[發(fā)明專利]標(biāo)簽缺陷檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410610077.0 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104318573A | 公開(公告)日: | 2015-01-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張俊峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣州超音速自動(dòng)化科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06K9/38 |
| 代理公司: | 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 湯喜友 |
| 地址: | 510006 廣東省廣州市番禺區(qū)小*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 標(biāo)簽 缺陷 檢測(cè) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù),具體涉及標(biāo)簽缺陷檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
目前,在市場(chǎng)上,針對(duì)每類產(chǎn)品設(shè)置有與該類產(chǎn)品對(duì)于的條碼標(biāo)簽,以唯一標(biāo)識(shí)該類產(chǎn)品,條碼標(biāo)簽粘貼或打印在相應(yīng)的產(chǎn)品上;條碼上設(shè)置的條碼記錄有多種產(chǎn)品信息,如廠家、產(chǎn)品級(jí)別、生產(chǎn)日期、原材料供應(yīng)商等,不僅在購(gòu)買產(chǎn)品時(shí),通過掃描產(chǎn)品上的條碼標(biāo)簽來識(shí)別產(chǎn)品的相關(guān)信息,還可以通過條碼標(biāo)簽追蹤產(chǎn)品信息、查詢歷史等。
目前常用的條碼標(biāo)簽由多條豎線以及在豎線的上部或下部的字符構(gòu)成。廠商在打印條碼標(biāo)簽后,還需要人工對(duì)條碼標(biāo)簽進(jìn)行檢查,看是否存在打印缺陷。另外,雖然申請(qǐng)?zhí)枮?01120107718.2的中國(guó)實(shí)用新型專利公開了一種條碼標(biāo)簽的檢測(cè)裝置,其能代替人工檢查,但是,其僅能對(duì)豎線進(jìn)行檢查,不能對(duì)字符進(jìn)行檢查。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提出一種標(biāo)簽缺陷檢測(cè)方法,其能解決不能對(duì)字符進(jìn)行檢查的問題。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下:
標(biāo)簽缺陷檢測(cè)方法,其包括以下步驟:
步驟1、對(duì)打印好的標(biāo)簽進(jìn)行圖像獲取;
步驟2、逐一的將預(yù)先存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)字符與所述標(biāo)簽上的其中一待比對(duì)字符進(jìn)行疊加并按照公式一進(jìn)行計(jì)算,所述公式一為:計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓與待比對(duì)字符的輪廓二者對(duì)應(yīng)的位置的乘積,若對(duì)應(yīng)的位置都是輪廓,則乘積為1,否則為0,將所有乘積結(jié)果進(jìn)行求和,以得到相似度值;
步驟3、若存在求和結(jié)果最大的相似度值大于或等于預(yù)設(shè)的第一閾值,則將所述求和結(jié)果最大的相似度值所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符作為所述待比對(duì)字符,記錄所述待比對(duì)字符的當(dāng)前坐標(biāo)并執(zhí)行步驟4,否則對(duì)所述待比對(duì)字符的當(dāng)前位置進(jìn)行嚴(yán)重缺陷標(biāo)記并直接跳轉(zhuǎn)至步驟8;
步驟4、進(jìn)一步判斷所述待比對(duì)字符的相似度值是否小于預(yù)設(shè)的第二閾值,若是,則執(zhí)行步驟5,否則跳轉(zhuǎn)至步驟8;
步驟5、將對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符與所述待比對(duì)字符進(jìn)行疊加并按照公式二進(jìn)行計(jì)算,所述公式二為:統(tǒng)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓與待比對(duì)字符的輪廓二者對(duì)應(yīng)的位置的乘積為0的次數(shù),并將乘積為0的位置連接起來形成缺陷區(qū)域;
步驟6、若所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)的第三閾值,且所述缺陷區(qū)域的面積超過預(yù)設(shè)的第四閾值,則先執(zhí)行步驟7在執(zhí)行步驟8,否則直接執(zhí)行步驟8;
步驟7、將所述缺陷區(qū)域進(jìn)行顏色標(biāo)記;
步驟8、重復(fù)步驟2至步驟7,直到完成所述標(biāo)簽上的所有待比對(duì)字符的比對(duì)。
優(yōu)選的,所述標(biāo)準(zhǔn)字符的獲取過程如下:
步驟A、對(duì)含有一字符的區(qū)域進(jìn)行圖像獲取,以得到字符區(qū)域;
步驟B、對(duì)所述字符區(qū)域進(jìn)行二值化處理;
步驟C、將與預(yù)設(shè)的字號(hào)不匹配的圖形進(jìn)行刪除,以得到字符;
步驟D、對(duì)所述字符進(jìn)行邊緣梯度計(jì)算以及二值化處理,以得到所述字符的輪廓;
步驟E、將所述字符的輪廓區(qū)域賦值為1,非輪廓區(qū)域賦值為0,以得到標(biāo)準(zhǔn)字符。
進(jìn)一步優(yōu)選的,步驟B與步驟C之間還有以下步驟:采用開運(yùn)算對(duì)二值化處理后的字符區(qū)域進(jìn)行圖像處理。
優(yōu)選的,在步驟2中,所述待比對(duì)字符的獲取過程如下:
步驟21、對(duì)所述標(biāo)簽的圖像進(jìn)行二值化處理;
步驟22、將與預(yù)設(shè)的字號(hào)不匹配的圖形進(jìn)行刪除,以得到多個(gè)字符;
步驟23、對(duì)每一個(gè)字符進(jìn)行邊緣梯度計(jì)算以及二值化處理,以得到每一個(gè)字符的輪廓;
步驟24、將每一個(gè)字符的輪廓區(qū)域賦值為1,非輪廓區(qū)域賦值為0,以得到待比對(duì)字符。
進(jìn)一步優(yōu)選的,步驟22與步驟23之間還有以下步驟:計(jì)算每一個(gè)字符的灰度均值和標(biāo)準(zhǔn)差,將標(biāo)準(zhǔn)差小于第五閾值的區(qū)域刪除。
優(yōu)選的,所述標(biāo)準(zhǔn)字符為英文字母、漢字、數(shù)字和圖標(biāo)符號(hào)中的一種。
本發(fā)明具有如下有益效果:
能夠識(shí)別出標(biāo)簽中出現(xiàn)的字符缺陷,并且采用標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓信息作為模板,減少后續(xù)計(jì)算的運(yùn)算量,比對(duì)效率高。
附圖說明
圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施例的標(biāo)簽缺陷檢測(cè)方法的流程圖;
圖2為具有缺陷的標(biāo)簽示意圖。
具體實(shí)施方式
下面,結(jié)合附圖以及具體實(shí)施方式,對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步描述。
本實(shí)施例公開了一種標(biāo)簽缺陷檢測(cè)方法。在執(zhí)行該方法前,可對(duì)標(biāo)準(zhǔn)字符進(jìn)行獲取,其獲取過程如下:
步驟A、可采用500萬像素的相機(jī)對(duì)含有一字符的區(qū)域進(jìn)行圖像獲取,以得到字符區(qū)域。所述字符可以是英文字母、漢字、數(shù)字和圖標(biāo)符號(hào)中的任意一種。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣州超音速自動(dòng)化科技有限公司,未經(jīng)廣州超音速自動(dòng)化科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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