[發(fā)明專(zhuān)利]一種微束X射線熒光譜儀在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410649766.2 | 申請(qǐng)日: | 2014-11-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104316553A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-01-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 程琳;王君玲;段澤明;李融武;潘秋麗 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京師范大學(xué);北京市輻射中心 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/223 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/223 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100875*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 射線 熒光 | ||
1.一種微束X射線熒光譜儀,其特征在于,包括:X射線管(1),毛細(xì)管X光匯聚透鏡(2),樣品臺(tái)(4),位移傳感器(5),數(shù)模轉(zhuǎn)換卡(6),計(jì)算機(jī)(7);
所述X射線管(1)位于所述樣品臺(tái)(4)的上方,X射線透過(guò)所述毛細(xì)管X光匯聚透鏡(2)照射到樣品臺(tái)(4)上的樣品(3)上,所述樣品(3)與所述毛細(xì)管X光匯聚透鏡(2)之間的距離等于毛細(xì)管X光匯聚透鏡(2)的后焦距;
所述位移傳感器(5)位于所述樣品(3)的斜上方,其探測(cè)點(diǎn)與被測(cè)試點(diǎn)為同一點(diǎn);所述位移傳感器(5)與所述計(jì)算機(jī)(6)電連接,用于探測(cè)所述樣品(3)與所述位移傳感器(5)之間的垂直距離H,并將距離H的信號(hào)通過(guò)數(shù)模轉(zhuǎn)換卡(6)變成數(shù)字信號(hào)傳遞給計(jì)算機(jī)(7);
所述計(jì)算機(jī)(7)通過(guò)控制所述樣品臺(tái)(4)與毛細(xì)管X光匯聚透鏡(2)之間的距離,保持樣品(3)的被測(cè)試點(diǎn)處于毛細(xì)管X光透鏡的后焦距的位置。
2.如權(quán)利要求1所述的一種微束X射線熒光譜儀,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)(7)將信號(hào)傳遞給步進(jìn)電機(jī)控制器(8),隨后步進(jìn)電機(jī)控制器(8)將信號(hào)傳遞給步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器(9),再由步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器(9)驅(qū)動(dòng)由4個(gè)步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)(4)向XYZθ四個(gè)方向運(yùn)動(dòng)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種微束X射線熒光譜儀,其特征在于,所述位移傳感器(5)與水平面成45°夾角。
4.如權(quán)利要求1所述的一種微束X射線熒光譜儀,其特征在于,所述位移傳感器(5)采用高精度分辨率小于5微米的激光位移傳感器。
5.如權(quán)利要求1所述的一種微束X射線熒光譜儀,其特征在于,所述X射線管(1)采用Oxford?50微米,50瓦微焦斑X射線管。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于北京師范大學(xué);北京市輻射中心,未經(jīng)北京師范大學(xué);北京市輻射中心許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410649766.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





