[發(fā)明專利]連接端口測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410698183.9
• 申請(qǐng)日: 2014-11-27
• 公開（公告）號(hào): CN104391200A
• 公開（公告）日: 2015-03-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 呂學(xué)智
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)科技有限公司;英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237
• 代理人: 余毅勤

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種連接端口測(cè)試裝置，特別涉及一種額外提供周邊裝置接設(shè)的連接端口測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

當(dāng)測(cè)試人員測(cè)試電子裝置的通用序列總線連接端口時(shí)，有些必須使用的周邊裝置(例如掃描儀、鼠標(biāo)或鍵盤)已插設(shè)于通用序列總線連接端口上。測(cè)試人員需要重復(fù)經(jīng)過(guò)多次的插拔才能檢測(cè)到每一個(gè)通用序列總線連接端口，或是選擇性的從沒有插設(shè)周邊裝置的通用序列總線連接端口中，挑取幾個(gè)通用序列總線連接端口來(lái)進(jìn)行測(cè)試，造成檢查覆蓋率不高的問(wèn)題，進(jìn)而影響電子裝置出貨的質(zhì)量。

有鑒于現(xiàn)有測(cè)試通用序列總線連接端口檢查覆蓋率不高的問(wèn)題，有必要發(fā)明一種更為便利的連接端口測(cè)試裝置，增加測(cè)試效率，進(jìn)而提升通用序列總線連接端口檢查覆蓋率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種連接端口測(cè)試裝置，除了可以執(zhí)行接口測(cè)試程序之外，更提供額外的連接部，使得周邊裝置可接設(shè)于所述連接端口測(cè)試裝置上，從而連接端口測(cè)試裝置可以選擇性地控制周邊裝置。藉此，本發(fā)明的連接端口測(cè)試裝置提升了測(cè)試時(shí)的方便性，也達(dá)到提高測(cè)試覆蓋率的效果。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種連接端口測(cè)試裝置，運(yùn)用于測(cè)試電子裝置的通用序列總線連接端口。所述連接端口測(cè)試裝置設(shè)有第一連接部、第二連接部及控制模塊。第一連接部可插拔地耦接于電子裝置的通用序列總線連接端口上，第二連接部亦可插拔地耦接于外部的周邊裝置，而控制模塊則分別耦接第一連接部與第二連接部，用以選擇性地經(jīng)由第二連接部控制周邊裝置，或選擇性地執(zhí)行一接口測(cè)試程序。

在本發(fā)明一實(shí)施例中，所述連接端口測(cè)試裝置更包含一個(gè)用以重置所述連接端口測(cè)試裝置的重置模塊，當(dāng)控制模塊經(jīng)由第一連接部從電子裝置下載一個(gè)第一固件程序時(shí)，重置模塊可重置所述連接端口測(cè)試裝置，使得重置后的控制模塊用以控制周邊裝置。此外，當(dāng)控制模塊經(jīng)由第一連接部從電子裝置下載另一個(gè)第二固件程序時(shí)，重置模塊便會(huì)重置所述連接端口測(cè)試裝置，使得重置后的控制模塊可對(duì)電子裝置的通用序列總線連接端口執(zhí)行接口測(cè)試程序。

本發(fā)明另一實(shí)施例中，所述連接端口測(cè)試裝置更包含儲(chǔ)存單元，用以接收儲(chǔ)存如前一實(shí)施例所述的固件程序，或預(yù)先儲(chǔ)存固件程序于儲(chǔ)存單元中，提供所述連接端口測(cè)試裝置切換進(jìn)行控制周邊裝置或執(zhí)行接口測(cè)試程序使用。所述連接端口測(cè)試裝置切換進(jìn)行控制周邊裝置或執(zhí)行接口測(cè)試程序是以一個(gè)控制信號(hào)來(lái)執(zhí)行。

此外，所述連接端口測(cè)試裝置第二連接部除了執(zhí)行用以控制周邊裝置外，亦可更進(jìn)一步執(zhí)行周邊裝置的一周邊裝置測(cè)試程序。

綜上，藉由第二連接部的擴(kuò)增，所述連接端口測(cè)試裝置除了用以執(zhí)行接口測(cè)試程序外，更可使周邊裝置接設(shè)于所述連接端口測(cè)試裝置上，供連接端口測(cè)試裝置可以選擇性地控制周邊裝置。藉此增加連接端口測(cè)試裝置的方便性，提高使用者測(cè)試通用序列總線連接端口的效率，進(jìn)而達(dá)到提高測(cè)試覆蓋率的效果。

以上的關(guān)于本發(fā)明內(nèi)容的說(shuō)明及以下之實(shí)施方式的說(shuō)明是用以示范與解釋本發(fā)明的原理，并且提供本發(fā)明的專利申請(qǐng)范圍更進(jìn)一步的解釋。

附圖說(shuō)明

圖1為根據(jù)本揭露一實(shí)施例的電子裝置、連接端口測(cè)試裝置與周邊裝置互相連接關(guān)系的方塊示意圖。

圖2為根據(jù)本揭露一實(shí)施例的電子裝置、連接端口測(cè)試裝置與周邊裝置互相連接關(guān)系及各裝置內(nèi)部組件之間連接關(guān)系的方塊示意圖。

圖3為根據(jù)本揭露另一實(shí)施例的電子裝置、連接端口測(cè)試裝置與周邊裝置互相連接關(guān)系及各裝置內(nèi)部組件之間連接關(guān)系的方塊示意圖。

圖4為根據(jù)本揭露再一實(shí)施例的電子裝置、連接端口測(cè)試裝置與周邊裝置互相連接關(guān)系及各裝置內(nèi)部組件之間連接關(guān)系的方塊示意圖。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明提出的連接端口測(cè)試裝置作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。根據(jù)下面說(shuō)明和權(quán)利要求書，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚。需說(shuō)明的是，附圖均采用非常簡(jiǎn)化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例，僅用以方便、明晰地輔助說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的目的。

請(qǐng)一并參照?qǐng)D1與圖2，圖1為根據(jù)本揭露一實(shí)施例的電子裝置、連接端口測(cè)試裝置與周邊裝置互相連接關(guān)系的方塊示意圖，圖2為根據(jù)本揭露一實(shí)施例的電子裝置、連接端口測(cè)試裝置與周邊裝置互相連接關(guān)系及各裝置內(nèi)部組件之間連接關(guān)系的方塊示意圖。如圖1和2所示，電子裝置11上設(shè)有至少一通用序列總線連接端口111a～111d，以下將以通用序列總線連接端口111a、連接端口測(cè)試裝置12a及周邊裝置13a為例進(jìn)行說(shuō)明。