[發(fā)明專利]測(cè)試設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410654842.9 | 申請(qǐng)日: | 2014-11-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104330674B | 公開(公告)日: | 2018-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 呂立平;谷君;張學(xué)哲;竺懋渝;袁清芳;王寧;劉漫雨;郝良 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)家電網(wǎng)公司;國(guó)網(wǎng)北京市電力公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R31/327 |
| 代理公司: | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 吳貴明;張永明 |
| 地址: | 100031 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試設(shè)備 繼電保護(hù)器 測(cè)試 移動(dòng)靈活性 測(cè)試臺(tái) 測(cè)試儀 可移動(dòng) 移動(dòng) | ||
1.一種測(cè)試設(shè)備,其特征在于,包括:
可移動(dòng)的測(cè)試臺(tái);
測(cè)試儀,設(shè)置在所述測(cè)試臺(tái)上,與待測(cè)繼電保護(hù)器相連接,用于對(duì)所述待測(cè)繼電保護(hù)器進(jìn)行測(cè)試,
所述測(cè)試設(shè)備還包括:端子排,設(shè)置在所述測(cè)試臺(tái)前面,用于以插接方式或者固定連接方式連接所述測(cè)試儀和所述待測(cè)繼電保護(hù)器,所述端子排分段設(shè)置接線口,其中,每一段的接線口數(shù)量根據(jù)測(cè)試或者試驗(yàn)的需求進(jìn)行設(shè)置;
所述測(cè)試設(shè)備還包括:
電能質(zhì)量檢測(cè)儀,設(shè)置在所述測(cè)試臺(tái)上,與所述測(cè)試儀相連接,用于檢測(cè)所述測(cè)試儀的輸出信號(hào),
其中,在需要監(jiān)測(cè)繼電保護(hù)測(cè)試儀輸出穩(wěn)定性的試驗(yàn)的情況下,所述測(cè)試設(shè)備接入所述電能質(zhì)量檢測(cè)儀;
在不需要監(jiān)測(cè)繼電保護(hù)測(cè)試儀輸出穩(wěn)定性的試驗(yàn)的情況下,所述測(cè)試設(shè)備不接入所述電能質(zhì)量檢測(cè)儀;
其中,所述可移動(dòng)的測(cè)試臺(tái)分為左右兩部分,
左側(cè)包括三層空間,其中,上層為所述可移動(dòng)的測(cè)試臺(tái)的統(tǒng)一平面,中層用于放置所述待測(cè)繼電保護(hù)器,下層用于放置直流電源發(fā)生器、以及所述電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)儀;
右側(cè)包括三層抽屜,上層抽屜用于存放試驗(yàn)記錄,中層用于放置指導(dǎo)書,下層用于放置接線設(shè)備。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述端子排為采用鳳凰端子的端子排。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述測(cè)試設(shè)備還包括電源插頭,設(shè)置在所述測(cè)試臺(tái)上,通過導(dǎo)線與所述測(cè)試儀相連接,用于插接電源插座以向所述測(cè)試儀提供電能。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述測(cè)試設(shè)備還包括:
漏電保護(hù)器,串聯(lián)在所述測(cè)試儀和所述電源插頭之間,用于對(duì)所述測(cè)試儀的漏電保護(hù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述電能為交流電,所述測(cè)試設(shè)備還包括:
整流器,設(shè)置在所述測(cè)試臺(tái)上,與所述電源插頭相連接,用于將所述交流電轉(zhuǎn)換為直流電。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述測(cè)試設(shè)備還包括分線器,所述分線器包括:
輸入端,與所述電源插頭相連接;
第一輸出端,與所述整流器相連接,用于將所述交流電傳輸給所述整流器;
以及
第二輸出端,用于輸出所述交流電。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述測(cè)試設(shè)備還包括接地設(shè)備,所述測(cè)試儀和所述待測(cè)繼電保護(hù)器均通過所述接地設(shè)備接地。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述接地設(shè)備包括接地排,其中,所述測(cè)試儀和所述待測(cè)繼電保護(hù)器連接至所述接地排。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于國(guó)家電網(wǎng)公司;國(guó)網(wǎng)北京市電力公司,未經(jīng)國(guó)家電網(wǎng)公司;國(guó)網(wǎng)北京市電力公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410654842.9/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種靜電-DEP除塵器
- 下一篇:成像裝置
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種多設(shè)備測(cè)試管理裝置
- 測(cè)試系統(tǒng)
- 一種設(shè)備的檢測(cè)方法、裝置和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試方法、存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試設(shè)備控制方法、裝置、系統(tǒng)和電子設(shè)備
- 一種軟件測(cè)試方法和設(shè)備平臺(tái)及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種BMS電路測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 一種軟件測(cè)試系統(tǒng)、方法、裝置、控制設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種設(shè)備測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





