[發(fā)明專利]利用BGR獲取中子單粒子效應(yīng)器件敏感截面的方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410676821.7 | 申請(qǐng)日: | 2014-11-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105676016B | 公開(公告)日: | 2019-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王群勇;陳冬梅;陳宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京圣濤平試驗(yàn)工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
| 地址: | 100089 北京市海淀*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 bgr 獲取 中子 粒子 效應(yīng) 器件 敏感 截面 方法 裝置 | ||
本發(fā)明提供一種利用BGR獲取中子單粒子效應(yīng)器件敏感截面的方法及裝置,包括:采用預(yù)定輻射源進(jìn)行地面模擬實(shí)驗(yàn),獲取敏感器件敏感截面的觀測(cè)值σ觀測(cè),并監(jiān)測(cè)實(shí)驗(yàn)中敏感器件的單粒子效應(yīng)錯(cuò)誤個(gè)數(shù)Nend;將采用BGR方法計(jì)算得出的敏感器件敏感截面值σBGR與敏感器件敏感截面的觀測(cè)值σ觀測(cè)進(jìn)行除運(yùn)算,得到第一輔助因子;將采用Rosetta真實(shí)環(huán)境試驗(yàn)獲得的敏感器件敏感截面值σRosetta與敏感器件敏感截面的觀測(cè)值σ觀測(cè)進(jìn)行除運(yùn)算,得到第二輔助因子;根據(jù)第一輔助因子、第二輔助因子計(jì)算以及單粒子效應(yīng)錯(cuò)誤個(gè)數(shù)計(jì)算修正因子的值;利用修正因子對(duì)敏感器件敏感截面的觀測(cè)值σ預(yù)設(shè)進(jìn)行修正。本發(fā)明能夠獲得真實(shí)環(huán)境下大氣中子單粒子效應(yīng)敏感器件的敏感截面,為機(jī)載電子設(shè)備的防護(hù)與評(píng)價(jià)提供重要依據(jù)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及微電子技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種利用BGR獲取中子單粒子效應(yīng)器件敏感截面的方法及裝置。
背景技術(shù)
自然空間環(huán)境中存在1MeV~1000MeV的高能大氣中子,帶有存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)復(fù)雜微電子器件的機(jī)載電子設(shè)備在飛行高度為3000~20000米的自然空間環(huán)境中必然會(huì)遭遇大約每小時(shí)每平方厘米300~18000個(gè)1MeV~1000MeV的高能大氣中子,產(chǎn)生單粒子效應(yīng),從而影響電子設(shè)備的可靠性。國(guó)際上用敏感截面來(lái)表征器件在中子環(huán)境中的單粒子效應(yīng)敏感特性。但是,目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有真實(shí)環(huán)境下的敏感截面數(shù)據(jù),并且飛行試驗(yàn)成本較高。因此,通過(guò)地面模擬試驗(yàn)成為有效的評(píng)價(jià)器件大氣中子單粒子效應(yīng)敏感特性方法之一。
國(guó)內(nèi),可用于開展地面模擬試驗(yàn)的試驗(yàn)源為14MeV中子輻射源,但是,由于該中子源為單能中子源,而真實(shí)環(huán)境下中子的能量并不是單能的,因此,利用現(xiàn)有的14MeV中子輻射源進(jìn)行的模擬試驗(yàn)所得敏感器件的敏感截面與真實(shí)環(huán)境敏感器件的敏感截面還是存在一定的誤差的,并不能直接用于表征敏感器件在真實(shí)環(huán)境下的敏感特性,進(jìn)而導(dǎo)致無(wú)法準(zhǔn)確地對(duì)機(jī)載電子設(shè)備中敏感器件進(jìn)行安全性分析。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提出了一種利用BGR獲取中子單粒子效應(yīng)器件敏感截面的方法及裝置,通過(guò)修正預(yù)定輻射源的試驗(yàn)數(shù)據(jù),獲得真實(shí)環(huán)境下大氣中子單粒子效應(yīng)敏感器件的敏感截面,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)機(jī)載電子設(shè)備在自然空間環(huán)境中遭遇高能中子進(jìn)行針對(duì)性防護(hù)與評(píng)價(jià)。
本發(fā)明提供了一種利用BGR獲取中子單粒子效應(yīng)器件敏感截面的方法,該方法包括:
采用預(yù)定輻射源進(jìn)行地面模擬實(shí)驗(yàn),獲取在預(yù)定輻射源輻射下敏感器件敏感截面的觀測(cè)值σ觀測(cè),并監(jiān)測(cè)所述模擬實(shí)驗(yàn)中敏感器件的單粒子效應(yīng)錯(cuò)誤個(gè)數(shù)Nend;
將采用BGR方法計(jì)算得出的敏感器件敏感截面值σBGR與所述在預(yù)定輻射源輻射下敏感器件敏感截面的觀測(cè)值σ觀測(cè)進(jìn)行除運(yùn)算,得到第一輔助因子;
將采用Rosetta真實(shí)環(huán)境試驗(yàn)獲得的敏感器件敏感截面值σRosetta與所述在預(yù)定輻射源輻射下敏感器件敏感截面的觀測(cè)值σ觀測(cè)進(jìn)行除運(yùn)算,得到第二輔助因子;
根據(jù)所述第一輔助因子、第二輔助因子以及所述單粒子效應(yīng)錯(cuò)誤個(gè)數(shù)計(jì)算修正因子的值;
根據(jù)所述修正因子的值對(duì)所述在預(yù)定輻射源輻射下敏感器件敏感截面的觀測(cè)值σ觀測(cè)進(jìn)行修正。
優(yōu)選地,所述將采用BGR方法計(jì)算得出的敏感器件敏感截面值σBGR與所述在預(yù)定輻射源輻射下敏感器件敏感截面的觀測(cè)值σ觀測(cè)進(jìn)行除運(yùn)算,得到第一輔助因子,具體包括:
獲取預(yù)先設(shè)置的所述采用BGR方法計(jì)算得出的敏感器件敏感截面值σBGR;
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