[發(fā)明專利]色度測(cè)試方法和色度測(cè)試設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410643707.4
• 申請(qǐng)日: 2014-11-07
• 公開（公告）號(hào): CN104316191A
• 公開（公告）日: 2015-01-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周麗佳
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01J3/46
• 分類號(hào): G01J3/46;G01B11/00
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 彭瑞欣;陳源

1.一種利用色度測(cè)試設(shè)備進(jìn)行色度測(cè)試的色度測(cè)試方法，所述色度測(cè)試設(shè)備包括色譜分析裝置和測(cè)試頭，所述測(cè)試頭包括透光孔，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

S1、測(cè)量待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸；

S2、根據(jù)步驟S1中測(cè)量得到的像素的尺寸確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑；

S3、根據(jù)步驟S2中確定的孔徑選擇相應(yīng)的透光孔對(duì)所述待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行色度測(cè)試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，步驟S3包括：

S31、判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑是否滿足測(cè)試要求；

S32、如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑滿足測(cè)試要求，則對(duì)所述待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試；

S33、如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑不滿足測(cè)試要求，則根據(jù)步驟S2中確定的孔徑更換相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試；

其中，步驟S31包括：

判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑與步驟S2中確定的孔徑是否一致。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，步驟S1包括：

S11、獲取待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片；

S12、根據(jù)步驟S11中獲取的像素的圖片計(jì)算出該像素的灰度值；

S13、根據(jù)步驟S12中計(jì)算出的灰度值計(jì)算出該像素的尺寸。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，所述像素包括多個(gè)亞像素，所述尺寸包括所述像素的每個(gè)亞像素的寬度。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，步驟S2還包括：

S21a、將待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸與預(yù)存的樣本像素的尺寸進(jìn)行對(duì)比；

S22a、根據(jù)對(duì)比結(jié)果確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，在步驟S22a中，當(dāng)所述亞像素的寬度大于25μm時(shí)，選擇孔徑為20μm的透光孔；當(dāng)所述亞像素的寬度小于25μm時(shí)，選擇孔徑為10μm的透光孔。

7.一種色度測(cè)試設(shè)備，包括色譜分析裝置和測(cè)試頭，其特征在于，所述色譜分析裝置包括：

測(cè)量模塊，用于測(cè)量待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸；

控制模塊，與所述測(cè)量模塊相連，用于根據(jù)測(cè)量得到的所述待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑；

所述測(cè)試頭包括：

透光孔切換器，所述透光孔切換器上設(shè)置有多個(gè)具有不同孔徑的透光孔，所述透光孔切換器與所述控制模塊相連，用于根據(jù)所述控制模塊確定的孔徑選取相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述控制模塊能夠判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑是否滿足測(cè)試要求，如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑不滿足測(cè)試要求，所述控制模塊控制所述透光孔切換器切換至相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)量模塊包括圖像采集子模塊，用于獲取待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述圖像采集子模塊包括電荷耦合元件。

11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)量模塊還包括圖像處理子模塊，所述圖像處理子模塊能夠根據(jù)所述待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片計(jì)算出該像素的灰度值，并根據(jù)該像素的灰度值計(jì)算出該像素的尺寸。

12.根據(jù)權(quán)利要求7至11中任意一項(xiàng)所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述色譜分析裝置還包括對(duì)比模塊，所述對(duì)比模塊內(nèi)預(yù)存有樣本像素的尺寸，所述對(duì)比模塊與所述測(cè)量模塊相連，用于將所述待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸與樣本像素的尺寸進(jìn)行對(duì)比，并將對(duì)比結(jié)果反饋給所述控制模塊，所述控制模塊根據(jù)對(duì)比結(jié)果來(lái)確定用于測(cè)試的透光孔的孔徑。