[發(fā)明專利]一種異性化設(shè)計的Vivaldi輻射陣列結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410670732.1 | 申請日: | 2014-11-20 |
| 公開(公告)號: | CN105680155B | 公開(公告)日: | 2019-08-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 沈靜;尤立志;劉云 | 申請(專利權(quán))人: | 中國航空工業(yè)集團公司雷華電子技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | H01Q1/36 | 分類號: | H01Q1/36;H01Q21/00 |
| 代理公司: | 中國航空專利中心 11008 | 代理人: | 杜永保 |
| 地址: | 214063 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 異性 設(shè)計 vivaldi 輻射 陣列 結(jié)構(gòu) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于微波天線技術(shù),涉及對輻射器陣列的改進設(shè)計
背景技術(shù)
Vivaldi天線陣列單元與單元之間存在較強的耦合,對于天線陣列的設(shè)計和分析非常復(fù) 雜。對于設(shè)計者而言,逐個單元的陣列設(shè)計方法由于計算量的限制僅局限于小規(guī)模陣列設(shè)計, 在電大天線陣列設(shè)計通常要么忽視單元間的互耦影響,要么將天線陣列近似為無限陣列。當(dāng) 陣列尺寸比較大時,將其近似為無限陣列進行天線設(shè)計的方法非常有效,考慮了陣列單元間 的互耦作用,能較好的逼近真實陣列的特性。
相較而言,目前常用的考慮互耦效應(yīng)的無限大陣列設(shè)計方法可以快速有效地設(shè)計大規(guī)模 陣列的中心單元和近似其電磁性能,缺點是不考慮實際設(shè)計中涉及的邊緣效應(yīng)影響,陣中輻 射單元、邊緣輻射單元與其他輻射單元結(jié)構(gòu)設(shè)計一致,導(dǎo)致非電大尺寸陣列中的邊緣單元及 次邊緣單元有源反射系數(shù)嚴(yán)重惡化,陣列副瓣電平抬高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種異性化設(shè)計的Vivaldi輻射陣列結(jié)構(gòu),其特征在于,包括由陣列邊緣 到中心位置的邊緣單元、次邊緣單元、陣中單元,邊緣單元、次邊緣單元和陣中單元分別采 用不同的輻射結(jié)構(gòu)。
進一步的,次邊緣單元的確定方法:
根據(jù)設(shè)計指標(biāo)采用無限陣近似方法設(shè)計的輻射器陣列結(jié)構(gòu);
對輻射器陣列結(jié)構(gòu)采用進行仿真;
提取輻射器陣列結(jié)構(gòu)各單元仿真得到的有源反射系數(shù);
根據(jù)有源反射系數(shù)的結(jié)果,如果結(jié)果超出設(shè)計指標(biāo),該單元為次邊緣單元或邊緣單元;
根據(jù)位置排除邊緣單元,得到次邊緣單元。
考慮實際設(shè)計中涉及的邊緣效應(yīng)影響,陣中輻射單元、邊緣輻射單元與其他輻射單元結(jié) 構(gòu)設(shè)計進行區(qū)分,使得非電大尺寸陣列中的邊緣單元及次邊緣單元有源反射系數(shù)得到優(yōu)化, 降低陣列副瓣電平。
進一步的,邊緣單元、次邊緣單元和陣中單元采用不同的輻射結(jié)構(gòu)具體為采用不同的輻 射開槽結(jié)構(gòu)。根據(jù)陣列環(huán)境中不同輻射單元物理位置有針對性設(shè)計的邊緣單元輻射開槽結(jié)構(gòu)、 次邊緣單元輻射開槽結(jié)構(gòu)、陣中單元輻射開槽結(jié)構(gòu)。
