[發明專利]扁平構件的CT檢測設備

在審

• 申請號: 201410692237.0
• 申請日: 2014-11-26
• 公開（公告）號: CN104406995A
• 公開（公告）日: 2015-03-11
• 發明（設計）人: 劉駿;王波;李立寵
• 申請（專利權）人: 無錫日聯科技有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 北京中恒高博知識產權代理有限公司 11249
• 代理人: 劉洪京

技術領域

本發明涉及電子行業的檢測設備，特別地，涉及一種扁平構件的CT檢測設備。

背景技術

目前，行業內采用的CT掃描方式的特點是：射線源發出射線的主射線束與被測物體的旋轉軸垂直，探測器平面與旋轉軸平行。投影數據的獲取過程是：射線源和探測器繞被測物體旋轉一周，在不同的旋轉角度下得到物體的二維投影，而后采用一定的算法重建物體的三維圖像。

這種常規的CT檢測方式在檢測扁平構件（如扁平鑄件，板材，印刷電路板等）時就無能為力了，會存在以下問題：

1、在給定的常規CT掃描系統中，由于扁平構件在某個方向的尺寸較大，無法在射線源和探測器之間有限的空間內旋轉，從而無法使被測物360゜旋轉，無法取到全角度的圖像。

2、在給定的射線源能量下，旋轉扁平構件采集投影時，在尺寸較小的厚度（高度）方向上，X射線容易穿透，而在尺寸較大的方向上不容易穿透，甚至穿不透，造成該方向附近投影數據截止；如果采用高能X射線，使X射線穿透扁平構件尺寸較大的方向，就會在尺寸較小的方向透射線過大，會使探測器飽和，同樣得不到正確的投影數據。

發明內容

本發明目的在于提供一種扁平構件的CT檢測設備，以解決現有技術中的CT檢測技術無法滿足扁平構件檢測要求的問題。

為實現上述目的，本發明提供一種扁平構件的CT檢測設備，包括：自下而上依次設置的X光發生器、工件檢測臺與影像增強器；所述工件檢測臺上設置有驅動所述工件檢測臺沿水平面X軸方向運動的第一驅動機構以及驅動所述工件檢測臺沿水平面Y軸方向運動的第二驅動機構；所述影像增強器與驅動所述影像增強器上升或下降的升降驅動機構連接，所述升降驅動機構設置在驅動所述升降驅動機構沿水平面X軸方向運動的第三驅動機構與驅動所述升降驅動機構沿水平面Y軸方向運動的第四驅動機構上。

進一步地，所述工件檢測臺包括底板與設置在所述底板上的支撐臺面；所述第一驅動機構包括第一驅動電機及與所述第一驅動電機的轉軸連接的第一絲桿，所述第一驅動電機固定在所述底板上，所述第一絲桿沿水平面的X軸方向與所述支撐臺面連接。

進一步地，所述第二驅動機構包括第二驅動電機及與所述第二驅動電機的轉軸連接的第二絲桿，所述第二驅動電機固定在所述底板上，所述第二絲桿沿水平面的Y軸方向與所述支撐臺面連接。

進一步地，所述升降驅動機構包括底座，所述底座上設置有支撐板，所述支撐板的頂部設置上下絲桿電機，所述上下絲桿電機的轉軸連接上下絲桿，所述上下絲桿沿水平面的垂直方向設置，所述上下絲桿的底端穿過所述底座與所述影像增強器連接。

進一步地，所述第三驅動機構包括沿水平面X軸方向設置的X向底板，所述X向底板上設置有X向導軌，所述升降驅動機構的所述底座設置在所述X向導軌上；所述X向底板上設置有第三驅動電機及與所述第三驅動電機的轉軸連接的第三絲桿，所述第三絲桿與所述底座連接；驅動所述升降驅動機構沿水平面Y軸方向運動的第四驅動機構設置在所述第三驅動機構下方。

進一步地，所述第四驅動機構包括沿水平面Y軸方向設置的Y向底板，所述Y向底板上設置有Y向導軌，所述X向底板設置在所述Y向導軌上；所述Y向底板上設置有第四驅動電機及與所述第四驅動電機的轉軸連接的第四絲桿，所述第四絲桿與所述X向底板連接。

本發明具有以下有益效果：

這種檢測設備能夠做到扁平工件的無損CT圖像測試；同時，影像增強器升降驅動機構的驅動下，能下上調整改變放大倍率，使被測工件在合適的放大倍率下，做出CT圖像測試。

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附圖說明

下面將參照圖，對本發明作進一步詳細的說明。構成本申請的一部分的附圖用來提供對本發明的進一步理解，本發明的示意性實施例及其說明用于解釋本發明，并不構成對本發明的不當限定。在附圖中：

圖1是本發明扁平構件的CT檢測設備優選實施例的結構示意圖。

附圖標記說明：

1、X光發生器；2、工件檢測臺；3、影像增強器；4、第一絲桿；5、第二驅動電機；6、第二絲桿；7、底座；8、支撐板；9、上下絲桿電機；10、上下絲桿；11、第一驅動電機；20、支撐臺面；21、底板；30、X向底板；31、X向導軌；32、第三驅動電機；33、第三絲桿；41、Y向底板；42、Y向導軌；43、第四驅動電機；44、第四絲桿。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的實施例進行詳細說明。