[發明專利]高溫錯位相關系統

有效

• 申請號: 201410584450.X
• 申請日: 2014-10-27
• 公開（公告）號: CN104330044B
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 謝惠民;王懷喜;吳立夫
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01B11/16
• 分類號: G01B11/16
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙)11201
• 代理人: 張大威

1.一種高溫錯位相關系統，其特征在于，包括：

至少一個加載裝置；

高溫爐，所述高溫爐具有觀察窗，所述加載裝置各個部分嵌入在所述高溫爐內，以使外置光進入所述高溫爐內，并使標記點成像在CCD靶面上；

測試樣本，所述測試樣本表面制作有高溫標記點，所述測試樣本放置在所述高溫爐內且兩端與所述加載裝置相連，其中，所述高溫標記點可承受的最高溫度為1400℃，所述高溫標記點的形狀通過平均灰度梯度評價和圖像數值平移優化設計，其中，所述高溫標記點的制作過程為：設計不同形狀的標記點，并數值平移標記點圖像，通過位移相對誤差比較圖和平均灰度梯度值比較圖優化出最佳標記點的形狀，通過制模、光刻、顯影和鍍高溫介質膜的方式生成高溫標記點，其中，所述平均灰度梯度可通過下式計算：

${\mathrm{\δ}}_g=\underset{i=1}{\overset{M}{\Σ}}\underset{j=1}{\overset{N}{\Σ}}\left|g\left(x_{ij}\right)\right|/(M\×N),$

其中，M和N為散斑圖的高度和寬度，其單位均為像素，x_ij表示某一像素點，i和j分別表示該像素點位于數字圖像的第i行第j列，g(x_ij)為局部灰度梯度向量；

遠心錯位成像鏡頭，用于將所述高溫標記點錯位并成像，所述遠心錯位成像鏡頭包括鏡筒、凹透鏡、凸透鏡、光闌以及楔形鏡，其中，根據測試對象的變形要求選取適當錯位置的楔形鏡，使高溫標記點成像到同一個CCD靶面內；以及

數字成像設備，所述數字成像設備與所述遠心錯位成像鏡頭相連，所述數字成像設備包括靶面，所述靶面用于采集所述圖像。

2.根據權利要求1所述的高溫錯位相關系統，其特征在于，通過數字相關方法計算標記點的相對位移，以得到所述測試樣本的應變信息。

3.根據權利要求2所述的高溫錯位相關系統，其特征在于，具體包括：

根據所述數字成像設備的靶面得到測試樣本圖像，并分別計算標記點A_上和A_下的位移量和則測試樣本的應變信息通過以下公式計算：