[發(fā)明專利]一種快速定位電路板低溫故障芯片的方法及制冷裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410657155.2 | 申請(qǐng)日: | 2014-11-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104360260A | 公開(公告)日: | 2015-02-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 段知曉;吳曉鳴;張秀彬;李曉松;古華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽(yáng)電光設(shè)備研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 鄭州睿信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 41119 | 代理人: | 胡泳棋 |
| 地址: | 471009 *** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 快速 定位 電路板 低溫 故障 芯片 方法 制冷 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種快速定位電路板低溫故障芯片的方法及制冷裝置,屬于電子組裝和測(cè)試領(lǐng)域。
背景技術(shù)
隨著電子技術(shù)和通信技術(shù)的發(fā)展,電子產(chǎn)品的體積越來(lái)越小,密度越來(lái)越大,元器件的尺寸規(guī)格越來(lái)越小,表面貼裝器件SMD運(yùn)用的越來(lái)越多,這使得電路板組裝的密度越來(lái)越高,故障定位難度越來(lái)越大,尤其是雙面表貼的高密度電路板,信號(hào)關(guān)聯(lián)多,故障定位困難,特別是在低溫環(huán)境下,示波器、萬(wàn)用表等測(cè)量設(shè)施難以伸入密封箱內(nèi)部進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)排故人員也很難在低溫環(huán)境下長(zhǎng)時(shí)間作業(yè),這使得電路板低溫排故異常困難。傳統(tǒng)的排故手段是針對(duì)疑似故障的芯片在常溫下進(jìn)行更換,然后再進(jìn)入低溫環(huán)境下驗(yàn)證。但遇到BGA、QFP芯片時(shí),每次更換時(shí)均需要對(duì)電路板和SMD器件連續(xù)烘干24小時(shí)以上,更換周期長(zhǎng),定位也不一定準(zhǔn)確,往往多次更換,耗費(fèi)人力物力,浪費(fèi)了時(shí)間,加大了排故成本。
目前市場(chǎng)上有冷風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)等產(chǎn)品,專門解決類似低溫故障定位問題。然而系統(tǒng)復(fù)雜,價(jià)格昂貴,且風(fēng)冷循環(huán)難免會(huì)在給指定電路制冷的同時(shí)影響周圍芯片溫度,范圍控制差,造成電路板低溫故障排故技術(shù)的操作難度大,成本高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種快速定位電路板低溫故障芯片的方法及制冷裝置,旨在解決體積較大的低溫排故設(shè)施難以測(cè)量體積較小的電子產(chǎn)品,且低溫環(huán)境下排故人員不能長(zhǎng)期作業(yè),更換芯片時(shí)間長(zhǎng),故障定位不準(zhǔn)確,排故成本高的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明的快速定位電路板低溫故障芯片的方法包括:
1)將制冷片設(shè)于電路板的疑似故障芯片上;
2)對(duì)設(shè)有制冷片的疑似故障芯片制冷;
3)制冷指定時(shí)間后,檢測(cè)電路板故障是否復(fù)現(xiàn),若故障沒有復(fù)現(xiàn),則該疑似故障芯片沒有發(fā)生低溫故障;若故障復(fù)現(xiàn),對(duì)疑似故障芯片停止制冷并自然升溫指定時(shí)間后,再次檢測(cè)電路板故障是否復(fù)現(xiàn),若故障消失,判斷該疑似故障芯片發(fā)生低溫故障。
所述步驟1)中設(shè)置一個(gè)或至少兩個(gè)制冷片,一個(gè)或至少兩個(gè)制冷片分別對(duì)應(yīng)設(shè)于一個(gè)疑似故障芯片或至少兩個(gè)疑似故障芯片上。
對(duì)步驟3)判斷出來(lái)的低溫故障芯片按照步驟3)的過程進(jìn)行驗(yàn)證。
本發(fā)明的快速定位電路板低溫故障芯片的制冷裝置:包括電源,以及并聯(lián)的至少一個(gè)制冷片支路,每個(gè)制冷片支路均是由一個(gè)制冷片(Bn)及其相應(yīng)的控制開關(guān)(Kn)串聯(lián)構(gòu)成。
該制冷裝置還包括繼電器和溫度控制器,所述繼電器串聯(lián)在所述各制冷片支路的干路中,所述溫度控制器控制連接所述繼電器的線圈,各制冷片對(duì)應(yīng)設(shè)有溫度傳感器,各溫度傳感器連接所述溫度控制器。
所述開關(guān)為鈕子開關(guān)。
所述制冷片為三層結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體制冷片。
本發(fā)明的有益效果是:排故過程為全封閉的,避免了低溫結(jié)霜問題;采用半導(dǎo)體材料“珀?duì)栙N”效應(yīng)制冷,靜態(tài)貼片熱傳導(dǎo),對(duì)周圍器件影響小,熱慣性小,并且采用多級(jí)制冷片,制冷效率高,多個(gè)多級(jí)制冷片組成低溫故障診斷系統(tǒng),避免了低溫下的人工操作;設(shè)置溫度控制器,溫度可控可調(diào);采用本發(fā)明的低溫排故方法,能夠在常溫環(huán)境準(zhǔn)確定位電路板的低溫故障芯片,使故障芯片經(jīng)歷不同的溫度狀態(tài),從而使電路故障復(fù)現(xiàn)和消失,避免了盲目的更換芯片和低溫環(huán)境下的人工作業(yè),節(jié)約了時(shí)間和人力物力成本。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例的故障定位流程圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例的制冷控制裝置電路圖;
圖3為本發(fā)明實(shí)施例的半導(dǎo)體制冷片散熱器安裝圖;
圖4為本發(fā)明實(shí)施例的電源電流與制冷面溫度的曲線圖。
具體實(shí)施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽(yáng)電光設(shè)備研究所,未經(jīng)中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽(yáng)電光設(shè)備研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410657155.2/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





