[發明專利]測針器

在審

• 申請號: 201410667405.0
• 申請日: 2014-11-20
• 公開（公告）號: CN104390590A
• 公開（公告）日: 2015-03-04
• 發明（設計）人: 莊漢錚
• 申請（專利權）人: 昆山鴻富洋機電有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種用于對刀具的直徑、加工精度進行測量的裝置。

背景技術

現有對位儀器只能提供深度對位，無法識別刀具直徑。同時只有機械的對位方法，由于機械對位方法自身存在的缺陷，無法滿足細小刀具精準對位的需求，從而導致細小刀具在加工之前經常容易發生針位放錯，影響了使用細小刀具的工藝的生產加工效率。

有鑒于此，針對上述問題，有必要提出進一步的解決方案。

發明內容

本發明的目的在于提供一種測針器，以克服現有的對位儀器無法對細小刀具的直徑和加工精度進行精確測量的問題。

為實現上述發明目的，本發明的一種測針器，其包括：源、光學組件、測量平臺、圖像傳感器、顯示模塊及控制芯片；

所述光學組件包括光源調整透鏡和測量放大透鏡，所述光源位于所述光學調整透鏡的一側，所述測量平臺位于所述光源調整透鏡和測量放大透鏡之間的光路上，所述光源發出的光線經光源調整透鏡改變入射角度后，通過所述測量放大透鏡，所述圖像傳感器接收通過測量放大透鏡的光線，并進行成像；

所述控制芯片與所述圖像傳感器進行數據傳輸，并接收圖像傳感器上圖像的幀信息；

所述顯示模塊用于顯示控制芯片的計算結果。

作為本發明的測針器的改進，所述測針器還包括光源擋板，所述光源擋板相對設置，所述光源發出的光線通過所述光源擋板之間空間入射到所述光源調整透鏡上。

作為本發明的測針器的改進，所述測針器還包括透鏡固定架，所述光源調整透鏡和測量放大透鏡分別固定于所述相應的透鏡固定架上。

作為本發明的測針器的改進，所述光源為紅外LED燈。

作為本發明的測針器的改進，所述測針器還包括外殼，所述光源、光學組件、測量平臺、圖像傳感器安裝于所述外殼內部。

作為本發明的測針器的改進，所述圖像傳感器為CMOS圖像傳感器。

作為本發明的測針器的改進，所述控制芯片與所述顯示模塊進行電性連接。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：本發明的測針器能夠更精準測量出刀具鉆孔及成型加工之前的直徑，解決細小刀具在加工之前針位放錯問題，及加工之前對刀具下鉆及加工深度的精準識別問題。

附圖說明

圖1為本發明的測針器一具體實施方式的模塊示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖所示的各實施方式對本發明進行詳細說明，但應當說明的是，這些實施方式并非對本發明的限制，本領域普通技術人員根據這些實施方式所作的功能、方法、或者結構上的等效變換或替代，均屬于本發明的保護范圍之內。

如圖1所示，本發明的測針器100包括：光源10、光學組件20、測量平臺30、圖像傳感器40、控制芯片50及顯示模塊90。

所述光學組件20包括光源調整透鏡21和測量放大透鏡22，其中，光源調整透鏡21用于對自光源10發出的光線的入射角度進行改變，所述測量放大透鏡22用于放大被測量刀具直徑的尺寸。具體地，所述光源10位于所述光學調整透鏡21的一側，所述測量平臺30位于所述光源調整透鏡21和測量放大透鏡22之間的光路上，所述光源10發出的光線經光源調整透鏡21改變入射角度后，通過所述測量放大透鏡22。所述測量平臺30用于放置帶測量的刀具，由于測量平臺30位于光源調整透鏡21和測量放大透鏡22之間的光路上，從而，經光源調整透鏡21改變入射角度后的光線照射在被測測量刀具上，被測量刀具的尺寸則經測量放大透鏡22進行放大。

上述實施方式中，所述光源10為紅外LED燈，所述測針器100還包括光源擋板60，該光源擋板60用于使光源發出的光線集中照射到光源調整透鏡21上。具體地，所述光源擋板60相對設置，所述光源10發出的光線通過所述光源擋板60之間空間入射到所述光源調整透鏡21上。

進一步地，所述測針器100還包括透鏡固定架70，所述光源調整透鏡21和測量放大透鏡22分別固定于所述相應的透鏡固定架70上。

所述圖像傳感器40用于接收通過測量放大透鏡22的光線，并對經過尺寸放大的被測量刀具進行成像，優選地，所述圖像傳感器40為CMOS圖像傳感器。