[發(fā)明專利]一種設(shè)備故障診斷方法和裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410697227.6
• 申請(qǐng)日: 2015-08-04
• 公開（公告）號(hào): CN104506137A
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李曉瑞;劉寶林;王修業(yè);陳春霖;李光輝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京金鴻泰科技有限公司
• 主分類號(hào): H02S50/10
• 分類號(hào): H02S50/10
• 代理公司: 北京潤(rùn)澤恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11319
• 代理人: 劉祥景

1.一種設(shè)備故障診斷方法，其特征在于，包括：

周期性采集設(shè)備在一個(gè)時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行參數(shù)；

依據(jù)該設(shè)備中各設(shè)備單元在該時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行參數(shù)，分析得到該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)偏差；

依據(jù)該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)偏差，確定該設(shè)備中各設(shè)備單元在該時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行性能。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述依據(jù)該設(shè)備中各設(shè)備單元在該時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行參數(shù)，分析得到該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)偏差的步驟，包括：

統(tǒng)計(jì)該設(shè)備中所有設(shè)備單元在同一時(shí)刻點(diǎn)的性能指標(biāo)均值；

針對(duì)該設(shè)備中各設(shè)備單元，統(tǒng)計(jì)其在各時(shí)刻點(diǎn)的性能指標(biāo)相對(duì)于對(duì)應(yīng)時(shí)刻點(diǎn)的性能指標(biāo)均值的偏差，作為其在各時(shí)刻點(diǎn)的性能指標(biāo)偏差。

3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述依據(jù)該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)偏差，確定該設(shè)備中各設(shè)備單元在該時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行性能的步驟，包括：

比較該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)偏差與預(yù)置的門限參數(shù)，得到相應(yīng)的比較結(jié)果；

在該設(shè)備中某設(shè)備單元的比較結(jié)果符合預(yù)置運(yùn)行性能的條件時(shí)，判定該設(shè)備中該設(shè)備單元該時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行性能為該預(yù)置運(yùn)行性能。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述運(yùn)行參數(shù)包括：電流參數(shù)、溫度參數(shù)和功率參數(shù)中的一種或多種。

5.如權(quán)利要求1或2或3或4所述的方法，其特征在于，該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)包括：設(shè)備單元電流、設(shè)備單元單位容量電流、設(shè)備單元溫度、設(shè)備單元輸出功率和設(shè)備單元單位容量輸出功率中的一種或多種。

6.一種設(shè)備故障診斷裝置，其特征在于，包括：

采集模塊，用于周期性采集設(shè)備在一個(gè)時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行參數(shù)；

分析模塊，用于依據(jù)該設(shè)備中各設(shè)備單元在該時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行參數(shù)，分析得到該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)偏差；及

確定模塊，用于依據(jù)該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)偏差，確定該設(shè)備中各設(shè)備單元在該時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行性能。

7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述分析模塊，包括：

第一統(tǒng)計(jì)單元，用于統(tǒng)計(jì)該設(shè)備中所有設(shè)備單元在同一時(shí)刻點(diǎn)的性能指標(biāo)均值；及

第二統(tǒng)計(jì)單元，用于針對(duì)該設(shè)備中各設(shè)備單元，統(tǒng)計(jì)其在各時(shí)刻點(diǎn)的性能指標(biāo)相對(duì)于對(duì)應(yīng)時(shí)刻點(diǎn)的性能指標(biāo)均值的偏差，作為其在各時(shí)刻點(diǎn)的性能指標(biāo)偏差。

8.如權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于，所述確定模塊，包括：

比較單元，用于比較該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)偏差與預(yù)置的門限參數(shù)，得到相應(yīng)的比較結(jié)果；及

判定單元，用于在該設(shè)備中某設(shè)備單元的比較結(jié)果符合預(yù)置運(yùn)行性能的條件時(shí)，判定該設(shè)備中該設(shè)備單元該時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)行性能為該預(yù)置運(yùn)行性能。

9.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述運(yùn)行參數(shù)包括：電流參數(shù)、溫度參數(shù)和功率參數(shù)中的一種或多種。

10.如權(quán)利要求6或7或8或9所述的裝置，其特征在于，該設(shè)備中各設(shè)備單元的性能指標(biāo)包括：設(shè)備單元電流、設(shè)備單元單位容量電流、設(shè)備單元溫度、設(shè)備單元輸出功率和設(shè)備單元單位容量輸出功率中的一種或多種。