[發明專利]一種電壓-透過率曲線的測試方法有效

申請號：	201410575014.6	申請日：	2014-10-23
公開（公告）號：	CN104282249A	公開（公告）日：	2015-01-14
發明（設計）人：	劉冬	申請（專利權）人：	京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
主分類號：	G09G3/00	分類號：	G09G3/00;G09G3/36
代理公司：	北京中博世達專利商標代理有限公司 11274	代理人：	申健
地址：	100015 ***	國省代碼：	北京;11
權利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關鍵詞：	一種電壓透過曲線測試方法
鉆瓜網技術展會專利詞庫專利權人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【說明書】：

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種電壓-透過率曲線的測試方法。

背景技術

在液晶顯示裝置的顯示過程中，像素的亮度與數據線輸入的數據電壓之間具有非線性關系，使得數據線輸入的數據電壓不能準確地再現為像素的亮度，因此，需要通過伽馬校正的方法校正數據電壓與像素的亮度之間的關系。

在伽馬校正的過程中，需要先測試電壓-透過率曲線(Voltage-Transmittance?Curve，簡稱VT曲線)，其中，透過率為像素的實際亮度與像素的最大亮度之間的比值，然后以該曲線作為參照來進行伽馬校正。目前，測試VT曲線的方法包括：首先，在數據線上施加呈臺階狀遞增或遞減的數據電壓，其中，每個臺階持續的時間大于一幀時間；其次，測試每個臺階對應的像素的亮度；最后，計算每個臺階對應的像素的亮度與整個測試過程中像素的最大亮度之間的比值，從而得到電壓-透過率曲線。

發明人發現，上述測試方法中使用的數據電壓的每個臺階持續的時間大于一幀時間，使得一幀時間內數據線上的數據電壓相同，且與像素電極上的電壓相同，使得數據線連接的薄膜晶體管無漏電流，但實際顯示過程中，一幀時間內數據線上的數據電壓不同，與像素電極之間存在壓差，使得數據線連接的薄膜晶體管存在漏電流，因此，上述VT曲線測試方法未考慮到漏電流對透過率的影響，從而使得參照該曲線進行伽馬校正的效果不理想。

發明內容

本發明的實施例提供一種VT曲線的測試方法，解決了VT曲線不包括漏電流因素的影響的問題。

為達到上述目的，本發明的實施例采用如下技術方案：

一種電壓-透過率曲線的測試方法，包括：

向數據線輸入數據信號，每一幀時間內的數據信號包括至少兩個大小不同的數據電壓。

進一步地，至少一個數據電壓的電壓值隨著幀數的增加而改變。

優選地，至少一個數據電壓的電壓值隨著幀數的增加呈階梯狀增加或減少。

優選地，所述數據電壓的電壓值逐幀呈階梯狀增加或者減少；或者，所述數據電壓的電壓值每隔至少兩幀呈階梯狀增加或者減少一次。

所述數據電壓的電壓值每次增加或者減少的數值相同。

優選地，每個所述數據電壓的持續時間大于所述數據線連接的像素的最小充電時間。

示例性地，每一幀時間內的所述數據信號包括兩個大小不同的第一數據電壓和第二數據電壓，所述第一數據電壓和所述第二數據電壓各持續半幀時間；

所述第一數據電壓先由一最小值逐幀呈階梯狀遞增至公共電壓值，再由公共電壓值逐幀呈階梯狀遞增至一最大值，所述第二數據電壓的電壓值不變。