[發明專利]一種檢測單齒大徑的止規

在審

• 申請號: 201410606419.1
• 申請日: 2014-10-28
• 公開（公告）號: CN104344772A
• 公開（公告）日: 2015-02-11
• 發明（設計）人: 段含輝
• 申請（專利權）人: 重慶永達精密機械有限公司
• 主分類號: G01B3/12
• 分類號: G01B3/12
• 代理公司: 重慶市前沿專利事務所(普通合伙) 50211
• 代理人: 劉興順

技術領域

本發明屬于大徑檢測領域，具體地說，尤其涉及一種檢測單齒大徑的止規。

背景技術

單齒花鍵孔完成加工后，需要檢測其大徑尺寸是否超差。現有的檢測方式是先利用光學顯微鏡獲取產品圖像，再止過人工方式來看花鍵孔的大徑。由于光學顯微鏡獲取產品圖像的分辨率低，人工獲取花鍵孔大徑的過程中就存在較大的誤差，且不同的檢測人員得出的檢測結果可能有很大差異，甚至于完全不同，為此急需解決上述技術問題。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種檢測單齒大徑的止規，欲提高檢測精度。

本發明的技術方案如下：一種檢測單齒大徑的止規，其特征在于：該止規的本體(1)為四段式階梯結構，從左往右依次為防碰傷圓柱段(1a)、外花鍵段(1b)、手握圓柱段(1c)和定位基準圓柱段(1d)構成，其中：所述防碰傷圓柱段(1a)的長度為8mm，其直徑為所述外花鍵段(1b)的長度為30mm，其大徑為其中徑為且所述手握圓柱段(1c)的長度為115mm；所述定位基準圓柱段(1d)的長度為10mm，其直徑為

在以上技術方案中，所述定位基準圓柱段(1d)用于定位，以便外花鍵段(1b)精確地檢測單齒大徑的尺寸，進而有效判斷單齒大徑的尺寸是否超過規定的上偏差，且本止規的結構簡單，易于制造，檢測方便，具有很好的實用性。

所述防碰傷圓柱段(1a)與外花鍵段(1b)的連接處加工有退刀槽，且所述手握圓柱段(1c)的外圓面滾有網紋。

在上述結構中，所述退刀槽能夠方便加工，而網紋便于檢測人員手握。

有益效果：本發明的定位基準圓柱段用于定位，以便外花鍵段精確地檢測單齒大徑的尺寸，進而有效判斷單齒大徑的尺寸是否超過規定的上偏差，且本止規的結構簡單，易于制造，檢測方便，具有很好的實用性。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發明作進一步說明：

如圖1所示，一種檢測單齒大徑的止規，該止規的本體1為四段式階梯結構，從左往右依次為防碰傷圓柱段1a、外花鍵段1b、手握圓柱段1c和定位基準圓柱段1d構成。其中：防碰傷圓柱段1a的長度為8mm，其直徑為所述外花鍵段1b的長度為30mm，其大徑為其中徑為且所述手握圓柱段1c的長度為115mm；所述定位基準圓柱段1d的長度為10mm，其直徑為所述防碰傷圓柱段1a與外花鍵段1b的連接處加工有退刀槽，該退刀槽的長度為2mm，其外徑為18mm，且手握圓柱段1c的外圓面滾有網紋。

以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，并不以本發明為限制，凡在本發明的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。