[發(fā)明專利]玻璃應(yīng)力測(cè)量裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410605138.4
• 申請(qǐng)日: 2014-11-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104330359A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-02-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 尚修鑫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州精創(chuàng)光學(xué)儀器有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/21
• 分類號(hào): G01N21/21
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

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技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種玻璃檢測(cè)裝置，特別涉及一種玻璃應(yīng)力測(cè)量裝置。

背景技術(shù)

由于生產(chǎn)工藝的特殊性，在制作完成后的玻璃制品中還或多或少地存在內(nèi)應(yīng)力。在玻璃成型過(guò)程中，由于外部機(jī)械力的作用或冷卻時(shí)熱不均勻所產(chǎn)生的應(yīng)力稱為熱應(yīng)力或宏觀應(yīng)力。在玻璃內(nèi)部，由于成分不均勻而形成的微不均勻區(qū)所造成的應(yīng)力稱為結(jié)構(gòu)應(yīng)力或微觀應(yīng)力。在玻璃內(nèi)相當(dāng)于晶胞大小的體積范圍內(nèi)所存在的應(yīng)力稱為超微觀應(yīng)力。由于玻璃的結(jié)構(gòu)特性，其中的微觀與超微觀應(yīng)力極小，對(duì)玻璃的機(jī)械強(qiáng)度影響不大。影響最大的是玻璃中的熱應(yīng)力，因?yàn)檫@種應(yīng)力通常是極不均勻的，嚴(yán)重時(shí)會(huì)降低玻璃制品的機(jī)械強(qiáng)度和熱穩(wěn)定性，影響制品的安全使用，甚至?xí)l(fā)生自裂現(xiàn)象。因此，為了保證使用時(shí)的安全，對(duì)各種玻璃制品都規(guī)定其殘余的內(nèi)應(yīng)力不能超過(guò)某一規(guī)定值。對(duì)于光學(xué)玻璃，較大應(yīng)力的存在將嚴(yán)重影響光透過(guò)和成像質(zhì)量。因此，測(cè)量玻璃的內(nèi)應(yīng)力是控制質(zhì)量的一種手段，特別是質(zhì)量要求較高的貴重的或精密的產(chǎn)品尤其重要，由于地震而頻發(fā)災(zāi)害，都市的高樓大廈、公寓的窗用玻璃都會(huì)使用安全玻璃，關(guān)于建筑用的安全玻璃沒(méi)有明確的規(guī)格，以前的測(cè)定器感應(yīng)度很低，難以進(jìn)行充分的品質(zhì)管理。

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發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述缺陷，本發(fā)明提供了一種能夠解決上述問(wèn)題的玻璃應(yīng)力測(cè)量裝置。

本發(fā)明為了解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：一種玻璃應(yīng)力測(cè)量裝置，包括光源、聚光鏡、反光鏡、起偏鏡、全波片、發(fā)散鏡和檢偏鏡，所述光源射出的光線依次經(jīng)過(guò)聚光鏡、反光鏡、起偏鏡、全波片、發(fā)散鏡后照射到被測(cè)試樣，經(jīng)過(guò)被測(cè)試樣后進(jìn)入檢偏鏡，所述被測(cè)試樣置于臺(tái)面玻璃上。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，設(shè)有兩個(gè)聚光鏡，所述兩個(gè)聚光鏡之間的距離大于他們的焦距。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述聚光鏡和光源之間設(shè)有隔熱片。

本發(fā)明的有益效果是：?本發(fā)明的玻璃應(yīng)力檢測(cè)裝置能夠快速有效地檢測(cè)出玻璃表面的應(yīng)力，且本裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便，測(cè)量精度高，成本低廉，適用于大多數(shù)的玻璃表面應(yīng)力測(cè)量。

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附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖；

圖中標(biāo)示：1-光源；2-聚光鏡；3-反光鏡；4-起偏鏡；5-全波片；6-發(fā)散鏡；7-檢偏鏡；8-被測(cè)試樣；9-臺(tái)面玻璃；10-隔熱片。

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具體實(shí)施方式

為了加深對(duì)本發(fā)明的理解，下面將結(jié)合實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳述，該實(shí)施例僅用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。

圖1示出了本發(fā)明一種玻璃應(yīng)力測(cè)量裝置的一種實(shí)施方式，包括光源1、聚光鏡2、反光鏡3、起偏鏡4、全波片5、發(fā)散鏡6和檢偏鏡7，所述光源1射出的光線依次經(jīng)過(guò)聚光鏡2、反光鏡3、起偏鏡4、全波片5、發(fā)散鏡6后照射到被測(cè)試樣8，經(jīng)過(guò)被測(cè)試樣8后進(jìn)入檢偏鏡7，所述被測(cè)試樣8置于臺(tái)面玻璃9上。設(shè)有兩個(gè)聚光鏡2，所述兩個(gè)聚光鏡2之間的距離大于他們的焦距，所述聚光鏡2和光源1之間設(shè)有隔熱片10。