[發(fā)明專利]一種模擬集成電路的故障診斷及參數(shù)辨識(shí)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410623903.5
• 申請(qǐng)日: 2014-11-07
• 公開（公告）號(hào): CN104297670A
• 公開（公告）日: 2015-01-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 謝永樂(lè);周啟忠;謝三山;李西峰;畢東杰;謝暄;李帥霖
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 電子科技大學(xué);宜賓學(xué)院;成都工業(yè)學(xué)院
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 成都賽恩斯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51212
• 代理人: 王璐瑤

1.一種模擬集成電路的故障診斷及參數(shù)辨識(shí)方法，其特征在于：所述故障診斷及參數(shù)辨識(shí)方法步驟如下：

(1)將被測(cè)電路中需要進(jìn)行故障診斷和參數(shù)辨識(shí)的n個(gè)器件從1到n進(jìn)行編號(hào)，n＞1；設(shè)置每一器件的參數(shù)為p個(gè)狀態(tài)，p＞2，其中一個(gè)狀態(tài)為該器件的標(biāo)稱參數(shù)狀態(tài)，其余的p-1個(gè)狀態(tài)分別對(duì)應(yīng)該器件參數(shù)不同程度偏離其標(biāo)稱參數(shù)的狀態(tài)；

(2)針對(duì)步驟(1)中的n個(gè)器件，逐一選取其中一個(gè)器件，進(jìn)行以下步驟：

a)除被選器件外的其余器件參數(shù)均處于標(biāo)稱參數(shù)，分別對(duì)被選器件的p個(gè)狀態(tài)進(jìn)行仿真，得到被選器件的p個(gè)輸出響應(yīng)信號(hào)，并由輸出響應(yīng)信號(hào)生成對(duì)應(yīng)的p個(gè)輸出響應(yīng)矩陣；

b)針對(duì)步驟a)中得到的p個(gè)輸出響應(yīng)矩陣，分別計(jì)算每個(gè)輸出響應(yīng)矩陣的最大特征值和最小特征值，得到p個(gè)最大特征值和p個(gè)最小特征值；

c)將步驟b)中得到的p個(gè)最大特征值擬合成一條最大特征值直線，將步驟b)中得到的p個(gè)最小特征值擬合成一條最小特征值直線；

d)將被選器件參數(shù)容差的上限值分別代入步驟c)中得到的最大特征值直線和最小特征值直線，得到被選器件參數(shù)容差上限對(duì)應(yīng)的最大特征值和最小特征值；將被選器件參數(shù)容差的下限值分別代入步驟c)中得到的最大特征值直線和最小特征值直線，得到被選器件參數(shù)容差下限對(duì)應(yīng)的最大特征值和最小特征值；

最終得到n個(gè)器件中，每個(gè)器件的最大特征值直線和最小特征值直線，每個(gè)器件的參數(shù)容差上限對(duì)應(yīng)的最大特征值和最小特征值，及每個(gè)器件的參數(shù)容差下限對(duì)應(yīng)的最大特征值和最小特征值；

(3)用參數(shù)與步驟(2)a)中進(jìn)行仿真所用的仿真信號(hào)參數(shù)一樣的實(shí)際信號(hào)作為激勵(lì)信號(hào)去實(shí)測(cè)被測(cè)電路，測(cè)量被測(cè)電路的輸出響應(yīng)信號(hào)，得到實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)信號(hào)；根據(jù)實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)信號(hào)生成實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)矩陣，并計(jì)算得到實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)矩陣的最大特征值和最小特征值；

(4)將步驟(3)中得到的實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)矩陣的最大特征值分別代入步驟(2)中得到的每個(gè)器件的最大特征值直線，計(jì)算得到每個(gè)器件的參數(shù)值，然后將得到的每個(gè)器件的參數(shù)值分別代入步驟(2)中得到的相應(yīng)器件的最小特征值直線，計(jì)算得到n個(gè)假設(shè)情況下的最小特征值；

(5)將步驟(4)中得到的n個(gè)假設(shè)情況下的最小特征值分別與步驟(3)中得到的實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)矩陣的最小特征值相減并求絕對(duì)值，得到最小特征值的絕對(duì)誤差向量；

(6)針對(duì)步驟(5)中得到的最小特征值的絕對(duì)誤差向量，求出最小特征值絕對(duì)誤差向量中的最小元素及其對(duì)應(yīng)的下標(biāo)m，1≤m≤n；將步驟(3)中得到的實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)矩陣的最大特征值，與步驟(2)中得到的第m個(gè)器件參數(shù)容差上限對(duì)應(yīng)的最大特征值和第m個(gè)器件參數(shù)容差下限對(duì)應(yīng)的最大特征值進(jìn)行對(duì)比，同時(shí)將步驟(3)中得到的實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)矩陣的最小特征值，與步驟(2)中得到的第m個(gè)器件參數(shù)容差上限對(duì)應(yīng)的最小特征值和第m個(gè)器件參數(shù)容差下限對(duì)應(yīng)的最小特征值進(jìn)行對(duì)比；如果實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)矩陣的最大特征值大于等于第m個(gè)器件參數(shù)容差下限對(duì)應(yīng)的最大特征值、同時(shí)小于等于第m個(gè)器件參數(shù)容差上限對(duì)應(yīng)的最大特征值，且實(shí)測(cè)輸出響應(yīng)矩陣的最小特征值大于等于第m個(gè)器件參數(shù)容差下限對(duì)應(yīng)的最小特征值、同時(shí)小于等于第m個(gè)器件參數(shù)容差上限對(duì)應(yīng)的最小特征值，則判斷被測(cè)電路無(wú)故障，診斷結(jié)束；否則，判斷被測(cè)電路存在故障，繼續(xù)步驟(7)進(jìn)行故障定位和故障參數(shù)辨識(shí)；

(7)根據(jù)步驟(6)中得到的m定位被測(cè)電路的第m個(gè)器件存在故障；步驟(4)中得到的第m個(gè)器件的參數(shù)值就是故障器件的參數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模擬集成電路的故障診斷及參數(shù)辨識(shí)方法，其特征在于：步驟(2)c)中利用最小二乘法原理擬合最大特征值直線和最小特征值直線。