[發明專利]一種定位螺板的加工工藝

在審

• 申請號: 201410687165.0
• 申請日: 2014-11-25
• 公開（公告）號: CN104439973A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發明（設計）人: 顧衛建
• 申請（專利權）人: 吳中區長橋誠惠機械加工廠
• 主分類號: B23P15/00
• 分類號: B23P15/00
• 代理公司: 蘇州銘浩知識產權代理事務所(普通合伙) 32246
• 代理人: 張一鳴

技術領域

本發明涉及一種定位螺板的加工工藝，屬于機械加工技術領域。

背景技術

現有的對定位螺板的制作有很多種方法，但是均存在這一些問題，比如說定位螺板強度不夠，定位螺板的孔精度不夠，定位螺板整體形狀不符合要求等，這樣的定位螺板不能滿足市場需求，不利于生產的順利進行，因此為了更好的使定位螺板能夠滿足要求，提出一種加工工藝方法來解決這一問題。

發明內容

針對上述存在的技術問題，本發明的目的是：提出了一種加工精度精確、尺寸符合要求的定位螺板的加工工藝。

本發明的技術解決方案是這樣實現的：一種定位螺板的加工工藝，第一步：用車床對材料進行加工，將產品的外形按照圖紙尺寸大小初步切割出來，長為50mm，寬40mm，厚12mm；第二步：用銑床進行銑槽加工，在產品一面中部銑長50mm、寬27±0.1mm、深2mm的槽；第三步：用銑床對產品進行加工，在槽背面銑四個通孔，以長50mm，寬40mm的中心為中心線，銑橫向中心距15mm，豎向中心距20mm的四個通孔，通孔直徑φ4.5mm；第四步：以φ4.5mm圓心為圓心，銑直徑φ8mm盲孔，深度4.4mm；第五步：用銑床銑孔，以長50mm，寬40mm的中心為中心線，銑橫向中心距30mm，豎向中心距20mm的四個通孔，通孔直徑φ3.3mm；第六步：對直徑φ3.3mm的圓孔進行攻螺紋加工，攻M4螺紋；第七步：在產品一側銑孔，在距離厚12mm的上端5mm處，距離側面6mm處銑φ5mm，深度6mm的盲孔；第八步：對φ5mm，深度6mm的盲孔進行攻螺紋加工，攻M6螺紋，深度4mm；第九步：對加工好的產品進行表面拋光，使其表面粗糙度打到Ra3.2；第十步：對產品進行檢驗與入庫。

優選的，在第十步中，進行檢驗抽查時，進行外觀抽檢和尺寸抽檢，外觀抽檢10根，尺寸抽檢6根。

由于上述技術方案的運用，本發明與現有技術相比具有下列優點：

本發明的一種定位螺板的加工工藝，通過車床車外形、銑床銑槽及銑通孔、銑盲孔、攻螺紋加工、表面拋光、質量檢測，來滿足生產要求，提高生產的定位螺板的精度、強度，使其符合要求，降低次品率，降低生產成本。

附圖說明

下面結合附圖對本發明技術方案作進一步說明：

附圖1為本發明的一種定位螺板的加工工藝的成品示意圖；

附圖2為本發明的一種定位螺板的加工工藝的另一方向成品示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖來說明本發明。

如附圖1、2所示為本發明所述的一種定位螺板的加工工藝，實施例一：第一步：用車床對材料進行加工，將產品的外形按照圖紙尺寸大小初步切割出來，長為50mm，寬40mm，厚12mm，初步確定產品尺寸；第二步：用銑床進行銑槽加工，在產品一面中部銑長50mm、寬27±0.1mm、深2mm的槽，按照要求進行銑槽加工，進一步完成外形加工；第三步：用銑床對產品進行加工，在槽背面銑四個通孔，以長50mm，寬40mm的中心為中心線，銑橫向中心距15mm，豎向中心距20mm的四個通孔，通孔直徑φ4.5mm，按照圖紙要求進銑孔加工；第四步：以φ4.5mm圓心為圓心，銑直徑φ8mm盲孔，深度4.4mm，對銑好的孔進行盲孔加工；第五步：用銑床銑孔，以長50mm，寬40mm的中心為中心線，銑橫向中心距30mm，豎向中心距20mm的四個通孔，通孔直徑φ3.3mm，按照圖紙要求進行銑孔加工；第六步：對直徑φ3.3mm的圓孔進行攻螺紋加工，攻M4螺紋，按照要求進行攻螺紋加工；第七步：在產品一側銑孔，在距離厚12mm的上端5mm處，距離側面6mm處銑φ5mm，深度6mm的盲孔，按照要求進行側面盲孔加工；第八步：對φ5mm，深度6mm的盲孔進行攻螺紋加工，攻M6螺紋，深度4mm，按照要求進行攻螺紋加工；第九步：對加工好的產品進行表面拋光，使其表面粗糙度打到Ra3.2，滿足粗糙度要求；第十步：對產品進行檢驗與入庫，進行檢驗抽查時，進行外觀抽檢和尺寸抽檢，外觀抽檢10根，尺寸抽檢6根。

本發明的一種定位螺板的加工工藝，通過車床車外形、銑床銑槽及銑通孔、銑盲孔、攻螺紋加工、表面拋光、質量檢測，來滿足生產要求，提高生產的定位螺板的精度、強度，使其符合要求，降低次品率，降低生產成本。。

上述實施例只為說明本發明的技術構思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術的人士能夠了解本發明的內容并加以實施，并不能以此限制本發明的保護范圍，凡根據本發明精神實質所作的等效變化或修飾，都應涵蓋在本發明的保護范圍內。