[發(fā)明專利]用于借助測(cè)試環(huán)境測(cè)試控制器的系統(tǒng)和方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410587570.5
• 申請(qǐng)日: 2014-10-28
• 公開（公告）號(hào): CN104572370B
• 公開（公告）日: 2019-07-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: M·森夫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 帝斯貝思數(shù)字信號(hào)處理和控制工程有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038
• 代理人: 俞海舟

1.用于借助測(cè)試環(huán)境(2)測(cè)試控制器(1)的系統(tǒng)，包括：

基于計(jì)算機(jī)的測(cè)試管理工具(5)，所述測(cè)試管理工具(5)被設(shè)計(jì)為用于基于模型地開發(fā)和/或管理至少一個(gè)設(shè)計(jì)為數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的、用于測(cè)試控制器(1)的測(cè)試計(jì)劃(3)并且所述測(cè)試計(jì)劃(3)具有至少一個(gè)測(cè)試(6)和用于啟動(dòng)實(shí)施測(cè)試計(jì)劃(3)的啟動(dòng)條件(8)，

基于計(jì)算機(jī)的測(cè)試實(shí)施控制工具(4)，其中，所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)被設(shè)計(jì)為在滿足啟動(dòng)條件(8)時(shí)用于在測(cè)試環(huán)境(2)上啟動(dòng)實(shí)施測(cè)試計(jì)劃(3)，以及

基于計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)(9)，其中，所述數(shù)據(jù)庫(kù)(9)被設(shè)計(jì)為用于存儲(chǔ)設(shè)計(jì)為數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的測(cè)試計(jì)劃(3)并且設(shè)計(jì)成用于通過(guò)測(cè)試管理工具(5)和測(cè)試實(shí)施控制工具(4)共同、同時(shí)地存取測(cè)試計(jì)劃(3)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)和所述測(cè)試管理工具(5)被設(shè)置于在空間上彼此遠(yuǎn)離的并且相應(yīng)自身的彼此獨(dú)立的計(jì)算機(jī)上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)和所述測(cè)試管理工具(5)被設(shè)置于在空間上彼此遠(yuǎn)離至少5米的計(jì)算機(jī)上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中，所述啟動(dòng)條件(8)包括測(cè)試環(huán)境(2)的時(shí)間、優(yōu)先權(quán)、可用性和/或另一測(cè)試計(jì)劃(3)的完成。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)被設(shè)計(jì)為用于將通過(guò)測(cè)試計(jì)劃(3)測(cè)試的控制器(1)的通過(guò)測(cè)試環(huán)境(2)獲得的測(cè)試數(shù)據(jù)返還給數(shù)據(jù)庫(kù)(9)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，具有多個(gè)測(cè)試實(shí)施控制工具(4)，其中，每個(gè)測(cè)試實(shí)施控制工具(4)被設(shè)置為用于在配設(shè)于相應(yīng)的測(cè)試實(shí)施控制工具(4)的測(cè)試環(huán)境(2)上啟動(dòng)實(shí)施相應(yīng)的測(cè)試計(jì)劃(3)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，包括測(cè)試環(huán)境(2)，其中，所述測(cè)試環(huán)境(2)被設(shè)計(jì)為用于啟動(dòng)實(shí)施測(cè)試計(jì)劃(3)并且所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)在空間上配置給測(cè)試環(huán)境(2)地設(shè)置在測(cè)試環(huán)境(2)上。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試環(huán)境(2)被設(shè)計(jì)為模型在環(huán)、軟件在環(huán)、處理器在環(huán)和/或硬件在環(huán)的環(huán)境。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試環(huán)境(2)被設(shè)計(jì)為模型在環(huán)、軟件在環(huán)、處理器在環(huán)和/或硬件在環(huán)的環(huán)境。

10.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試計(jì)劃(3)包括變量配置(11)并且所述測(cè)試管理工具(5)被設(shè)計(jì)為用于針對(duì)測(cè)試計(jì)劃(3)檢查變量的一致性，和/或所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)被設(shè)計(jì)為用于在實(shí)施測(cè)試計(jì)劃(3)之前與變量配置(11)相對(duì)應(yīng)地配置測(cè)試環(huán)境(2)。

11.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)和所述測(cè)試管理工具(5)被設(shè)置于在空間上彼此遠(yuǎn)離至少10米的計(jì)算機(jī)上。

12.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)和所述測(cè)試管理工具(5)被設(shè)置于在空間上彼此遠(yuǎn)離至少20米的計(jì)算機(jī)上。

13.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)和所述測(cè)試管理工具(5)被設(shè)置于在空間上彼此遠(yuǎn)離至少50米的計(jì)算機(jī)上。

14.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試實(shí)施控制工具(4)和所述測(cè)試管理工具(5)被設(shè)置于在空間上彼此遠(yuǎn)離至少100米的計(jì)算機(jī)上。