[發(fā)明專利]一種基于近紅外提高鑒別結(jié)果的定性分析方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410599230.4 | 申請日: | 2014-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN104374738A | 公開(公告)日: | 2015-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張麗萍;李衛(wèi)軍;董肖莉;覃鴻 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學院半導體研究所 |
| 主分類號: | G01N21/359 | 分類號: | G01N21/359 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 紅外 提高 鑒別 結(jié)果 定性分析 方法 | ||
1.一種基于近紅外提高鑒別結(jié)果的定性分析方法,其特征在于,該方法包括:
步驟1:采集樣本的近紅外光譜數(shù)據(jù),并確定建模集和測試集;
步驟2:對建模集和測試集依次進行預處理、偏最小二乘特征提取和正交線性鑒別特征提取;
步驟3:采用直接模型傳遞方法計算建模集和測試集之間的光譜變換矩陣,并校正剩余測試集;
步驟4:建立定性分析模型;
步驟5:利用建立的定性分析模型對剩余測試集進行定性鑒別。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于近紅外提高鑒別結(jié)果的定性分析方法,其特征在于,步驟1中所述采集樣本的近紅外光譜數(shù)據(jù),是采用近紅外光譜儀在不同時間采集樣本的近紅外光譜數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于近紅外提高鑒別結(jié)果的定性分析方法,其特征在于,步驟1中所述確定建模集和測試集,是將在同一天采集的光譜數(shù)據(jù)作為建模集,建模集是用來建立定性分析模型的原始建模數(shù)據(jù);將不同采集日期采集的近紅外光譜數(shù)據(jù)作為不同的測試集,測試集是用來鑒別種子品種真實性的原始測試數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于近紅外提高鑒別結(jié)果的定性分析方法,其特征在于,步驟2中所述對建模集和測試集依次進行預處理、偏最小二乘特征提取和正交線性鑒別特征提取,具體包括:
步驟21:對建模集和測試集的原始數(shù)據(jù)用相同的預處理方法及相同的參數(shù)進行預處理;
步驟22:對經(jīng)過預處理之后的建模集數(shù)據(jù)進行偏最小二乘特征提取,得到偏最小二乘特征矩陣,以利用該矩陣將數(shù)據(jù)變換到偏最小二乘空間;
步驟23:利用得到的偏最小二乘特征矩陣,將經(jīng)過預處理之后的建模集和測試集數(shù)據(jù)變換到偏最小二乘空間中;
步驟24:對經(jīng)過偏最小二乘特征提取之后的建模集數(shù)據(jù)進行正交線性鑒別分析特征提取,得到正交線性鑒別分析特征矩陣;
步驟25:利用得到的正交線性鑒別分析特征矩陣,將經(jīng)過偏最小二乘特征提取之后的建模集和測試集數(shù)據(jù)變換到正交線性鑒別分析空間中;
步驟26:利用變換到正交線性鑒別分析空間中的建模集數(shù)據(jù)進行建模,用變換到線性鑒別分析空間中的測試集數(shù)據(jù)進行鑒別。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于近紅外提高鑒別結(jié)果的定性分析方法,其特征在于,步驟2中所述的預處理、偏最小二乘特征提取和正交線性鑒別分析特征提取,在對建模集和測試集處理時采用相同的參數(shù)。
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G01N 借助于測定材料的化學或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





