[發明專利]檢測夾具有效
| 申請號: | 201410610447.0 | 申請日: | 2014-11-03 |
| 公開(公告)號: | CN104634999B | 公開(公告)日: | 2019-02-22 |
| 發明(設計)人: | 太田憲宏;時政光伸;廣部幸祐;津村耕平 | 申請(專利權)人: | 日本電產理德股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 夾具 | ||
1.一種檢測夾具,用于電連接成為檢測對象之被檢測基板上設置的檢測點與檢測所述被檢測基板的檢測裝置,所述檢測夾具包括:
框架;
電極體,具有與所述檢測裝置電連接的電極;
導電性的接觸端子,具有導線形狀;
支撐塊,具有對向配置所述被檢測基板的對向面,將所述接觸端子的一端引導至載置于所述對向面的所述被檢測基板的所述檢測點,將所述接觸端子的另一端引導至所述電極,且沿與所述對向面交叉的移動方向,對于所述框架能相對移動;
加壓部,使所述支撐塊遠離所述電極體,且沿朝向所述被檢測基板的方向進行加壓;和
第一限制部件,從所述支撐塊沿朝向所述框架的延伸設置方向而延伸,進而架設在所述支撐塊與所述框架之間,具有伸縮性的同時,與所述對向面平行且與所述延伸設置方向交叉的第一方向的變形受限制,
所述第一限制部件是具有可撓性且形成有沿所述第一方向延伸的第一狹縫的板狀部件。
2.如權利要求1所述的檢測夾具,其中,在所述第一限制部件形成有多個所述第一狹縫。
3.如權利要求1或2所述的檢測夾具,其中還包括第二限制部件,在所述支撐塊與所述框架之間沿所述第一方向延伸而架設,具有伸縮性的同時,與所述對向面平行且與所述第一方向交叉的第二方向的變形受限制。
4.如權利要求3所述的檢測夾具,其中,所述第二限制部件是具有可撓性且形成有沿所述第二方向延伸的第二狹縫的板狀部件。
5.如權利要求4所述的檢測夾具,其中,在所述第二限制部件形成有多個所述第二狹縫。
6.如權利要求1或2所述的檢測夾具,其中,還包括第二限制部件,在所述支撐塊與所述框架之間沿所述第一方向延伸而架設,具有伸縮性的同時,與所述對向面平行且與所述第一方向交叉的第二方向的變形受限制,
所述支撐塊配置為在與所述對向面平行的平面上,被所述框架圍繞,在所述支撐塊的邊緣部與所述框架之間具有間隔,
所述第一限制部件和所述第二限制部件是,與所述對向面大致平行配置,且形成有能貫通所述接觸端子的開口部,由具有可撓性的板狀限制板片構成;
所述限制板片的中央部側與所述支撐塊相固著,所述限制板片的周邊部側與所述框架相固著;
在所述限制板片,于所述邊緣部與所述框架之間的空間內,形成有沿所述第一方向延伸的第一狹縫,以及沿與所述第一方向交叉的方向延伸的第二狹縫;
所述限制板片中的所述第一狹縫附近是所述第一限制部件,所述限制板片中的所述第二狹縫附近是所述第二限制部件。
7.如權利要求6所述的檢測夾具,其中,
所述支撐塊是,與所述對向面平行的剖面的形狀大致為矩形,具有沿所述第一方向延伸的第一邊和第二邊,以及沿所述第二方向延伸的第三邊和第四邊;
在所述限制板片,于所述框架與所述第一邊之間的空間內,并排設置兩個所述第一狹縫,于所述框架與所述第二邊之間的空間內,并排設置兩個所述第一狹縫,于所述框架與所述第三邊之間的空間內,并排設置兩個所述第二狹縫,于所述框架與所述第四邊之間的空間內,并排設置兩個所述第二狹縫;
所述框架與所述第一邊之間的所述兩個第一狹縫中的一個和所述框架與所述第三邊之間的所述兩個第二狹縫中的一個相連通而形成大致L字型的狹縫,所述框架與所述第三邊之間的另一個所述第二狹縫和所述框架與所述第二邊之間的所述兩個第一狹縫中的一個相連通而形成大致L字型的狹縫,所述框架與所述第二邊之間的另一個所述第一狹縫和所述框架與所述第四邊之間的所述兩個第二狹縫中的一個相連通而形成大致L字型的狹縫,所述框架與所述第四邊之間的另一個所述第二狹縫和所述框架與所述第一邊之間的另一個所述第一狹縫相連通而形成大致L字型的狹縫。
8.如權利要求6所述的檢測夾具,其中,
所述支撐塊能處于,
根據所述加壓部的加壓力,所述支撐塊從所述電極體遠離的等待狀態,以及
抵抗所述加壓部的加壓力進而從所述等待狀態沿所述移動方向變位的檢測狀態,
當所述支撐塊為所述檢測狀態時,所述限制板片變平坦。
9.如權利要求1或2所述的檢測夾具,其種,
所述支撐塊包括:
檢測側支撐體,具有對向配置所述被檢測基板的對向面,形成有檢測引導孔,所述檢測引導孔用于插入貫通所述接觸端子,進而將所述接觸端子的一端引導至在所述對向面上載置的所述被檢測基板的所述檢測點;
電極側支撐體,形成有電極引導孔,所述電極引導孔用于貫通插入所述接觸端子,進而將所述接觸端子的另一端引導至所述電極;以及
連接部件,將所述檢測側支撐體和所述電極側支撐體以所定的間隔進行配置而保持。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于日本電產理德股份有限公司,未經日本電產理德股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410610447.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





