[發(fā)明專利]硅基液晶波長選擇開關溫度自適應調整的方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410605910.2
• 申請日: 2014-10-30
• 公開（公告）號: CN104297857A
• 公開（公告）日: 2015-01-21
• 發(fā)明（設計）人: 尤全;謝德權;劉子晨;孟令恒;楊奇
• 申請（專利權）人: 武漢郵電科學研究院
• 主分類號: G02B6/35
• 分類號: G02B6/35;G02B6/293
• 代理公司: 北京捷誠信通專利事務所(普通合伙) 11221
• 代理人: 魏殿紳;龐炳良

技術領域

本發(fā)明涉及光通信技術領域，具體涉及硅基液晶波長選擇開關溫度自適應調整的方法及裝置。

背景技術

波分復用技術的問世和發(fā)展給通信行業(yè)帶來了革命性的變革，利用波分復用技術把不同的波長復用在一根光纖中傳輸,大大提升了通信系統(tǒng)的容量。

其中，OXC(Optical?Cross?Connect,光交叉連接)設備和ROADM(Reconfigurable?Optical?Add?and?Drop?Multiplexer，可重構光分插復用器)作為波分復用網絡中的核心光交換設備，能夠在任一端口對任意波長進行配置，而這些設備的關鍵是波長選擇開關。

波長選擇開關通常分布在光網絡的多個不同節(jié)點上，需具備在惡劣的條件下穩(wěn)定工作的能力，硅基液晶波長選擇開關中的硅基液晶隨溫度的變化非常敏感，溫度變化時，硅基液晶的灰度值會產生相應的改變，從而使波長選擇開關的穩(wěn)定性隨之改變，因此控制溫度以維持硅基液晶的光學和動態(tài)特性尤其重要。

目前的做法通常是在波長選擇開關中加入溫控單元，通過溫度傳感器獲得硅基液晶附近的溫度值，溫控單元通過比例、積分、微分三方面的結合調整形成一個模糊控制來解決慣性溫度誤差問題，進而調整半導體致冷器的功率，將硅基液晶附近的溫度穩(wěn)定在最佳溫度，以達到保證波長選擇開關工作穩(wěn)定的目的，但是，這種結構的波長選擇開關主要存在如下問題：

(1)集成的部件較多，電路比較復雜；

(2)波長選擇開關模塊的體積較大；

(3)波長選擇開關模塊的成本較高。

由此可見，現(xiàn)有的波長選擇開關體積較大、成本較高，且穩(wěn)定性較差。

發(fā)明內容

本發(fā)明所要解決的技術問題是現(xiàn)有的波長選擇開關體積較大、成本較高，且穩(wěn)定性較差的問題。

為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種硅基液晶波長選擇開關溫度自適應調整的方法，包括以下步驟：

將波長選擇開關放入烤箱內，測試不同溫度下不同波長的輸入光信號切換到不同輸出端口時的灰度值，并制作相應的灰度圖，存儲到存儲器中；

利用溫度傳感器檢測得到波長選擇開關的當前溫度，查詢所述存儲器獲得到當前溫度對應的灰度圖；

將當前溫度對應的灰度圖下載到波長選擇開關中，利用當前溫度對應的灰度圖進行光信號切換。

在上述方法中，利用線性擬合制作不同波長的輸入光信號切換到不同輸出端口時的灰度圖。

本發(fā)明還提供了一種硅基液晶波長選擇開關，包括波長選擇開關本體，還包括：

溫度傳感器，固定在所述波長選擇開關本體的外側面上；

存儲器，保存有不同波長的輸入光信號切換到不同輸出端口時的灰度圖；

處理器，根據(jù)所述溫度傳感器檢測到的所述波長選擇開關本體的當前溫度，查詢所述存儲器獲得到當前溫度對應的灰度圖，并將所述當前溫度對應的灰度圖下載到波長選擇開關中，利用當前溫度對應的灰度圖進行光信號切換。

在上述硅基液晶波長選擇開關中，利用線性擬合制作不同波長的輸入光信號切換到不同輸出端口時的灰度圖，并保存到所述存儲器中。

本發(fā)明，根據(jù)不同溫度下不同波長的輸入光信號切換到不同輸出端口時的灰度值制作相應的灰度圖并存儲，利用溫度傳感器檢測到的波長選擇開關的當前溫度，獲取當前溫度對應的灰度圖，并根據(jù)灰度圖進行光信號切換，該波長選擇開關體積較小，集成的部件較少，電路簡單，穩(wěn)定性高。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例提供的一種硅基液晶波長選擇開關溫度自適應調整的方法流程圖；

圖2為本發(fā)明實施例提供的硅基液晶波長選擇開關的封裝示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例提供的30℃時輸入光信號切換到輸出端口1的灰度圖；

圖4為本發(fā)明實施例提供的35℃時輸入光信號切換到輸出端口1的灰度圖；

圖5為本發(fā)明實施例提供的一種硅基液晶波長選擇開關的示意圖。

具體實施方式

下面結合說明書附圖和具體實施方式對本發(fā)明做出詳細的說明。

本發(fā)明實施例提供了一種硅基液晶波長選擇開關溫度自適應調整的方法，如圖1所示，該方法包括以下步驟：

步驟101、將硅基液晶波長選擇開關放入烤箱內進行測試。