[發(fā)明專利]一種東芝2.5寸硬盤平推式數據檢測設備以及檢測方法

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• 申請日: 2014-11-14
• 公開（公告）號: CN104391775A
• 公開（公告）日: 2015-03-04
• 發(fā)明（設計）人: 蔡楊毅;蔡杰;莫小麗;莫奕遠;蔡敏靈
• 申請（專利權）人: 江門市未來之星網絡科技有限公司
• 主分類號: G06F11/267
• 分類號: G06F11/267
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 江側燕

1.一種東芝2.5寸硬盤平推式數據檢測設備，其特征在于：包括硬盤安裝支架（1）和TTL主芯片電路板（5），所述硬盤安裝支架（1）包括與東芝2.5寸硬盤適配的進入口（11）和設置于其兩側用于供東芝硬盤推至后側底部的平推式導槽（12），所述硬盤安裝支架（1）包括設置于后側的接線面板（17），所述接線面板（17）上設置有與東芝硬盤COM口位置相對應的COM連接口（2），所述COM連接口（2）上設置有分別與東芝硬盤COM口內4根插針相對應的4個插口（21），所述TTL主芯片電路板（5）包括TTL主芯片（51）和用于連接PC控制器（6）的USB端口（52），所述COM連接口（2）內4根插口（21）的輸出端與TTL主芯片（51）連接；東芝2.5寸硬盤能從進入口（11）進入，沿平推式導槽（12）向安裝支架（1）后側運動，壓向接線面板（17），使硬盤上的COM口與COM連接口（2）自動連接，PC控制器（6）通過TTL主芯片（51）與硬盤進行串口通訊，所述PC控制器（6）設置有用于東芝2.5寸硬盤的數據檢測系統，所述數據檢測系統包括虛擬COM口設置單元和波特率設置單元。

2.根據權利要求1所述的一種東芝2.5寸硬盤平推式數據檢測設備，其特征在于：所述TTL主芯片（51）包括RXD端口和TXD端口，COM連接口（2）左邊開始第二、第三根插口（21）分別為與東芝硬盤RXD端和TXD端連接的RXD插口（22）和TXD插口（23），所述TTL主芯片（51）的RXD端口和TXD端口分別通過RXD插口（22）和TXD插口（23）連接東芝硬盤的RXD端和TXD端，通過RXD和TXD端實現東芝硬盤的底層通信。

3.根據權利要求1所述的一種東芝2.5寸硬盤平推式數據檢測設備，其特征在于：所述TTL主芯片（51）通過USB端口（52）連接至PC控制器（6）或直接焊接在PC控制器（6）的通信端口上。

4.根據權利要求1所述的一種東芝2.5寸硬盤平推式數據檢測設備，其特征在于：所述接線面板（17）上還設有與東芝硬盤ATA端口、電源端口位置相對應ATA插口（3）和電源插口（4），所述COM連接口（2）、ATA插口（3）和電源插口（4）位于同一水平線上，接線面板（17）上從左到右依次的排布為COM連接口（2）、ATA插口（3）、電源插口（4）。

5.根據權利要求1一種東芝2.5寸硬盤平推式數據檢測設備，其特征在于：所述硬盤進入口（11）上設置有朝外側方向打開的活動門（13），所述硬盤的后側底部上還設置有推桿（14），所述推桿（14）通過連桿（15）與活動門（13）連接，當活動門（13）打開時，推動連桿（15）向硬盤安裝支架（1）后側方向運動，同時聯動使推桿（14）向硬盤進入口（11）方向推動，將硬盤推出硬盤進入口（11）。

6.根據權利要求1所述的一種東芝2.5寸硬盤平推式數據檢測設備，其特征在于：所述硬盤安裝支架（1）的上側還設有在放入硬盤時能對硬盤產生向下夾持作用的彈性夾（16）。

7.根據權利要求1所述的一種東芝2.5寸硬盤平推式數據檢測設備，其特征在于：所述硬盤進入口（11）的長為70mm，寬為12mm。

8.一種東芝2.5寸硬盤的數據檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟a：接收東芝硬盤，將東芝硬盤正面朝上推入平推式導槽（12）中；

步驟b：使東芝硬盤后方的COM口與接線面板（17）上的COM連接口（2）連接；

步驟c：設置虛擬COM口和波特率，虛擬COM口為COM3至COM15，波特率設置為9600Bps；

步驟d：對東芝硬盤進行串口通訊測試，通訊測試通過后進入下一步驟；

步驟e：對東芝硬盤進行硬盤參數檢測，包括查看硬盤信息檢測、查看G表、進行S.M.A.R.T.檢測，若檢測后發(fā)現參數正常，進入下一個步驟；

步驟f：對東芝硬盤進行盤片檢測，檢測通過后進入下一步驟；

步驟g：對東芝硬盤進行扇區(qū)數據測試，測試通過表示數據可以恢復，否則表示數據已經丟失。

9.根據權利要求8所述的一種東芝2.5寸硬盤的數據檢測方法，其特征在于：步驟c中，所述COM口設置為COM3。

10.根據權利要求8所述的一種東芝2.5寸硬盤的數據檢測方法，其特征在于：步驟f中，所述盤片檢測具體方法是檢測目標存儲設備的每個扇區(qū)進行讀寫測試時的時間反饋值：

所有邏輯塊地址LBA值的時間反饋值均小于50毫秒，表示盤面品質正常；

部分邏輯塊地址LBA值的時間反饋值在50毫秒以上，表示存在危險磁道或者損壞磁道，盤片檢測不通過。