異性化設(shè)計的Vivaldi輻射器陣列結(jié)構(gòu)包括若干異性化設(shè)計的輻射開槽結(jié)構(gòu)、若干相同 的饋電結(jié)構(gòu)、若干相同的耦合結(jié)構(gòu)與匹配結(jié)構(gòu)共同組成,電磁波能量由饋電結(jié)構(gòu)傳播,經(jīng)耦 合結(jié)構(gòu)耦合至逐漸變寬的輻射開槽結(jié)構(gòu)底端,大部分直接通過逐漸變寬的開槽結(jié)構(gòu)輻射到自 由空間,另一部分傳播至匹配結(jié)構(gòu)后反射,最終也通過槽線結(jié)構(gòu)將電磁波輻射出去。
由于采用無限陣近似與邊緣效應(yīng)相結(jié)合的有限大陣列設(shè)計技術(shù),既考慮了單元與單元間 復(fù)雜的互耦效應(yīng),又考慮了陣列的邊緣效應(yīng)影響,根據(jù)輻射單元在陣列中所處的物理位置不 同,有針對性地對輻射陣列進行異性化設(shè)計,從而對陣列天線非中心單元進行有效的互耦補 償,因此可以較大程度上改善忽略邊緣效應(yīng)的無限陣近似方法設(shè)計的天線陣列輻射性能。
附圖說明
圖1是無限陣近似方法設(shè)計的輻射器陣列結(jié)構(gòu);
圖2是異性化設(shè)計的輻射器陣列結(jié)構(gòu);
圖3是異性化設(shè)計的輻射器陣列結(jié)構(gòu)局部放大圖;
圖4是異性化設(shè)計的輻射器陣列結(jié)構(gòu)仿真結(jié)果。
具體實施方式
一種異性化設(shè)計的Vivaldi輻射器陣列結(jié)構(gòu),包括由陣列邊緣到中心位置的邊緣單元、 次邊緣單元、陣中單元,邊緣單元A、次邊緣單元B和陣中單元C分別采用不同的輻射結(jié)構(gòu)。
邊緣單元A設(shè)置邊緣單元輻射開槽結(jié)構(gòu)1。次邊緣單元B設(shè)置次邊緣單元輻射開槽結(jié)構(gòu)5。 陣中單元C設(shè)置陣中單元輻射開槽結(jié)構(gòu)6。為保證各輻射單元相位一致性采用若干相同的饋 電結(jié)構(gòu)3、若干相同的耦合結(jié)構(gòu)2與匹配結(jié)構(gòu)4,電磁波能量由饋電結(jié)構(gòu)3傳播,經(jīng)耦合結(jié)構(gòu) 2耦合至逐漸變寬的輻射開槽結(jié)構(gòu)1底端,大部分分別通過逐漸變寬的邊緣單元輻射開槽結(jié) 構(gòu)1、次邊緣單元輻射開槽結(jié)構(gòu)5、陣中單元輻射開槽結(jié)構(gòu)6輻射到自由空間,另一部分傳播 至匹配結(jié)構(gòu)4后反射,最終也通過輻射開槽結(jié)構(gòu)將電磁波輻射出去。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國航空工業(yè)集團公司雷華電子技術(shù)研究所,未經(jīng)中國航空工業(yè)集團公司雷華電子技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410670732.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:LTCC天線
- 下一篇:一種基于深度學(xué)習(xí)的動力電池配組方法
- 針織設(shè)計裝置和設(shè)計方法、設(shè)計程序
- 燈具(設(shè)計1?設(shè)計3)
- 頭燈(設(shè)計1?設(shè)計2?設(shè)計3)
- LED透鏡(設(shè)計1、設(shè)計2、設(shè)計3)
- 設(shè)計用圖形設(shè)計桌
- 手機殼(設(shè)計1設(shè)計2設(shè)計3設(shè)計4)
- 機床鉆夾頭(設(shè)計1設(shè)計2設(shè)計3設(shè)計4)
- 吹風(fēng)機支架(設(shè)計1設(shè)計2設(shè)計3設(shè)計4)
- 設(shè)計桌(平面設(shè)計)
- 設(shè)計臺(雕塑設(shè)計用)





