[發明專利]一種個性化楦底曲面設計方法及帶蹺足底數據采集裝置有效
| 申請號: | 201410587860.X | 申請日: | 2014-10-19 |
| 公開(公告)號: | CN104432978A | 公開(公告)日: | 2015-03-25 |
| 發明(設計)人: | 施凱 | 申請(專利權)人: | 溫州職業技術學院 |
| 主分類號: | A43D3/02 | 分類號: | A43D3/02;A43D1/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 325035 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 個性化 曲面 設計 方法 足底 數據 采集 裝置 | ||
1.一種個性化楦底曲面設計方法,包括步驟如下:
1)足底曲面形狀采集:運用帶蹺足底數據采集裝置,選用樣跟,將足底與樣跟上表面及前掌定型海棉體接觸,使身體直立站姿狀態,身體重力于樣跟上表面及前掌定型海棉體上,在其表面形成個體足底曲面形狀;
2)前蹺數據獲取:在前掌定型海棉體的第一跖趾印上,找到與水平面的接觸前端點,將前蹺標尺本身底觸點與其接觸,放下前蹺測量尺,將前蹺測量尺前端點放至前掌定型海棉體的第一跖趾印前端點處,在前蹺數據盤上讀取蹺度數據;
3)腳長數據獲取:使用軟尺量取前掌定型海棉體腳趾印前端點到樣跟上表面足跟后端點曲線距離數據,得到腳長數據;
4)橫弓數據獲取:在前掌定型海棉體上,分別用探針測量第一跖趾邊沿部位點、第五跖趾邊沿部位點的印深,量取第一、五跖趾的斜寬數據,并測取第一、五跖趾弧底點水平距第一跖趾邊沿部位點數據;
5)足跟數據獲取:在樣跟上表面上,測量踵心全寬數據,測量樣跟高度,得到足跟高度數據;
6)制取個性化楦底樣橫弓卡板:在水平線上,取兩點,分別是:卡板第一跖趾邊沿部位垂點和卡板第五跖趾邊沿部位垂點,使兩點之間距離為斜寬數據,在兩點之間取一點,是卡板前掌凸度點,使卡板前掌凸度點距卡板第一跖趾邊沿部位垂點的距離為第一、五跖趾弧底點水平距第一跖趾邊沿部位點數據,分別做卡板第一跖趾邊沿部位垂點和卡板第五跖趾邊沿部位垂點的垂線,長度分別是第一、第五跖趾邊沿部位點的印深,分別得到卡板第一跖趾邊沿部位點和卡板第五跖趾邊沿部位點,將卡板第一跖趾邊沿部位點、卡板前掌凸度點和卡板第五跖趾邊沿部位點用弧線連接,得到個性化楦底樣橫弓線,以該線為基礎向周邊擴展15mm-25mm,得到個性化楦底樣橫弓卡板邊沿線,沿個性化楦底樣橫弓卡板邊沿線切割后,得到個性化楦底樣橫弓卡板;
7)加工個性化楦底曲面:使用腳長數據加15mm-40mm得到個性化楦底曲面縱向長度,使用踵心全寬數據得到個性化楦底曲面后跟寬度,使用足跟高數據得到個性化楦底曲面后蹺高度,使用個性化楦底樣橫弓卡板制作個性化楦底曲面前掌部位,后將個性化楦底曲面整體拋光,得到完整的個性化楦底曲面。
2.根據權利要求1所述的一種個性化楦底曲面設計方法,其特征是所述選用樣跟是根據穿用鞋品跟高習慣,確定相近高度的樣跟。
3.根據權利要求1所述的一種個性化楦底曲面設計方法,其特征是所述足底曲面形狀采集是分別采集左足底曲面形狀和右足底曲面形狀。
4.根據權利要求1所述的一種個性化楦底曲面設計方法,其特征是所述用探針測量第一跖趾邊沿部位點、第五跖趾邊沿部位點的印深是將探針分別垂直插入前掌定型海棉體上的第一跖趾邊沿部位點和第五跖趾邊沿部位點,并獲取探針插入部分數據。
5.根據權利要求1所述的一種個性化楦底曲面設計方法,其特征是所述個性化楦底樣橫弓線為分內側橫弓線和外側橫弓線,所述內側橫弓線為1/4圓弧或小于1/4圓弧,所述外側橫弓線為1/12圓弧或大于1/12圓弧。
6.一種帶蹺足底數據采集裝置,包括:樣跟、前掌定型海棉體、前蹺標尺、探針、軟尺,其中,樣跟上部有樣跟定型海棉體,前蹺標尺由前蹺標尺本身、前蹺測量尺和前蹺數據盤構成,前蹺標尺本身底觸點與前蹺測量尺通過活動桿連接,前蹺數據盤位于前蹺測量尺上,探針為金屬椎體,軟尺表面印有長度尺寸讀數,其特征在于:所述樣跟定型海棉體厚度為2mm,所述探針頂端直徑為1.2mm,長度為65mm-80mm,所述前掌定型海棉體厚度為10mm-15mm。
7.根據權利要求6所述的一種帶蹺足底數據采集裝置,其特征是所述樣跟高度分別為:25mm、45mm、55mm、65mm、75mm。
8.根據權利要求6所述的一種帶蹺足底數據采集裝置,其特征是所述前蹺數據盤為半圓形,表面印有角度讀數。
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