[發明專利]一種干涉型傳感器臂長差的測量裝置有效
| 申請號: | 201410603812.5 | 申請日: | 2014-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN104330104A | 公開(公告)日: | 2015-02-04 |
| 發明(設計)人: | 呂武略;金曉峰;章獻民;鄭史烈;池灝 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G01D18/00 | 分類號: | G01D18/00 |
| 代理公司: | 杭州天勤知識產權代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡紅娟 |
| 地址: | 310027 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 干涉 傳感器 臂長差 測量 裝置 | ||
技術領域
本發明屬于光纖傳感器性能測量技術領域,具體涉及一種干涉型傳感器臂長差的測量裝置。
背景技術
干涉型傳感器是近20年興起的傳感設備,可以直接用于水聲、電流、磁場等物理量的監測。這種類型的傳感器具有靈敏度高、精度高、測量速度快以及抗干擾能力強等特點。干涉型傳感器常見的結構有光纖邁克爾遜干涉儀(如圖1所示)、馬赫-曾德干涉儀(如圖2所示)等;常見的光纖水聽器,光纖磁場計等都是這種結構的傳感器。其主要的工作原理:通常干涉型傳感器具有兩條長度不同的光纖臂,被測信號作用到傳感器,使光纖內傳播的光波相位發生變化,再利用干涉測量技術把兩臂內的相位變化之差轉換成光強,從而檢測出被測信號。由其工作原理看出,干涉型傳感器其兩臂光纖的臂長差決定了傳感器的性能與靈敏度,準確的測量光纖臂長差具有非常重要的意義。
當前用來測量臂長差的方法主要有:時域脈沖法、PGC零差檢測法、白光干涉法、電流調制光源和觀測干涉條紋可見度法、干涉儀干涉譜觀測法、使用精密反射計法。其中時域脈沖法的主要原理為:使用飛秒激光器產生飛秒激光脈沖進入干涉儀,在干涉儀輸出端使用高速信號采集儀,測量經兩臂傳輸的兩個脈沖的時間差,從而計算出臂長差。這個方法要使用飛秒激光發生器和高速信號采集設備,這兩個設備的成本非常高。PGC零差檢測法最初是用來做信號解調的,也有人將其用在臂長差測量上,其主要原理是:使用加直流電壓的方式進行臂長差補償,在傳感器的兩臂加上不同電壓,使得等效的臂長差相同,然后通過計算兩臂的電壓差計算出臂長差;這種方法應用范圍非常有限,它要求要能在被測傳感器兩臂上加電壓,兩光纖臂要對傳感器有響應;要滿足這兩個要求,可能就會破壞傳感器,大部分傳感器都是密封的;加電壓補償也決定了他的測量范圍也比較小。另外白光干涉法的測量原理是:使用白光干涉儀測量,通過調節白光干涉儀里的反射鏡,人為的引入臂長差來補償被測傳感器的臂長差,當完全補償時,輸出信號最大,通過讀取移動距離得到臂長差。其他幾種技術都是基于觀測干涉條紋的方法,通過條紋間距計算得到臂長差。
上述的幾種測量技術共同特點就是全部在光域上完成測量,不僅需要昂貴的精密儀器支持,還需要人工調節;這使得完成一次測量付出的設備成本,時間成本和人工成本比較高。
發明內容
針對現有技術所存在的上述技術問題,本發明提供了一種干涉型傳感器臂長差的測量裝置,不用拉直光纖,直接通過激光測量長度的方法,測量范圍非常大,覆蓋1厘米到1千米的范圍,并且能提供較高的測量精度。
一種干涉型傳感器臂長差的測量裝置,包括:
微波掃頻源,用于產生正弦波形式的射頻信號RF且該射頻信號RF的頻率在掃頻范圍內隨時間單調變化;
功分器,用于對所述的射頻信號RF功率平分,輸出兩路相同的射頻信號RF1~RF2;
寬譜光源,用于產生寬譜激光;
馬赫-曾德強度調制器,用于將射頻信號RF1調制到寬譜激光上,進而將寬譜激光加載至干涉型傳感器輸入端;
直流穩壓電源,用于為馬赫-曾德強度調制器提供直流偏置電壓,通過調節直流偏置電壓的大小,使馬赫-曾德強度調制器工作在線性工作點(即正交偏置點)上;
高速光電探測器,用于將干涉型傳感器輸出端產生的光信號轉換成電信號;
射頻放大器,用于對所述的電信號進行放大,得到射頻信號RF3;
移相器,用于調節射頻信號RF2的相位,使其與射頻信號RF3相位相同;
混頻器,用于對相位相同的兩路射頻信號RF2~RF3進行混頻后輸出中頻信號;
低通濾波器,用于對所述的中頻信號進行濾波;
AD采樣器,用于對濾波后的中頻信號進行采樣;
測量處理器,用于根據采樣得到的中頻信號以及射頻信號RF的頻率,計算出干涉型傳感器的臂長差。
所述的寬譜光源可以采用SLED光源、LED光源、ASE光源或其他干涉長度小于1mm的光源。
所述的馬赫-曾德強度調制器基于鈮酸鋰晶體的電光效應,通過調節直流穩壓電源輸出直流偏置電壓的大小,使馬赫-曾德強度調制器工作在線性工作點上,進而能夠使其強度調制效率最高。
所述的微波掃頻源具有掃頻功能,其掃頻區間長度由要求的最小測量臂長差決定,其對應關系如下:
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于浙江大學,未經浙江大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410603812.5/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





