[發明專利]一種壞點遮蓋方法和系統有效
| 申請號: | 201410631943.4 | 申請日: | 2014-11-11 |
| 公開(公告)號: | CN104333676B | 公開(公告)日: | 2019-06-21 |
| 發明(設計)人: | 任立;李國新;吳大斌 | 申請(專利權)人: | 廣東中星微電子有限公司 |
| 主分類號: | H04N5/21 | 分類號: | H04N5/21;H04N17/00 |
| 代理公司: | 北京布瑞知識產權代理有限公司 11505 | 代理人: | 楊晞 |
| 地址: | 519031 廣東省珠海市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 遮蓋 方法 系統 | ||
本發明實施例提供一種壞點遮蓋方法和系統,解決了現有技術中由于芯片內SRAM的大小有限,而使得壞點表存儲受限,以及芯片制造成本增加的問題。該壞點遮蓋方法包括:將壞點表存儲在芯片外部存儲器;從所述芯片外部存儲器中讀取所述壞點表中的壞點坐標存入芯片內部存儲器;根據所述芯片內部存儲器中存儲的壞點坐標,對落入所述壞點坐標的顯示數據進行遮蓋處理;清除所述芯片內部存儲器中已完成遮蓋處理的壞點坐標;繼續從所述芯片外部存儲器中讀取壞點坐標存入所述芯片內部存儲器已清除的存儲空間。
技術領域
本發明涉及數字圖像處理領域,特別涉及一種壞點遮蓋方法和系統。
技術背景
現有技術中的壞點遮蓋是首先通過特殊程序檢測出圖像傳感器的壞點,將壞點的坐標保存在一壞點表中;然后芯片再根據該壞點表對圖像傳感器實時傳輸的顯示數據進行處理,以遮蓋算法對落入壞點坐標的顯示數據進行遮蓋。其中,壞點表存儲在芯片內部的單口SRAM(靜態存儲器)中。現有的SRAM一般只能儲存1024個壞點坐標,每個壞點坐標的位寬為12-bit。
然而隨著圖像傳感器分辨率的不斷提高,圖像傳感器的壞點數量以及壞點坐標的位寬也不斷增加。以4K分辨率的圖像傳感器為例,壞點坐標的位寬至少要擴展到13-bit,這樣現有SRAM的大小則至少需要增加4%。此外,4K分辨率的像素點數量高達4096*2160個,即使只有其中1%的像素點為壞點,芯片內SRAM的尺寸也必須成百倍增加。而增加SRAM的尺寸不僅有悖于當今社會對芯片“微型化”的要求,還會增加芯片的制造成本。
發明內容
有鑒于此,本發明實施例提供一種新的壞點遮蓋方法和系統,解決了現有技術中由于芯片內SRAM的大小有限,而使得壞點表存儲受限,以及芯片制造成本增加的問題。
本發明實施例提供了一種壞點遮蓋方法,包括:
將壞點表存儲在芯片外部存儲器;
從所述芯片外部存儲器中讀取所述壞點表中的壞點坐標存入芯片內部存儲器;
根據所述芯片內部存儲器中存儲的壞點坐標,對落入所述壞點坐標的顯示數據進行遮蓋處理;
清除所述芯片內部存儲器中已完成遮蓋處理的壞點坐標;
從所述芯片外部存儲器中讀取壞點坐標存入所述芯片內部存儲器已清除的存儲空間。
本發明實施例提供的一種壞點遮蓋方法系統,包括:
控制模塊,配置為從芯片外部存儲器中讀取壞點表中的壞點坐標存入芯片內部存儲器,其中,所述芯片外部存儲器預先存儲有所述壞點表;
遮蓋模塊,配置為根據所述芯片內部存儲器中存儲的壞點坐標,對落入所述壞點坐標的顯示數據進行遮蓋處理;
清除模塊,配置為清除所述芯片內部存儲器中已完成遮蓋處理的壞點坐標。
利用本發明實施例所提供的壞點遮蓋方法和系統,將壞點表存儲在芯片外部存儲器,壞點坐標的存儲以及壞點坐標的位寬不再受芯片內部存儲器的限制,擴展了壞點表的容量。此外,芯片內部存儲器不用同時存儲壞點表中的所有壞點坐標,減小了芯片內部存儲器的大小,這不僅有利于減小芯片制造尺寸,還降低了芯片的制造成本。
附圖說明
圖1所示為本發明一實施例所提供的壞點遮蓋方法的流程示意圖。
圖2所示為本發明一實施例所提供的壞點遮蓋方法的流程示意圖。
圖3所示為本發明一實施例所提供的壞點遮蓋系統的結構示意圖。
具體實施方式
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