[發(fā)明專利]具有高數(shù)據(jù)安全性的平板電腦在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410582417.3 | 申請日: | 2014-10-27 |
| 公開(公告)號: | CN104317362A | 公開(公告)日: | 2015-01-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙曉巖 | 申請(專利權(quán))人: | 北京同方時(shí)訊電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F1/16 | 分類號: | G06F1/16;G06F12/14;G06F21/32 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 曹玲柱 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 數(shù)據(jù) 安全性 平板 電腦 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及信息安全技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種具有高數(shù)據(jù)安全性的平板電腦。
背景技術(shù)
平板電腦(Tablet?Personal?Computer,簡稱Tablet?PC)是PC家族中新增加的一名成員,集移動(dòng)通信和移動(dòng)娛樂為一體,具有手寫識別和無線網(wǎng)絡(luò)通信功能,是一種小型、方便攜帶的個(gè)人電腦,以觸摸屏作為基本的輸入設(shè)備,比之筆記本電腦,它除了擁有其所有功能外,還支持手寫輸入或者語音輸入,移動(dòng)性和便攜性都更勝一籌。平板電腦的便攜性以及功能已經(jīng)為人們深刻認(rèn)識并且成為推動(dòng)社會(huì)發(fā)展的首要技術(shù)動(dòng)力,以其諸多優(yōu)點(diǎn),受到最終用戶的歡迎,是現(xiàn)階段PC電腦的發(fā)展方向。
隨著社會(huì)經(jīng)濟(jì)的迅速發(fā)展和科學(xué)技術(shù)的全面進(jìn)步,對平板電腦的應(yīng)用范圍要求將越來越廣泛,目前平板電腦的應(yīng)用主要集中在游戲、影音娛樂等方面。
然而,對于一些特殊用戶,如軍隊(duì)、軍工、國家安全部門、政府機(jī)關(guān),而言,數(shù)據(jù)安全極為重要。一旦平板電腦遺失發(fā)生數(shù)據(jù)泄漏,后果將不堪設(shè)想。而在目前平板電腦應(yīng)用越來越普遍的情況下,有些工作又必須要用平板電腦來完成。目前,這些特殊用戶急需一種具有高數(shù)據(jù)安全性的平板電腦。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題
鑒于上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種具有高數(shù)據(jù)安全性的平板電腦。
(二)技術(shù)方案
本發(fā)明具有高數(shù)據(jù)安全性的平板電腦包括:數(shù)據(jù)自毀裝置。當(dāng)平板電腦遭遇非法開啟外殼或破殼的行為時(shí),該數(shù)據(jù)自毀裝置實(shí)現(xiàn)對平板電腦內(nèi)的數(shù)據(jù)存儲芯片和/或數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)的物理性破壞。
優(yōu)選地,本發(fā)明平板電腦中,數(shù)據(jù)自毀裝置包括:自毀觸發(fā)電路,當(dāng)平板電腦遭遇非法開啟外殼或破殼的行為時(shí),該自毀觸發(fā)電路觸發(fā)一自毀觸發(fā)信號;與自毀觸發(fā)電路電性連接的自毀執(zhí)行電路,在接收到自毀觸發(fā)信號后,該自毀執(zhí)行電路向平板電腦內(nèi)的數(shù)據(jù)存儲芯片和/或數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)引入直流脈沖高壓,以實(shí)現(xiàn)對其的物理性破壞;以及為自毀執(zhí)行電路提供電能的電池供電系統(tǒng)。
優(yōu)選地,本發(fā)明平板電腦中,自毀觸發(fā)電路包括:若干個(gè)串聯(lián)的位于敏感部位的開關(guān)。該開關(guān)由上觸點(diǎn)和下觸點(diǎn)構(gòu)成,其中,上觸點(diǎn)位于平板電腦上殼體的一敏感部位,下觸點(diǎn)位于平板電腦下殼體上該敏感部位的相應(yīng)部位,在正常狀態(tài)下,該上觸點(diǎn)和下觸點(diǎn)電接觸,該開關(guān)處于閉合狀態(tài),在該敏感部位遭遇非法開啟外殼或破殼的行為,該上觸點(diǎn)和下觸點(diǎn)脫離接觸,該開關(guān)處于斷開狀態(tài)。
優(yōu)選地,本發(fā)明平板電腦中,自毀觸發(fā)電路包括至少3個(gè)的開關(guān)。敏感部位包括:平板電腦的四個(gè)邊角、側(cè)邊,或數(shù)據(jù)存儲芯片和/或數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)的所在位置。
優(yōu)選地,本發(fā)明平板電腦中,自毀執(zhí)行電路包括:檢測模塊、升壓模塊以及脈沖控制模塊;與自毀觸發(fā)電路連接的檢測模塊,在未檢測到自毀觸發(fā)信號時(shí),該檢測模塊將電池供電系統(tǒng)與升壓模塊和脈沖控制電路隔離;在接收到自毀觸發(fā)電路的自毀觸發(fā)信號以后,該檢測模塊連通電池供電系統(tǒng)與升壓模塊和脈沖控制模塊;連接至檢測模塊的升壓模塊,在連通電池供電系統(tǒng)后,該升壓模塊產(chǎn)生直流高電壓,并輸出給脈沖控制電路;連接至升壓模塊的脈沖控制模塊,在接收升壓模塊輸出的直流高電壓后,該脈沖控制模塊將該直流高電壓轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷髅}沖電壓,加至數(shù)據(jù)存儲芯片及和/或數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)的引腳,以實(shí)現(xiàn)對其的物理性破壞。
優(yōu)選地,本發(fā)明平板電腦中,檢測模塊包括:第十一電阻R11,其第一端連接至節(jié)點(diǎn)A,第二端連接至電源電壓VBATTERY;第十二電阻R12,連接于節(jié)點(diǎn)A和節(jié)點(diǎn)B之間,其中,節(jié)點(diǎn)B接地;第十一三極管Q11,其基極通過第十三電阻R13連接至節(jié)點(diǎn)A;其集電極通過第四電阻R4連接至電源電壓VBATTERY;其發(fā)射極接地;第十二P溝道MOS管M12,其G管腳通過第十五電阻R15連接至第十一三極管Q11的集電極,其S管腳連接至電源VBATTERY;其D管腳連接至檢測模塊的輸出端;第十一電容C11,連接于節(jié)點(diǎn)A和節(jié)點(diǎn)B之間;其中,電源電壓VBATTERY連接至電池供電系統(tǒng)的輸出端;節(jié)點(diǎn)A和節(jié)點(diǎn)B連接至自毀觸發(fā)電路的兩輸出端。
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