[發(fā)明專利]一種觸控面板及進行觸控檢測的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410690038.6
• 申請日: 2014-11-25
• 公開（公告）號: CN104360774A
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發(fā)明（設計）人: 王麗花;盧峰;翟應騰;周星耀;許盈盈;李曉曄;劉剛;張獻祥
• 申請（專利權(quán)）人: 上海天馬微電子有限公司;天馬微電子股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G02F1/1333
• 代理公司: 北京同達信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 張愷寧

1.一種觸控面板，包括：

襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；

多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；

所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結(jié)構(gòu)的第一公共電極和具有梳狀結(jié)構(gòu)的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；

所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊。

2.如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，還包括：

沿第二方向延伸的第二觸控電極，其中，所述第二方向與所述第一方向相交。

3.如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述亞像素區(qū)域包括第一亞像素區(qū)域和第二亞像素區(qū)域；

所述第一梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個所述第一亞像素區(qū)域交疊，所述第二梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個所述第二亞像素區(qū)域交疊。

4.如權(quán)利要求3所述的觸控面板，其特征在于，所述第一亞像素區(qū)域和所述第二亞像素區(qū)域沿所述第一方向交替排列；

每一所述第一梳齒在襯底基板上的正投影與一個所述第一亞像素區(qū)域交疊，每一所述第二梳齒在襯底基板上的正投影與一個所述第二亞像素區(qū)域交疊。

5.如權(quán)利要求4所述的觸控面板，其特征在于，所述第一亞像素區(qū)域包括兩個第一亞像素電極，所述第二亞像素區(qū)域包括兩個第二亞像素電極，所述觸控面板還包括：

多條第一掃描線、第二掃描線和多條數(shù)據(jù)線；

所述第一亞像素電極耦接所述第一掃描線，所述第二亞像素電極耦接所述第二掃描線；

兩個所述第一亞像素電極與兩個所述第二亞像素電極沿所述第一方向交替排列，其中，相鄰的所述第一亞像素電極與所述第二亞像素電極耦接同一數(shù)據(jù)線。

6.如權(quán)利要求4所述的觸控面板，其特征在于，所述第一亞像素區(qū)域包括一個第一亞像素電極，所述第二亞像素區(qū)域包括一個第二亞像素電極，所述觸控面板還包括：

多條第一掃描線、第二掃描線和多條數(shù)據(jù)線；

所述第一亞像素電極耦接所述第一掃描線，所述第二亞像素電極耦接所述第二掃描線；

所述第一亞像素電極和所述第二亞像素電極沿所述第一方向交替排列，每條所述數(shù)據(jù)線耦接相鄰的所述第一亞像素電極與所述第二亞像素電極。

7.如權(quán)利要求4所述的觸控面板，其特征在于，所述第一亞像素區(qū)域和所述第二亞像素區(qū)域沿所述第二方向交替排列。

8.如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述觸控面板還包括：

與所述第一公共電極電連接的第一金屬線，以及與所述第二公共電極電連接的第二金屬線。

9.一種進行觸控檢測的方法，其特征在于，觸控面板包括：襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結(jié)構(gòu)的第一公共電極和具有梳狀結(jié)構(gòu)的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊；沿第二方向延伸的第二觸控電極，其中，所述第二方向與所述第一方向相交；

該方法包括：

驅(qū)動所述第一公共電極或所述第二公共電極；

在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅(qū)動的同時，對所述第一公共電極或所述第二公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測。

10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅(qū)動的同時，對所述第一公共電極或所述第二公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，包括：

在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅(qū)動的同時，對部分或全部所述與第一公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極或與第二公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極進行檢測。