[發明專利]一種折射旋光一體儀的光學系統

有效

• 申請號: 201410619596.3
• 申請日: 2014-11-05
• 公開（公告）號: CN104316467A
• 公開（公告）日: 2015-01-28
• 發明（設計）人: 孫流星
• 申請（專利權）人: 上海儀電物理光學儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/21
• 分類號: G01N21/21;G02B27/28
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 周云

技術領域

本發明屬于物質分析儀器技術領域，具體講就是涉及一種折射旋光一體儀的光學系統，能夠滿足在一臺儀器上測量物質折射率或旋光度來分析物質成分的目的。

背景技術

折射儀是是利用光線測試液體濃度的儀器，用來測定折射率、雙折率、光性，折射率是物質的重要物理常數之一。許多純物質都具有一定的折射率，物質如果其中含有雜質則折射率將發生變化，出現偏差，雜質越多，偏差越大。折射儀主要由高折射率棱鏡(鉛玻璃或立方氧化鋯)、棱鏡反射鏡、透鏡、標尺(內標尺或外標尺)和目鏡等組成。折射儀有手持式折光儀、糖量折光儀、蜂蜜折光儀、寶石折光儀、數顯折光儀、全自動折光儀及在線折光儀等。折射儀廣泛應用于制糖、制藥、石油、食品、化工等工業部門及有關高等院校和科研單位。

旋光儀是測定物質旋光度的儀器，通過旋光度的測定，可以分析確定物質的濃度、含量及純度等。廣泛應用于制糖、制藥、石油、食品、化工等工業部門及有關高等院校和科研單位。

現實市場上有的物質只適合用折射儀來分析其成分，有的物質只適合用旋光儀來分析其物質成分，隨著工業的發展，越來越多的行業的原材料同時需用利用折射儀和旋光儀來檢測分析他們各自的產品。但現在沒有一臺儀器能夠既具有利用折射率來分析物質成分又同時能夠利用物質的旋光度來分析物質的成分，或者即使有這兩種集成的一體化設備，體積也十分龐大，攜帶不便。

發明內容

本發明的目的就是針對現有折射旋光一體儀的體積過于龐大，不易攜帶的技術缺陷，提供一種折射旋光一體儀的光學系統，直接利用計算的方式得到旋光度，減小了設備的體積，提高了測量的速度。

技術方案

為了實現上述技術目的，本發明設計一種折射旋光一體儀的光學系統，它包括折射光學系統和旋光光學系統，其特征在于：所述折射光學系統和旋光光學系統共用棱鏡樣品槽；

所述折射光學系統包括多波長LED光源，多波長LED光源發出的依次單色光射入第一消色差聚光透鏡后出射成像在棱鏡樣品槽槽底和被測物體的接觸面上，并產生全反射現象，反射圖像照射在線陣CCD采集系統敏感面上，形成黑白圖像，所述多波長LED光源受ARM控制器控制依次發出不同波長光；

所述旋光光學系統包括LED光源，所述LED光源發出的光經第二消色差聚光透鏡變成細平行光束出射后射到起偏鏡變成線偏振光射出，射出的線偏振光射入干涉濾光片變成波長為單色光束后射出，單色光束穿過裝有被測物體的棱鏡樣品槽上部空槽部分，得到旋轉一定角度的偏振光射出，射出光由偏振分光棱鏡分成兩束正交的偏振光，最后分別照射在第一硅光電池和第二硅光電池上，所述第一硅光電池和第二硅光電池受ARM控制器控制。

進一步，所述棱鏡樣品槽包括下部實心的臺錐體棱鏡，所述臺錐體棱鏡的大端面與矩形空心平面鏡結合在一起。

進一步，所述棱鏡樣品槽的折射率大于2。

有益效果

本發明提供的一種折射旋光一體儀的光學系統，直接利用計算的方式得到旋光度，減小了設備的體積，提高了測量的速度，整個設備沒有運動部件，儀器使用壽命長。

附圖說明

附圖1是本發明中折射光學系統結構示意圖。

附圖2是本發明中旋光光學系統結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例，對本發明做進一步說明。

實施例

如附圖1和2所示，一種折射旋光一體儀的光學系統，它包括折射光學系統和旋光光學系統，其中，所述折射光學系統和旋光光學系統共用棱鏡樣品槽1。

具體的，所述折射光學系統包括多波長LED光源2，多波長LED光源2發出的依次單色光射入第一消色差聚光透鏡3后出射成像在棱鏡樣品槽1槽底和被測物體1a的接觸面上，并產生全反射現象，反射圖像照射在線陣CCD采集系統4敏感面上，形成黑白圖像，所述多波長LED光源2受ARM控制器5控制依次發出不同波長光；