[發明專利]一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法

有效

• 申請號: 201410610367.5
• 申請日: 2014-11-03
• 公開（公告）號: CN104502063B
• 公開（公告）日: 2017-02-15
• 發明（設計）人: 蔣衛敏;胡旭梁;翟莉芳;章丹楓
• 申請（專利權）人: 浙江中博光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 浙江英普律師事務所33238
• 代理人: 陳俊志

1.一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，包括以下步驟：

S1)待測件安裝：將待測LED光源置入試驗箱內安裝有散熱板的測試位，安裝后密閉試驗箱，開始測試；

S2)環境溫度調整：當待測LED光源正常工作后，通過溫度控制系統中的環境溫度檢測裝置檢測試驗箱內部溫度，當內部溫度達到穩定后，溫度控制系統中的加熱裝置開始工作，逐步加熱檢測試驗箱內部溫度至環境設定溫度；

S3)待測件老化：環境溫度調整后，在設定老化時間內維持該環境設定溫度；

S4)光通維持率測試：當設定老化時間到達后，從試驗箱中取出待測LED光源，進行光通維持率測試。

2.根據權利要求1所述的一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，其特征在于：所述步驟S1中，待測LED光源通過均溫板與散熱板連接。

3.根據權利要求1所述的一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，其特征在于：所述步驟S3中，通過LED溫度測試儀檢測待測LED光源外殼溫度，當待測LED光源外殼溫度低于外殼設定溫度時，標記該待測LED光源為異常，通過異常率控制待測件老化過程。

4.根據權利要求3所述的一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，其特征在于：當異常率大于等于30％時，退出檢測。

5.根據權利要求1所述的一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，其特征在于：所述步驟S2中逐步加熱檢測試驗箱內部溫度至環境設定溫度，首先進行正向加熱，等額增加加熱裝置功率，直至試驗箱內部溫度等于或超過環境設定溫度，若試驗箱內部溫度等于環境設定溫度，停止增加功率；若試驗箱內部溫度超過環境設定溫度，取最后功率作為上限端點，取初始功率與最后功率間任一功率作為下限端點，通過二分法調整功率，直到試驗箱內部溫度等于環境設定溫度。

6.根據權利要求5所述的一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，其特征在于：所述步驟S3中維持該環境設定溫度，當試驗箱內部溫度低于環境設定溫度時，等額增加加熱裝置功率，直至試驗箱內部溫度等于或超過環境設定溫度，若試驗箱內部溫度等于環境設定溫度，停止增加功率；若試驗箱內部溫度超過環境設定溫度，取最后功率作為上限端點，取初始功率與最后功率間任一功率作為下限端點，通過二分法調整功率，直到試驗箱內部溫度等于環境設定溫度；當試驗箱內部溫度高于環境設定溫度時，取最后功率作為上限端點，取初始功率與最后功率間任一功率作為下限端點，通過二分法調整功率，直到試驗箱內部溫度等于環境設定溫度。

7.根據權利要求6所述的一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，其特征在于：二分法調整過程中，取最后功率的前一次功率作為下限端點。

8.根據權利要求1至7任一所述的一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，其特征在于：所述待測LED光源在測試過程中，正常工作外殼溫度分別設定為55℃、85℃及105℃。

9.根據權利要求8所述的一種LED光源高溫長期光通維持率檢測方法，其特征在于：所述步驟S2中，加熱裝置的初始功率為1kw，等額增加功率為0.5kw。