[發(fā)明專利]一種用于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀材料測(cè)試的任意阻抗測(cè)試電路及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410662638.1
• 申請(qǐng)日: 2014-11-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104375011A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-02-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊保國(guó);梁勝利;王尊峰;年夫順
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所
• 主分類號(hào): G01R27/28
• 分類號(hào): G01R27/28
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種任意阻抗測(cè)試電路，其特征在于，包括：頻率參考、單頻信號(hào)源(S₁)、本振源(L₀)、耦合鏈路模塊、接收機(jī)A和接收機(jī)R、計(jì)算機(jī)模塊以及阻抗匹配模塊；

接收機(jī)A和接收機(jī)R還包括中頻調(diào)理模塊、AD采樣模塊以及DSP模塊；

阻抗匹配模塊包括功分器、可調(diào)衰減器、可調(diào)移相器和差分放大器；

頻率參考提供單頻信號(hào)源(S₁)和本振源(L₀)的輸入，單頻信號(hào)源(S₁)的頻率可調(diào)；中頻頻率固定，本振源(L₀)的輸出頻率為信號(hào)源(S₁)頻率加中頻頻率；

單頻信號(hào)源信號(hào)(S₁)加載于被測(cè)件，且由耦合鏈路模塊耦合檢測(cè)，功分的第一路信號(hào)(a₁)送給接收機(jī)R，經(jīng)過(guò)中頻調(diào)理、A/D采樣后求得幅度和相位表征發(fā)射信號(hào)；功分的第二路信號(hào)(a₂)送入阻抗匹配模塊，進(jìn)行衰減、移相，衰減幅度為α，移相為θ，移相后的信號(hào)a’₂＝a₂*αe^jwθ；

被測(cè)件產(chǎn)生的反射信號(hào)(b₁)經(jīng)過(guò)耦合鏈路模塊進(jìn)入阻抗匹配模塊，和經(jīng)過(guò)衰減、移相的第二路信號(hào)(a’₂)做差分比較，比較結(jié)果送入接收機(jī)A，經(jīng)過(guò)中頻調(diào)理、A/D采樣后求得幅度和相位。

2.如權(quán)利要求1所述的任意阻抗測(cè)試電路，其特征在于，所述功分器為電橋或耦合器。

3.如權(quán)利要求1所述的任意阻抗測(cè)試電路，其特征在于，所述單頻信號(hào)源(S₁)和本振源(L₀)內(nèi)部分別具有小數(shù)分頻、倍頻單元。

4.一種任意阻抗測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟(1)，頻率參考提供單頻信號(hào)源(S₁)和本振源(L₀)的輸入，信號(hào)源(S₁)的頻率可調(diào)，本振源(L₀)的本振頻率為信號(hào)源(S₁)頻率加中頻頻率；

步驟(2)，信號(hào)源信號(hào)(S₁)加載于被測(cè)件，且由耦合鏈路模塊耦合檢測(cè)，功分的第一路信號(hào)(a₁)送給接收機(jī)R，經(jīng)過(guò)中頻調(diào)理、A/D采樣后求得幅度和相位表征發(fā)射信號(hào)；

步驟(3)，功分的第二路信號(hào)(a₂)送入阻抗匹配模塊，進(jìn)行衰減、移相操作，衰減幅度為α，移相為θ，移相后的信號(hào)a’₂＝a₂*αe^jwθ；

步驟(4)，被測(cè)件產(chǎn)生的反射信號(hào)(b₁)經(jīng)過(guò)耦合鏈路模塊進(jìn)入阻抗匹配模塊，和經(jīng)過(guò)衰減、移相的輸入信號(hào)(a’₂)做差分比較，送入接收機(jī)A，經(jīng)過(guò)中頻調(diào)理、A/D采樣后求得幅度和相位，設(shè)差分放大倍數(shù)為k，輸出信號(hào)b’₁＝(b₁-a’₂)；

步驟(5)，測(cè)試被測(cè)件襯底、或被測(cè)件及夾具的一個(gè)頻點(diǎn)，將阻抗匹配模塊調(diào)整至目標(biāo)阻抗，在此狀態(tài)下調(diào)整衰減器和放大器，使得差分放大器輸出為0，記錄衰減幅度α₀和移相θ；

步驟(6)，阻抗匹配模塊對(duì)信號(hào)S₁的功分比為1∶Δ，在阻抗匹配后的測(cè)試結(jié)果為：AR=1k(b1-AΔ1+Δα0ejωθ0).]]>

5.如權(quán)利要求4所述的一種任意阻抗測(cè)試方法，其特征在于，單頻信號(hào)源(S₁)和本振源(L₀)內(nèi)部分別具有小數(shù)分頻、倍頻單元。