[發明專利]校正板及其時序校正方法有效
| 申請號: | 201410628794.6 | 申請日: | 2014-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN105652173B | 公開(公告)日: | 2018-08-21 |
| 發明(設計)人: | 陳厚君;林士聞;朱慶華;鄭柏凱 | 申請(專利權)人: | 致茂電子(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 上海宏威知識產權代理有限公司 31250 | 代理人: | 袁輝 |
| 地址: | 215011 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 校正 及其 時序 方法 | ||
1.一種校正板,可插拔地設置于一自動測試設備中,用以校正該自動測試設備中的多個測試信道的信號延遲,其特征在于,該校正板包含:
一第一共同節點;
多個校正群組,每一該校正群組包含:
一第二共同節點;以及
多個導電接墊,每一該導電接墊電性連接該第二共同節點,且每一該導電接墊用以選擇性地電性連接該些測試通道的其中一個測試通道;以及
一切換模塊,連接該第一共同節點和該些第二共同節點之間,
其中當一第一延遲校正程序被執行時,該切換模塊切斷該第一共同節點與該些第二共同節點間的連結;以及
當一第二延遲校正程序被執行時,該切換模塊致能該第一共同節點與該些第二共同節點間的連結;更包含:
一延遲偵測模塊,電性連接該第一共同節點和該些測試通道,用以在該第一延遲校正程序中偵測同一該校正群組電性連接的該些測試信道間的信號延遲,使同一該校正群組電性連接的該些測試通道被同步,以及在該第二延遲校正程序中偵測該些校正群組間的信號延遲,使該些校正群組被同步。
2.如權利要求1所述的校正板,其特征在于:其中該切換模塊為一開關數組,該開關數組提供多個切換路徑,每一該切換路徑選擇性地將該些第二共同節點的其中一個第二共同節點電性連接于該第一共同節點。
3.如權利要求2所述的校正板,其特征在于:其中該切換模塊為一繼電器數組。
4.一種時序校正方法,適用于一自動測試設備,其特征在于:該自動測試設備包含多個測試通道和可插拔的一校正板,該校正板包含多個校正群組、一第一共同節點和一切換模塊,每一該校正群組中包含一第二共同節點和電性連接該第二共同節點的多個導電接墊,每一該導電接墊選擇性地電性連接該些測試通道的其中一個測試信道,該切換模塊連接該第一共同節點和該些第二共同節點之間,該時序校正方法包含:
當一第一延遲校正程序被執行,并且由該切換模塊切斷該第一共同節點與該些第二共同節點間的連結時,偵測同一該校正群組的該些測試信道間的信號延遲,以同步同一該校正群組的該些測試通道;以及
當一第二延遲校正程序被執行,并且由該切換模塊致能該第一共同節點與該些第二共同節點間的連結時,偵測該些校正群組間的信號延遲,以同步該些校正群組;
其中該第二延遲校正程序包含:
選擇該些校正群組的其中一個校正群組作為一參考校正群組;
由該參考校正群組提供一參考信號至該第一共同節點;
由該些校正群組的其它校正群組依序提供一測試信號至該第一共同節點;
根據該測試信號和該參考信號,計算提供該測試信號的該校正群組的一延遲校正值;以及
根據該延遲校正值,校正提供該測試信號的該校正群組的信號延遲。
5.如權利要求4所述的時序校正方法,其特征在于:其中該第一延遲校正程序包含:
根據一合成信號,依序偵測并校正該些測試通道的接收延遲,該合成信號是根據部分的該些測試通道提供的一第一測試信號所產生;以及
根據一反射信號,依序偵測并校正該些測試通道的發射延遲,該反射信號是根據待校正的該測試通道所提供的一第二測試信號所產生。
6.如權利要求5所述的時序校正方法,其特征在于:其中根據該合成信號,依序偵測并校正該些測試通道的接收延遲的步驟包含:
逐一選擇該些測試通道的其中一個測試通道作為一第一待測通道;
由該些測試信道的其它測試信道同時輸出該第一測試信號至該第二共同節點,以產生該合成信號;
由該第二共同節點回傳該合成信號至對應該第一待測通道的該導電接墊;
根據被回傳的該合成信號,計算對應該第一待測通道的一第一校正值;以及
根據該第一校正值,校正該第一待測通道的接收延遲。
7.如權利要求5所述的時序校正方法,其特征在于:其中根據該反射信號,依序偵測并校正該些測試通道的發射延遲的步驟包含:
逐一選擇該些測試通道的其中一個測試通道作為一第二待測通道;
由該第二待測通道輸出一第二測試信號至該第二共同節點,以及由該些測試信道的其它測試信道同時輸出一第三測試信號至該第二共同節點,該第二測試信號不同于該第三測試信號;
由該第二共同節點根據該第二測試信號和該第三測試信號回傳該反射信號至對應該第二待測通道的該導電接墊,該反射信號不同于該第二測試信號;
根據被回傳的該反射信號,計算對應該第二待測通道的一第二校正值;以及
根據該第二校正值,校正該第二待測通道的發射延遲。
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