[發(fā)明專利]支撐單元以及包括其的基板處理裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410601401.2 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104600019A | 公開(公告)日: | 2015-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李元行;河剛來 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 細(xì)美事有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/687 | 分類號(hào): | H01L21/687;H01L21/67;H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 呂琳;楊生平 |
| 地址: | 韓國(guó)忠清*** | 國(guó)省代碼: | 韓國(guó);KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 支撐 單元 以及 包括 處理 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種基板處理裝置,更詳細(xì)地說,涉及一種利用等離子體的基板處理裝置。
背景技術(shù)
為了制造半導(dǎo)體元件,對(duì)基板執(zhí)行照相平板印刷(photolithography)、蝕刻、灰化(ashing)、離子注入、薄膜沉積以及洗滌等多種工序而在基板上形成所需的圖案。其中,蝕刻工序作為除去形成在基板上的膜中的被選擇的區(qū)域的工序而使用濕式蝕刻和干式蝕刻。
其中,為了進(jìn)行干式蝕刻,使用利用了等離子體的蝕刻裝置。一般來說,為了形成等離子體,要在腔室的內(nèi)部空間形成電磁場(chǎng),而電磁場(chǎng)將提供到腔室內(nèi)的工藝氣體激發(fā)為等離子體狀態(tài)。
等離子體是指由離子或電子、原子團(tuán)等構(gòu)成的離子化的氣體狀態(tài)。等離子體通過很高的溫度或強(qiáng)電場(chǎng)或高頻電磁場(chǎng)(RF?Electromagnetic?Fields)而生成。半導(dǎo)體元件制造工序中使用等離子體執(zhí)行蝕刻工序。通過等離子體含有的離子粒子與基板碰撞而執(zhí)行蝕刻工序。
一般來說,靜電吸盤包括支撐板和金屬材質(zhì)的機(jī)體。支撐板與機(jī)體通過硅樹脂(silicone)或丙烯酸等有機(jī)粘結(jié)劑(bonder)進(jìn)行相互接合。但是,硅樹脂雖然耐熱性優(yōu)秀,但是熱阻較低。因此,雖然不會(huì)由于在基板處理工序中產(chǎn)生的熱而受到損傷,但存在不能有效地阻斷熱在機(jī)體與支撐板之間移動(dòng)的問題。丙烯酸雖然熱阻優(yōu)秀,但是耐熱性存在問題。雖然丙烯酸能在支撐板與機(jī)體之間防止熱損耗,但是,存在會(huì)由于在基板處理工序中產(chǎn)生的熱而受到損傷的問題。
如上所述,當(dāng)前使用的有機(jī)粘結(jié)劑會(huì)由于耐熱性降低而產(chǎn)生靜電吸盤溫度不均,從而造成壽命降低,以及工序溫度上升有限,并且還存在在執(zhí)行高溫工序的過程中有機(jī)粘結(jié)劑化掉的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題
本發(fā)明的目的在于,提供一種在基板處理工序中使用的靜電吸盤的內(nèi)部的耐熱性優(yōu)秀的支撐單元的制造方法以及包括該支撐單元的基板處理裝置。
本發(fā)明要解決的問題不限定于上述的課題,根據(jù)本說明書以及附圖,本發(fā)明所屬領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)能清楚地理解尚未提及的技術(shù)。
技術(shù)方案
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)側(cè)面,提供一種支撐單元制造方法,該制造方法提供:由非導(dǎo)電性材質(zhì)構(gòu)成并支撐基板的支撐板;以及配置在所述支撐板的下方并由包括導(dǎo)電性物質(zhì)的材質(zhì)構(gòu)成的底板,在所述支撐板的底面沉積金屬膜,通過銅焊來結(jié)合所述金屬膜與所述底板。
此外,可以在所述支撐板與所述底板之間提供金屬材質(zhì)的填料,將所述填料作為媒介進(jìn)行結(jié)合。
此外,為了最小化由底板與所述支撐板的熱膨脹率差異而造成的熱應(yīng)力,所述底板可以為在所述導(dǎo)電性物質(zhì)中混合添加物質(zhì)的導(dǎo)電性復(fù)合材質(zhì)。
此外,所述導(dǎo)電性物質(zhì)包括鈦(Ti)或Al(鋁),所述添加物質(zhì)可以包括碳化硅(SiC)、氧化鋁(Al2O3)、硅(Si)、石墨(Graphite)、玻璃纖維中的任意一種。
此外,所述添加物質(zhì)可以是熱膨脹率比所述導(dǎo)電性物質(zhì)與所述支撐板的材質(zhì)間的熱膨脹率的差異小的物質(zhì)。
此外,所述導(dǎo)電性復(fù)合物質(zhì)可以包括10-70%的所述添加物質(zhì)。
此外,所述金屬膜可以通過真空沉積或鍍覆而沉積在所述支撐板的底面。
此外,所述金屬膜可以是鈦(Ti)、鎳(Ni)、銀(Ag)中的任意一種。
此外,關(guān)于所述金屬膜的底面或所述底板的上表面或金屬沉積膜的形態(tài),為了最小化由熱膨脹而造成的應(yīng)力提供有凹凸部,所述凹凸部可以提供為網(wǎng)孔(mesh)形態(tài)或壓紋形態(tài)。
此外,所述填料可以包括鋁(Al)。
此外,可以在所述填料內(nèi)提供有在高溫加熱時(shí)緩沖熱膨脹的金屬網(wǎng)。
此外,所述金屬網(wǎng)可以具有20~80%的孔隙率。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)側(cè)面,提供一種基板支撐單元,其包括:包括用靜電力吸附基板的電極,在底面沉積有金屬膜的非傳導(dǎo)性材質(zhì)的支撐板;以及位于所述支撐板的下部,連接有高頻電源,并通過銅焊與所述金屬膜結(jié)合的底板。
此外,關(guān)于所述金屬膜的底面或所述底板的上表面或金屬沉積膜的形態(tài),為了最小化由熱膨脹而造成的應(yīng)力提供有凹凸部,所述凹凸部可以提供為網(wǎng)孔形態(tài)或壓紋形態(tài)。
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 接收裝置以及接收方法、以及程序
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- 隱匿檢索系統(tǒng)以及公開參數(shù)生成裝置以及加密裝置以及用戶秘密密鑰生成裝置以及查詢發(fā)布裝置以及檢索裝置以及計(jì)算機(jī)程序以及隱匿檢索方法以及公開參數(shù)生成方法以及加密方法以及用戶秘密密鑰生成方法以及查詢發(fā)布方法以及檢索方法
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- ENB以及UEUL發(fā)送以及接收的方法
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