個覆蓋參數分別是

a_np：沒有執行這個函數并且通過的測試用例個數；

a_nf：沒有執行這個函數并且失效的測試用例個數；

a_ep：執行這個函數并且通過的測試用例個數；

a_ef：執行這個函數并且失效的測試用例個數；

四個參數之和等于測試用例集的大小，根據采用的排序指標為每一個函數計算權重，所述權重代表了函數出錯可能性的大小，按照函數出錯可能性從大到小排列，獲取風險排列表，找出最有可能出錯的位置。

2.根據權利要求1所述的一種基于模糊聚類的多錯誤定位方法，其特征是步驟3)中采用以下三種方法之一來計算權重：

1)Tarantula：

2)Naish2：

3)Russel&Rao：

其中，執行了函數f_t且通過了的測試用例個數；

執行了函數f_t但是結果為失敗的測試用例個數；

沒有執行函數f_t結果為通過的測試用例個數；

沒有執行函數f_t結果為失敗的測試用例個數；

t為函數的標號，表示第t個函數。