[發明專利]一種測量尺

在審

• 申請號: 201410609657.8
• 申請日: 2014-10-31
• 公開（公告）號: CN104296611A
• 公開（公告）日: 2015-01-21
• 發明（設計）人: 劉崇業;李行;張文;孟凡昊
• 申請（專利權）人: 合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01B3/04
• 分類號: G01B3/04
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 柴亮;張天舒

技術領域

本發明涉及尺寸測量的技術領域，具體地，涉及一種能在保持與待檢測物之間的安全距離的位置上，對待檢測物的尺寸進行精確檢測的測量尺。

背景技術

在工業生產及日常生活中，人們經常需要測量一些物體的尺寸；其測量方法一般是將具有刻度的測量尺貼在待檢測物的表面，并根據測量尺表面的刻度，讀取所需的物體的尺寸。但在一些特殊情況下，將測量尺直接貼在待檢測物的表面，會帶來一些不良后果，這時就需要在與待檢測物保持安全距離的情況下測量待檢測物的尺寸。

例如，在薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display，以下簡稱為TFT?LCD)領域，利用取向膜印刷機制備取向膜時，需要檢測聚酰亞胺(Polyimide，簡稱為PI)液被勻膠輥(Anilox?Roller)和印刷感光樹脂版(APR版)擠壓，以及被APR版和玻璃基板擠壓時所形成PI膜的寬度(NIP值)來確定勻膠輥和印刷感光樹脂版之間，以及印刷感光樹脂版和玻璃基板之間的壓力是否合適。并且，由于APR版和玻璃基板易損壞，且造價較高，在檢測NIP值時，測量尺不能與APR版和玻璃基板接觸；具體地，檢測NIP值的方法一般如下：將測量尺貼近PI膜，根據測量尺表面的刻度，估讀出檢測結果。

在根據上述方法檢測NIP值時，由于測量尺不能與APR版及玻璃基板接觸，從而會導致：在測量尺與其的距離較近時，測量尺容易意外碰到APR版及玻璃基板，造成APR版及玻璃基板的損壞；在測量尺與其的距離較遠時，估讀出的檢測結果會不準確。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一，提出了一種測量尺，其可以在保持與待檢測物之間的安全距離的位置上，準確地檢測待檢測物的尺寸值。

為實現本發明的目的而提供一種測量尺，包括平行層疊設置的面光源和透光板；所述面光源用于向所述透光板發射平行光線；所述透光板上設有刻度，所述刻度區域的透光率大于所述刻度區域外的透光板其他區域的透光率。

其中，所述測量尺還包括框架，所述面光源和透光板設置在所述框架上。

其中，所述測量尺還包括開關，所述開關用于開啟和關閉所述面光源。

其中，所述面光源包括多個子光源。

其中，所述子光源為條狀光源，多個所述條狀光源平行設置。

其中，所述子光源為點光源或貼片光源，多個所述點光源或貼片光源排列成矩陣。

優選地，所述子光源為貼片光源，所述貼片光源的厚度小于2mm。

其中，所述子光源為發光二極管。

其中，所述發光二極管的發光角度小于30度。

其中，所述面光源的發光顏色為黃色或紅色。

其中，所述刻度區域的透光率和所述刻度區域外的透光板其他區域的透光率的差值大于50％。

本發明具有以下有益效果：

本發明提供的測量尺，其透光板上設有刻度，并且刻度區域的透光率大于刻度區域外的透光板其他區域的透光率，從而在面光源向透光板發射光線時，透光板上的刻度被投影到光線到達的物體上；并且，由于面光源和透光板平行設置，投影到物體上的刻度不會產生變形；從而使待檢測物置于光線傳播的路徑上，并保持待檢測物和測量尺之間具有安全距離，通過讀取投影到待檢測物上的刻度，即可獲得待檢測物的相應尺寸的準確值；與現有技術相比，本發明提供的測量尺在不與待檢測物接觸，從而不會導致不良后果的情況下，可以準確地檢測待檢測物的尺寸。

附圖說明

附圖是用來提供對本發明的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與下面的具體實施方式一起用于解釋本發明，但并不構成對本發明的限制。在附圖中：

圖1為本發明提供的測量尺的實施方式的示意圖；

圖2為圖1所示測量尺的結構圖；

圖3為圖1所示測量尺測量時的狀態圖。

其中，附圖標記：

1：測量尺；10：面光源；11：透光板；12：框架；13：開關；100：子光源。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的具體實施方式進行詳細說明。應當理解的是，此處所描述的具體實施方式僅用于說明和解釋本發明，并不用于限制本發明。