[發(fā)明專利]一種巖心CT掃描分析方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410645526.5
• 申請日: 2014-11-12
• 公開（公告）號: CN104374682A
• 公開（公告）日: 2015-02-25
• 發(fā)明（設計）人: 冷振鵬;劉慶杰;呂偉峰;馬德勝;李彤;賈寧洪;楊思玉;吳康云
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08;G01N23/04
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 黨曉林;李永強

技術領域

本申請涉及巖心儲層評價分析技術領域，尤其涉及一種巖心CT掃描分析方法及裝置。

背景技術

計算機斷層掃描(Computed?Tomography，簡稱CT)技術是一種專門用來進行無損檢測和探傷的技術。近年來，隨著計算機工業(yè)的發(fā)展，CT掃描系統(tǒng)性能不斷提高，在石油工業(yè)許多領域得到了廣泛的應用。目前，CT掃描技術已成功應用于油氣田開發(fā)中的儲層評價和滲流規(guī)律研究，如巖心非均質(zhì)性表征、巖心在線飽和度測量以及巖心驅(qū)替流動實驗評價等領域。

CT掃描技術最大的優(yōu)勢就是其能夠在無損巖心的前提下獲取巖心內(nèi)部的信息，而CT掃描成像原理也決定其滿足能夠在較小尺度范圍內(nèi)開展定量分析的先決條件。因此，CT掃描技術除了無損巖心特性外，其具備從微觀視角來定量分析巖心內(nèi)部特征的特性。

不過就目前而言，現(xiàn)有的CT掃描分析方法普遍還是基于宏觀角度，如獲取巖心整體的平均孔隙度和平均飽和度以及孔隙度和飽和度參數(shù)的沿程分布特性等，缺少微觀定量的分析手段，微觀定量的分析結(jié)果也很少，而未來油層物理的發(fā)展趨勢必定是朝著更微觀更定量的方向發(fā)展。因此，從微觀角度來定量分析巖心內(nèi)部特征顯得很有必要。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實施例的目的是提供一種巖心CT圖像頻率分布分析方法及裝置，以實現(xiàn)從微觀視角來定量分析巖心及其中流體分布特征。

為解決上述技術問題，本申請實施例通過以下技術方案來實現(xiàn)：

本申請?zhí)峁┝艘环N巖心CT掃描分析方法，包括如下步驟：

獲取巖心樣品的計算機斷層掃描CT圖像，所述CT圖像含有巖心樣品中所有像素點的CT值；

提取目標區(qū)域內(nèi)CT圖像上每個像素點的CT值，所述目標區(qū)域包含有n×m個像素點，其中n,m為正整數(shù)；

利用所提取的CT值，計算目標區(qū)域內(nèi)CT圖像上每個像素點的儲層評價參數(shù)；

構(gòu)建目標區(qū)域內(nèi)所有像素點的儲層評價參數(shù)的頻率分布曲線；

利用所述儲層評價參數(shù)的頻率分布曲線，對所述巖心樣品進行分析。

優(yōu)選的，所述計算目標區(qū)域內(nèi)CT圖像中每個像素點的儲層評價參數(shù)包括：

將所述n×m個像素點整合成N個像素點，其中N和M均為正整數(shù)并且M>1；

計算整合成的N個像素點的CT值；

利用計算得到的CT值，計算整合成的N個像素點的儲層評價參數(shù)。

優(yōu)選的，所述計算目標區(qū)域內(nèi)CT圖像上每個像素點的儲層評價參數(shù)包括：

計算目標區(qū)域內(nèi)CT圖像上每個像素點的孔隙度和流體飽和度。

優(yōu)選的，所述計算整合成的N個像素點的儲層評價參數(shù)包括：

計算整合成的N個像素點的孔隙度和流體飽和度。

優(yōu)選的，所述計算目標區(qū)域內(nèi)CT圖像中每個像素點的孔隙度包括利用下述公式計算有傷害儲層的巖心樣品在目標區(qū)域內(nèi)每個像素點的孔隙度φ：

φ=CTgrain-CTtCTgrain-Σi=1jSfiCTi]]>

上式中CT_t為驅(qū)替過程中t時刻巖心斷層面的CT值；CT_grain為巖石骨架的CT值，S_fi為驅(qū)替過程中巖心斷層面中所含第i種流體的飽和度，CT_i為第i種流體的CT值，j為驅(qū)替過程中巖心斷層面中所含流體的種類數(shù)。

優(yōu)選的，所述計算目標區(qū)域內(nèi)CT圖像中每個像素點的流體飽和度包括利用下述公式計算巖心樣品在目標區(qū)域內(nèi)每個像素點的流體飽和度：