[發(fā)明專利]形位公差綜合測量裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410631036.X
• 申請日: 2014-11-12
• 公開（公告）號: CN104315952A
• 公開（公告）日: 2015-01-28
• 發(fā)明（設計）人: 王玲;顏彬;萬幫浩;蔡黨生;周雨;李伯奎
• 申請（專利權）人: 淮陰工學院
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 淮安市科翔專利商標事務所 32110
• 代理人: 韓曉斌

技術領域

????本發(fā)明涉及測量裝置，具體涉及一種形位公差綜合測量裝置。

背景技術

對于機械零件的形位公差，目前應用較多的檢測裝備包括三坐標測量儀、圓度測量儀、平板和表架以及專用量具等。其中三坐標測量儀和圓度測量儀因為價格昂貴使用并不普及；平板及表架等通用工量具，雖然簡單并且測量范圍廣，但是相對而言精度不高，同時對操作者技術水平要求較高，使用效率低下；專用量具由于僅適用于特定的公差特征項目或特定結構，不具備使用的普遍性，應用范圍較窄。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的在于：提供一種形位公差綜合測量裝置，通過通用工量具的集成，以低成本和高效率實現(xiàn)大部分機械零件形位公差項目的測量，滿足一般中小型機械零件形位誤差的檢測需求。

本發(fā)明的技術解決方案是：該形位公差綜合測量裝置包括第一層工作臺、第二層工作臺、第三層工作臺、旋轉工作臺、立柱和帶表盤的表架；第二層工作臺的底部經槽安裝在第一層工作臺的頂部突起的直線導軌上，通過齒輪齒條機構驅動；第三層工作臺的底部經槽安裝在第二層工作臺的頂部突起的直線導軌上，通過齒輪齒條機構驅動；第三層工作臺的頂部安裝旋轉工作臺，立柱通過螺紋與第一層工作臺固聯(lián)，立柱上安裝帶表盤的表架，整體構成形位公差綜合測量裝置。

為了表述方便，建立空間坐標系：立柱的軸線為Z軸；Z軸與第一層工作臺底面的交點為坐標原點O；過原點O與第一層工作臺頂部突起的直線導軌平行的直線為X軸；過原點O與第二層工作臺頂部突起的直線導軌平行的直線為Y軸；第一層工作臺是整個測量裝置的底座，立柱通過螺紋與第一層工作臺固聯(lián)，表架底座套裝在立柱上，旋轉大螺母帶動表架底座沿立柱軸線上下移動，表架底座繞立柱的軸線轉動，既表架底座繞Z軸轉動，表架底座通過表架底座鎖緊螺釘鎖緊固定；帶表盤的表架與表架底座的伸出軸形成較小間隙的配合，帶表盤的表架軸向由螺母固定，帶表盤的表架繞其軸心線轉動并由表架固定塊卡住表架底座與帶表盤的表架，旋轉表架鎖緊螺釘鎖緊固定或松開帶表盤的表架，指示表的軸套插在帶表盤的表架的開口小孔中并通過指示表鎖緊螺釘鎖緊；第二層工作臺的底部經槽沿第一層工作臺的頂部突起的直線導軌移動，第二層工作臺與第一層工作臺通過齒輪齒條機構驅動，具體結構為：X軸移動調節(jié)旋鈕通過螺紋與一號軸固聯(lián)，一號軸通過過盈配合固聯(lián)X軸移動齒輪，X軸移動齒輪與X軸移動齒條嚙合，X軸移動齒條通過X軸移動齒條緊定螺釘固定在第二層工作臺的底部，四個一號滾子內孔套在第二層工作臺底部的伸出軸上形成較大間隙配合，一號螺母限制一號滾子沿其軸向脫落，四個一號滾子沿其軸線自如轉動，當齒輪齒條正常嚙合時，第二層工作臺底部的四個一號滾子壓在第一層工作臺的上表面，旋轉X軸移動調節(jié)旋鈕，通過齒輪齒條機構驅動第二層工作臺沿第一層工作臺的直線導軌即X軸方向滾動，X軸移動鎖緊螺釘與第一層工作臺通過螺紋連接，鎖緊塊通過螺紋與X軸移動鎖緊螺釘固聯(lián)，反向旋轉X軸移動鎖緊螺釘，鎖緊塊頂住第二層工作臺實現(xiàn)沿第一層工作臺直線移動鎖緊，正向旋轉X軸移動鎖緊螺釘解鎖；第三層工作臺底部經槽沿第二層工作臺頂部突起的直線導軌移動，第三層工作臺與第二層工作臺也通過齒輪齒條機構驅動，具體結構為：Y軸移動調節(jié)旋鈕通過螺紋與二號軸固聯(lián)，二號軸通過過盈配合固聯(lián)Y軸移動齒輪，Y軸移動齒輪與Y軸移動齒條嚙合，Y軸移動齒條通過Y軸移動齒條緊定螺釘固定在第三層工作臺的底部，四個二號滾子內孔套在第三層工作臺底部的伸出軸上形成較大間隙配合，二號螺母限制二號滾子沿其軸向脫落，四個二號滾子沿其軸線自如轉動，當齒輪齒條正常嚙合時，第三層工作臺底部的四個二號滾子壓在第二層工作臺的上表面，旋轉Y軸移動調節(jié)旋鈕，通過齒輪齒條機構驅動第三層工作臺沿第二層工作臺的直線導軌即Y軸方向滾動，Y軸移動鎖緊螺釘與第二層工作臺通過螺紋連接，反向旋轉Y軸移動鎖緊螺釘，第三層工作臺與第二層工作臺直線移動鎖緊，正向旋轉Y軸移動鎖緊螺釘解鎖；旋轉工作臺通過鎖緊螺釘與第三層工作臺聯(lián)接，旋轉工作臺繞其軸線旋轉。?

其中，在旋轉工作臺上安裝三爪卡盤與頂尖裝夾細長軸等回轉體類機械零件。

本發(fā)明的優(yōu)點是：該形位公差綜合測量裝置集成了平板、表架、導軌、旋轉工作臺等通用工量具，適用于大部分中小型機械零件形位公差的檢測，調整方便，成本低廉，降低對操作者的技術要求。

附圖說明

圖1?為形位公差綜合測量裝置主視圖。

圖2?為圖1的左視圖。

圖3?為圖1的E-E視圖。

圖4?為圖1的Ｄ-D視圖。