[發明專利]缺陷檢測裝置及偏光片貼附設備

在審

• 申請號: 201410645979.8
• 申請日: 2014-11-12
• 公開（公告）號: CN104316541A
• 公開（公告）日: 2015-01-28
• 發明（設計）人: 孫琦;馬彬;趙秀強
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G06T7/00;G06T5/50
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 李相雨

技術領域

本發明涉及顯示領域，尤其涉及一種缺陷檢測裝置及偏光片貼附設備。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor-Liquid?Crystal?Display，簡稱TFT-LCD)是當前主流的平板顯示器，其基本結構包括彩膜基板、液晶層、陣列基板、偏光片等結構。

在液晶顯示器的制作工藝中，當Single?Panel在Sliming后，由于打磨緣故容易使面板的表面出現凹凸缺陷點，因此，需要在貼附偏光片(Pol)之前對面板的表面進行檢測，目前，通常是以人眼觀察的方式判斷面板上是否存在缺陷點，然而，對于面板上較小的凹凸點，其不易被人眼識別，容易造成漏檢，從而造成面板表面缺陷檢測可靠性不高的問題。

發明內容

(一)要解決的技術問題

本發明要解決的技術問題是提供一種缺陷檢測裝置及偏光片貼附設備，能夠提高面板表面缺陷檢測的可靠性。

(二)技術方案

為解決上述技術問題，本發明提供了一種缺陷檢測裝置，包括激光發射器、圖像采集裝置；

所述激光發射器用于向待測面板的表面照射激光；

所述圖像采集裝置用于根據所述表面中被照射激光的區域反射的激光獲取所述被照射激光的區域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區域的灰度圖像。

進一步地，所述圖像采集裝置包括：

光線接收模塊，用于采集所述表面中被照射激光的區域反射的激光；

轉換模塊，用于根據所述反射的激光獲取所述被照射激光的區域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區域的灰度圖像。

進一步地，所述缺陷檢測裝置還包括傳送裝置，所述激光發射器為固定在所述傳送裝置上方的線性激光發射器，通過所述傳送裝置控制所述待測面板在預設的方向移動得到多個對應所述表面不同區域的灰度圖像。

進一步地，所述待測面板的移動方向與所述線性發射器發射的線性激光垂直。

進一步地，所述激光發射器以及所述光線接收模塊均位于所述傳送裝置的正上方。

進一步地，所述圖像采集裝置還包括拼接模塊，用于將得到的多個灰度圖像進行拼接，得到所述待測面板的表面的整體灰度圖像。

進一步地，還包括顯示裝置，用于顯示所述圖像采集裝置得到的灰度圖像。

為解決上述技術問題，本發明還提供了一種偏光片貼附設備，包括上述任一的缺陷檢測裝置。

(三)有益效果

本發明提供的缺陷檢測裝置，首先通過激光發射器向面板的表面發射激光，而后通過圖像采集裝置根據待測面板表面反射的激光得到被照射激光區域的灰度圖像，在得到的灰度圖像中，不同位置的高度通過不同的灰度顯示，從而能夠更加直觀的反映出被照射區域中的缺陷信息，提高面板表面缺陷檢測的可靠性。

附圖說明

圖1是本發明實施方式提供的一種缺陷檢測裝置的示意圖；

圖2是本發明實施方式提供的另一種缺陷檢測裝置的示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例，對本發明的具體實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本發明，但不用來限制本發明的范圍。

圖1是本發明實施方式提供的一種缺陷檢測裝置的示意圖，該缺陷檢測裝置包括激光發射器1、圖像采集裝置2；

所述激光發射器1用于向待測面板3的表面照射激光；

所述圖像采集裝置2用于根據所述表面中被照射激光的區域31反射的激光獲取所述被照射激光的區域31中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區域31的灰度圖像。

具體地，圖像采集裝置可采用激光三角法獲取被照射激光的區域中不同位置的高度信息，其中，該圖像采集裝置包括：

光線接收模塊，用于采集所述表面中被照射激光的區域反射的激光；

轉換模塊，用于根據所述反射的激光獲取所述被照射激光的區域中不同位置的高度信息，并將所述高度信息轉換為對應的灰度信息，得到所述被照射激光的區域的灰度圖像。

本發明實施方式提供的缺陷檢測裝置，首先通過激光發射器向面板的表面發射激光，而后通過圖像采集裝置根據待測面板表面反射的激光得到被照射激光區域的灰度圖像，在得到的灰度圖像中，不同位置的高度通過不同的灰度顯示，從而能夠更加直觀的反映出被照射區域中的缺陷信息，提高面板表面缺陷檢測的可靠性。