[發明專利]一種利用超聲相控陣檢測孔型缺陷的定量評價方法在審
| 申請號： | 201410603553.6 | 申請日： | 2014-11-03 |
| 公開（公告）號： | CN104280458A | 公開（公告）日： | 2015-01-14 |
| 發明（設計）人： | 陸銘慧;潘文超;鄧勇;劉勛豐 | 申請（專利權）人： | 南昌航空大學 |
| 主分類號： | G01N29/04 | 分類號： | G01N29/04;G01B17/00 |
| 代理公司： | 南昌洪達專利事務所 36111 | 代理人： | 劉凌峰 |
| 地址： | 330000 江*** | 國省代碼： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 利用 超聲 相控陣 檢測 孔型 缺陷 定量 評價 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種利用超聲相控陣檢測孔型缺陷的定量評價方法，其特征在于方法步驟如下：
（1）采用多陣元的陣列式換能器對帶有孔型缺陷的樣品進行檢測；
（2）采集到反射回波聲程?QUOTE????????????????????????????????????????????????，衍射回波聲程?QUOTE?和爬波傳播的距離?QUOTE??；
（3）反射回波聲程與衍射回波聲程的聲程差在數值上等于孔型缺陷周長的一半，孔型缺陷的直徑為?QUOTE??，即：
?QUOTE??；
（4）通過計算得到孔型缺陷的直徑?QUOTE?，即：
?QUOTE??。
2.如權利要求1所述的一種利用超聲相控陣檢測孔型缺陷的定量評價方法，其特征在于：所述步驟（4），對孔型缺陷的直徑?QUOTE?進行修正，K為修正系數，K=0.85-1.05，則修正后孔型缺陷的直徑?QUOTE?：
?QUOTE?。
3.如權利要求2所述的一種利用超聲相控陣檢測孔型缺陷的定量評價方法，其特征在于：被檢測樣品為金屬材料，所述K=0.85-1。
4.如權利要求2所述的一種利用超聲相控陣檢測孔型缺陷的定量評價方法，其特征在于：被檢測樣品為非金屬材料，所述K=1-1.05。
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