[發明專利]用于測試多用戶多入多出系統的系統和方法

有效

• 申請號: 201410709758.2
• 申請日: 2014-11-28
• 公開（公告）號: CN105634632B
• 公開（公告）日: 2022-08-26
• 發明（設計）人: 孔宏偉;景雅;趙旭
• 申請（專利權）人: 是德科技股份有限公司
• 主分類號: H04B17/336
• 分類號: H04B17/336
• 代理公司: 北京坤瑞律師事務所 11494
• 代理人: 封新琴

1.一種測試待測試設備的方法，所述方法包括：

生成多個獨立信號；

將第一衰落信道特征應用于所述獨立信號，以生成多個第一衰落測試信號；

將所述多個第一衰落測試信號提供給所述待測試設備DUT的一個或多個信號輸入接口；

將第二衰落信道特征應用于所述DUT的多個輸出信號，以生成多個第二衰落測試信號，其中，根據所述第一衰落信道特征推導出所述第二衰落信道特征，且所述第二衰落信道特征是所述第一衰落信道特征的互反或逆；以及

利用一個或多個測試儀器，根據所述多個第二衰落測試信號測量所述DUT的至少一個性能特征。

2.如權利要求1所述的方法，其中，測量至少一個性能特征包括：測量所述DUT的多個信道的信干噪比SINR。

3.如權利要求2所述的方法，還包括：

改變所述第一衰落信道特征和所述第二衰落信道特征中的至少一個；和

利用改變后的所述第一衰落信道特征和所述第二衰落信道特征中的至少一個來測量所述DUT的所述多個信道的SINR。

4.如權利要求1所述的方法，其中，將所述多個第一衰落測試信號提供給所述DUT的一個或多個信號輸入接口包括：經由所述DUT的光學基帶輸入將所述多個第一衰落測試信號提供給所述DUT的一個或多個信號輸入接口。

5.如權利要求1所述的方法，還包括：將所述DUT的一個或多個基帶輸出信號提供給各測試儀器之一，并且響應于所述多個第一衰落測試信號來測量所述DUT的基帶處理模塊的至少一個性能特征。

6.如權利要求1所述的方法，其中，將所述第一衰落信道特征應用于各獨立信號中的每一個以生成所述多個第一衰落測試信號包括：

將所述第一衰落信道特征應用于各獨立信號中的每一個，以生成多個衰落基帶上行鏈路信號；以及

將所述多個衰落基帶上行鏈路信號應用于一個或多個RF信號生成器，以生成所述多個第一衰落測試信號作為RF信號。

7.如權利要求6所述的方法，其中，將所述多個衰落基帶上行鏈路信號應用于一個或多個RF信號生成器以生成所述多個第一衰落測試信號包括：將各獨立信號中的每一個提供給所述RF信號生成器中的對應一個，其中，每個RF信號生成器生成所述第一衰落測試信號中的對應一個作為對應RF信號。

8.如權利要求7所述的方法，其中，所述DUT包括多入多出MIMO收發機，并且其中，將所述多個第一衰落測試信號提供給所述DUT的一個或多個信號輸入接口包括：將所述多個第一衰落測試信號提供給所述MIMO收發機的多個RF輸入。

9.如權利要求6所述的方法，其中，所述一個或多個測試儀器包括一個或多個RF測試儀器，所述方法還包括：將所述DUT的一個或多個RF輸出信號作為一個或多個輸入信號提供給所述一個或多個RF測試儀器，并且其中，根據所述多個第二衰落測試信號測量所述DUT的至少一個性能特征包括：利用所述一個或多個RF測試儀器來測量所述DUT的RF處理模塊的至少一個性能特征。

10.如權利要求6所述的方法，其中，所述一個或多個測試儀器包括一個或多個RF測試儀器，所述方法還包括：

將所述DUT的一個或多個RF輸出信號提供給所述一個或多個RF測試儀器；以及

使用所述一個或多個RF測試儀器來測量所述DUT的所述至少一個性能特征。