[發(fā)明專利]激光等離子體譜測量裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410647333.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-11-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104515754B | 公開(公告)日: | 2018-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔡志龍;王陽;楊秋松;吳誼群 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/63 | 分類號(hào): | G01N21/63 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司31213 | 代理人: | 張澤純,張寧展 |
| 地址: | 201800 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 激光 等離子體 測量 裝置 | ||
1.一種激光等離子體譜測量裝置,其特征在于該裝置由激光激發(fā)和同步子系統(tǒng)、反射率監(jiān)控子系統(tǒng)、等離子體光譜接收子系統(tǒng)和樣品臺(tái)構(gòu)成;所述的激光激發(fā)和同步子系統(tǒng)包括激發(fā)光源(1)、分光片(2)、第一聚焦透鏡(3)、第一光電探測器(4)和示波器(5),沿所述的激發(fā)光源(1)的激光輸出方向依次是分光片(2)、第一聚焦透鏡(3)和樣品(18),在所述的分光片(2)的反射光方向是第一光電探測器(4),該第一光電探測器(4)的輸出端接所述的示波器(5)的輸入端;所述的反射率監(jiān)控子系統(tǒng)由探測光源(6)、衰減片(7)、第二聚焦透鏡(8)、第三聚焦透鏡(9)、濾波片(10)、第二光電探測器(11)和示波器(5)構(gòu)成,沿所述的探測光源(6)的激光輸出方向依次是所述的衰減片(7)、第二聚焦透鏡(8)和樣品(18),在經(jīng)過樣品(18)的探測光的反射方向依次是第三聚焦透鏡(9)、濾波片(10)、第二光電探測器(11),該第二光電探測器(11)的輸出端接所述的示波器(5)的輸入端;所述的等離子體光譜接收子系統(tǒng)由第四聚焦透鏡(12)、光纖耦合探頭(13)、光纖(14)、光譜儀(15)和計(jì)算機(jī)(16)構(gòu)成,在經(jīng)過樣品(18)的激發(fā)光的接收方向依次是所述的第四聚焦透鏡(12)、光纖耦合探頭(13)、光纖(14)、光譜儀(15),所述的光譜儀(15)的輸出端接所述的計(jì)算機(jī)(16)的輸入端;所述的樣品臺(tái)為電控樣品移動(dòng)臺(tái)(17),所述的計(jì)算機(jī)(16)的輸出端接所述的電控樣品移動(dòng)臺(tái)(17)的控制端,所述的樣品(18)固定在所述的電控樣品移動(dòng)臺(tái)(17)上,所述的第一聚焦透鏡(3)、第二聚焦透鏡(8)、第三聚焦透鏡(9)和第四聚焦透鏡(12)的焦點(diǎn)在所述的樣品(18)的同一點(diǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光等離子體譜測量裝置,其特征在于所述的激發(fā)光源(1)為摻鈦藍(lán)寶石飛秒激光器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光等離子體譜測量裝置,其特征在于所述的探測光源(6)為連續(xù)半導(dǎo)體激光器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光等離子體譜測量裝置,其特征在于所述的光譜儀(15)由中階梯光柵和ICCD組成。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





