[發(fā)明專利]一種評估通信網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)合理性的方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410696176.5
• 申請日: 2014-11-26
• 公開（公告）號: CN104333492A
• 公開（公告）日: 2015-02-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 龍青良;陳崴嵬;黃志勇;王睿;苗守野;李巍;史文祥;張磊;張成強;陸鈞
• 申請（專利權(quán)）人: 中國聯(lián)合網(wǎng)絡(luò)通信集團有限公司
• 主分類號: H04L12/26
• 分類號: H04L12/26;H04L12/24;H04W24/02
• 代理公司: 北京中博世達專利商標(biāo)代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種評估通信網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)合理性的方法，其特征在于，包括：

獲取在待評估區(qū)域內(nèi)的第一采樣點采集的小區(qū)的參考信號接收功率RSRP，并根據(jù)所述第一采樣點采集到的小區(qū)的RSRP，確定所述第一采樣點上的第一小區(qū)；所述第一采樣點為所述待評估區(qū)域內(nèi)的任一采樣點，所述第一小區(qū)的RSRP大于在所述第一采樣點采集的第二小區(qū)的RSRP，所述第二小區(qū)為所述第一采樣點上除所述第一小區(qū)之外的任一小區(qū)；

根據(jù)所述第一小區(qū)的RSRP、所有所述第二小區(qū)RSRP以及預(yù)設(shè)RSRP門限值，計算所述第一采樣點的重疊覆蓋度，所述第一采樣點的重疊覆蓋度用于表征所述第一采樣點上的信號覆蓋情況；

根據(jù)所述第一小區(qū)的RSRP、所有所述第二小區(qū)的RSRP、預(yù)設(shè)干擾強度門限值以及所述第一采樣點的重疊覆蓋度，計算所述第一采樣點的鄰區(qū)干擾強度，所述第一采樣點的鄰區(qū)干擾強度用于表征所述第一采樣點上接收到的信號干擾強度；

根據(jù)所述待評估區(qū)域內(nèi)的所有所述第一采樣點的重疊覆蓋度和所有所述第一采樣點的鄰區(qū)干擾強度，對所述待評估區(qū)域內(nèi)的通信網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的合理性進行評估。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一小區(qū)的RSRP、所有所述第二小區(qū)RSRP以及預(yù)設(shè)RSRP門限值，計算所述第一采樣點的重疊覆蓋度，包括：

計算所述第一小區(qū)的RSRP與每個所述第二小區(qū)的RSRP的差值；

統(tǒng)計所述第一小區(qū)的RSRP與所述第二小區(qū)的RSRP的差值小于所述預(yù)設(shè)RSRP門限值的所述第二小區(qū)的個數(shù)，并將統(tǒng)計得到的所述第二小區(qū)的個數(shù)確定為所述第一采樣點的重疊覆蓋度。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述待評估區(qū)域內(nèi)的所有所述第一采樣點的重疊覆蓋度和所有所述第一采樣點的鄰區(qū)干擾強度，對所述待評估區(qū)域內(nèi)的通信網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的合理性進行評估，包括：

統(tǒng)計所述待評估區(qū)域內(nèi)的第二采樣點的個數(shù)，所述第二采樣點為所述待評估區(qū)域內(nèi)的所述重疊覆蓋度大于重疊覆蓋度閾值，且所述鄰區(qū)干擾強度大于干擾強度閾值的所述第一采樣點；

計算所述第二采樣點的個數(shù)在所述待評估區(qū)域內(nèi)的所述第一采樣點的總數(shù)中所占的百分比；

若計算的百分比大于預(yù)設(shè)合理性閾值，則確定所述待評估區(qū)域內(nèi)的通信網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)不合理。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一小區(qū)的RSRP、所有所述第二小區(qū)的RSRP、預(yù)設(shè)干擾強度門限值以及所述第一采樣點的重疊覆蓋度，計算所述第一采樣點的鄰區(qū)干擾強度，包括：

計算所述第一小區(qū)的RSRP與每個所述第二小區(qū)的RSRP的差值；

根據(jù)計算得到的差值、所述預(yù)設(shè)干擾強度門限值以及所述第一采樣點的重疊覆蓋度，計算所述第一采樣點的鄰區(qū)干擾強度。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)計算得到的差值、所述預(yù)設(shè)干擾強度門限值以及所述第一采樣點的重疊覆蓋度，計算所述第一采樣點的鄰區(qū)干擾強度，具體為：

根據(jù)

q=Σi=1ne(Ni-N)]]>

計算所述采樣點的鄰區(qū)干擾強度；

其中，q為所述第一采樣點的鄰區(qū)干擾強度，n為所述第一采樣點的重疊覆蓋度；N_i為所述第一采樣點上采集到的第i個第三小區(qū)的RSRP與所述第一小區(qū)的RSRP的差值，所述第三小區(qū)為所述第二小區(qū)中與所述第一小區(qū)的RSRP的差值小于所述預(yù)設(shè)RSRP門限值的小區(qū)；N為所述預(yù)設(shè)干擾強度門限值。