[發明專利]液晶屏內部灰塵檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 201410655761.0
• 申請日: 2014-11-18
• 公開（公告）號: CN104359917A
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發明（設計）人: 王立波;姚毅;魏芳芳;劉鑫;白宇
• 申請（專利權）人: 北京凌云光技術有限責任公司
• 主分類號: G01N21/94
• 分類號: G01N21/94;G02F1/13
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

技術領域

本發明涉及液晶顯示器檢測領域，具體涉及一種液晶屏內部灰塵檢測方法及裝置。

背景技術

液晶屏包括液晶玻璃和兩片偏光片。對于平放狀態的液晶玻璃，一片偏光片緊貼在液晶玻璃的上表面，另一片緊貼在液晶玻璃的下表面。為了減少偏光片與液晶玻璃之間落入灰塵，貼合偏光片的工序通常在凈房中進行。雖然凈房的潔凈度非常高，但凈房中運的動環產境仍生然的灰會塵受的到污人染體，自因身此產偏生光的片代與謝液物晶質、玻璃物之料間進不入可時避攜免帶地的會灰落塵入及灰物塵料。在生產線上

液晶屏在完成貼合工序后，需要對偏光片與液晶玻璃之間是否存在灰塵進行檢測。圖1示出了現有液晶屏檢測設備結構示意圖。如圖1所示，液晶屏檢測設備包括背光源01、液晶屏支撐件02和圖像采集裝置03。背光源01發出漫射光，液晶屏支撐件02為透明玻璃等透光物件，液晶屏平放于液晶屏支撐件02上，圖像采集裝置03在背光源通電后對液晶屏進行圖像采集。

上述檢測設備的檢測原理為：背光源01開啟后，其發出的平行光源照射液晶屏，若液晶屏的偏光片與液晶玻璃之間存在灰塵，平行光線遇到灰塵時被阻擋，因此灰塵在圖像采集裝置中形成的圖像為黑點。只要發現圖像中存在黑點，則判定液晶屏中存在灰塵，定為不合格產品予以剔除。

本發明的發明人注意到，液晶屏在傳送過程中，其上表面不可避免地會散落灰塵。在檢測液晶屏內部灰塵時，液晶屏上表面的灰塵在圖像采集裝置中呈現的圖像也是黑點。因此，在液晶屏的檢測中，液晶屏上表面的灰塵會被誤認為是液晶屏內部存在灰塵，從而將良品當做瑕疵品剔除，造成大量誤檢。

發明內容

本發明的發明目的在于提供一種液晶屏內部灰塵檢測方法及裝置，其能夠排除液晶屏上表面的灰塵對液晶屏內部灰塵檢測的影響，大幅降低液晶屏內部灰塵檢測的誤檢率。

根據本發明的實施例，提供了一種液晶屏內外灰塵檢測方法，包括：

用由下向上的平行光垂直照射平放的液晶屏，所述液晶屏點亮到白色畫面，位于所述液晶屏上方的圖像采集裝置對液晶屏進行第一次圖像采集并記錄圖像中黑點的坐標；

在圖像采集裝置與液晶屏之間移入與液晶屏平行的輔助偏光片，并使輔助偏光片的偏振角度與液晶屏上偏光片的偏振角度垂直；

調整所述液晶屏至黑色畫面，在所述液晶屏的一個側端用漫射光照射所述液晶屏上偏光片與輔助偏光片之間的區域，圖像采集裝置進行第二次圖像采集并記錄圖像中亮點的坐標；

根據第二次采集圖像中亮點的坐標與第一次采集圖像中黑點的坐標的重合個數確定液晶內部是否存在灰塵。

作為另一優選方案，所述輔助偏光片可在第一次圖像采集之前移入圖像采集裝置與液晶屏之間，所述輔助偏光片與液晶屏平行，且所述輔助偏光片的偏振方向與所述液晶屏的上偏光片的偏振方向平行；

在所述圖像采集裝置進行第一圖像采集之后，調整輔助偏光片的偏振方向與所述液晶屏的上偏光片的偏振方向垂直。

其中，所述根據第二次采集圖像中亮點的坐標與第一次采集圖像中黑點的坐標的重合個數確定液晶內部是否存在灰塵包括：

若第二次采集圖像中亮點的坐標與第一次采集圖像中黑點的坐標全部重合，可確定灰塵全部位于液晶屏上表面；

若第二次采集圖像中亮點的坐標與第一次采集圖像中黑點的坐標部分重合，可確定所述液晶屏內存在灰塵。

優選地,在圖像采集裝置進行第二次圖像采集并記錄圖像中亮點的坐標后，還包括：

將輔助偏光片移至所述液晶屏的下方并與液晶屏平行，且使所述輔助偏光片的偏振角度與液晶屏下偏光片的偏振角度垂直；

在所述輔助偏光片下方設置與所述圖像采集裝置連接的攝像頭；

在所述液晶屏的一個側端用漫射光照射所述液晶屏下偏光片與輔助偏光片之間的區域，所述攝像頭對液晶屏下偏光片進行第三次圖像采集并將采集的圖像信息發送至圖像采集裝置，圖像采集裝置接收圖像數據并記錄圖像中亮點的坐標；

根據第二次采集圖像中亮點的坐標和第三次采集圖像中亮點的坐標與第一次采集圖像中黑點的坐標的重合個數確定液晶內部是否存在灰塵。

其中,所述根據第二次采集圖像中亮點的坐標和第三次采集圖像中亮點的坐標與第一次采集圖像中黑點的坐標的重合個數確定液晶內部是否存在灰塵包括：

若第二次采集圖像中亮點的坐標和第三次采集圖像中亮點的坐標與第一次采集圖像中黑點的坐標不完全重合，則確定液晶屏內部存在灰塵。